Joule Yacht 热电参数测试系统 Namicro-3LT

Namicro-3LT采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。

Namicro-3LT主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi₂Te₃、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe₂、GeTe、Ag_1-xCuS、Cu₂ZnSnSe₄等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。

热电参数测试系统产品特点

　　●   拥有独立知识产权，获得多项技术专利。

　　●   采用动态法测量Seebeck系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。

　　●   热电偶不直接和样品接触，避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。

　　●   炉壳过温报警，自动断电保护。

　　●   友好的软件界面，操作简单，实时显示采集数据、测试状态和结果，采用智能化数据存储及处理算法。

热电参数测试系统测试实例

1、康铜样品三次测试数据与美国AIP标准数值对比

 2、Namicro-3LT、ZEM-3对N型Bi2Te3测试结果对比

 3、Namicro-3LT、ZEM-3对P型Bi2Te3测试结果对比

4、Namicro-3LT、ZEM-3对MgSi测试结果对比（太原理工提供样品）

热电参数测试系统技术参数

热电参数测试系统样品要求

块体：具备平整上下端即可

若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面抛光，使材料裸露出来，保证接触良好

热电参数测试系统技术原理

动态测量法

测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差，测量样品两端热电势变化，温差?T和热电势之间呈线性关系，其斜率即为seebeck系数。

四探针法

即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。