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核心参数
仪器种类： 激光闪点法
产地类别： 进口
外形尺寸（L×W×H）： 600mm*500mm*900mm
精确度： ±3%
导热系数测试范围： 0.1W/(m·K) ... 2000W/(m·K)
重复性： ±2%
系统所使用的全新的红外传感器技术使得用户甚至可以在 -125°C 的低温下测量样品背部的温升曲线。
仪器既可使用内置的自动样品切换器在一次升温中对多个较小的样品进行测量，也可单独测量较大的样品（最大直径 25.4mm）。
真空密闭系统使得仪器可以在多种用户可选的气氛中进行测量。
样品支架、炉体与检测器的垂直式排布方便了样品的放置与更换，同时使得检测信号拥有最佳的信噪比。
LFA 457 是最强大与灵活的 LFA 系统，适用于包括汽车制造、航空航天与能源技术在内的各种领域的常规材料与新型高性能材料的表征。
LFA 457 MicroFlash® - 技术参数
• 激光源：Nd:Glass 激光，能量可调
• 导热系数： 0.1 ... 2000W/mK
• 真空度： 10-2 mbar
• 样品尺寸：方形 8 x 8mm，10 x 10mm 圆形 ?6mm，?10mm，?12.7mm，?25.4mm 厚度 0.1 … 6mm
• 测试气氛： 真空、惰性或反应气体
• 支架类型： 石墨、氧化铝、碳化硅
• 样品形态： 固体、液体、粉末、薄膜
• 自动进样器：1 或 3 个样品位
LFA 部分软件功能：
• 精确的脉冲宽度修正与脉冲能量积分。
• 热损耗修正。
• 集成了所有传统模型。
• 使用非线性回归进行 Cowan 拟合。
• 改进的 Cape-Lehmann 模型，使用非线性回归，将多维热损耗纳入计算。
• 对于半透明样品的辐射修正。
• 二层与三层结构样品：通过非线性回归方式进行拟合，并将热损耗纳入计算。
• 计算多层样品的接触热阻。
• 比热测量：使用已知比热的标样、通过比较法进行计算。
• 内置数据库。
LFA 457 MicroFlash® - 应用实例
使用配有低温系统的 LFA 457 对多晶石墨进行了测试，测试曲线上材料在室温附近导热系数达到最大，一般解释为由于该材料的 Debye 温度较高（> 1000 K）所致。在峰值右侧的高温区域，热扩散系数随温度上升而下降得比较快，主导了该区域的导热系数变化的趋势。峰值左侧的低温区则比热下降的非常快，这主导了低温下该材料的导热系数随温度变化的趋势。
聚碳酸酯（PC）是一种非常常见的聚合物材料，常用于电动工具包装。为了通过有限元素模拟的方法以优化生产／模制工艺，需要知道它的热物性参数。如果使用 LFA 457 的熔融样品容器，则不仅能测得固态下、也能测得玻璃化转变温度以上（> 140°C）的材料的热扩散系数。若已知密度与比热数据（可用 DSC 测试），则可计算得到导热系数。此外，在比热曲线与热扩散曲线上还可以看到玻璃化转变（在导热系数曲线上则无法看到这一类似于二级相变的转变过程）。
本例中，硅片的物理性质由 LFA 457 MicroFlash® 测试。从 -100℃ 到 500℃，导热性能和热扩散系数持续降低。
比热值用 DSC 204 F1 Phoenix® 测定。数据点的标准偏差小于 1 %。
下图为 AgPb18Te20 150 oC到370 oC温度范围内的导热系数测试结果。晶格导热系数可以根据测试得到的导热系数计算得到。AgPb18Te20的总导热系数(λtot) 和晶格导热系数(λlatt) 呈现出温度依赖性。
插图为 Ag1-xPb18BiTe20 (x = 0, 0.3) 和 AgPb18BiTe20 (用 + 表示) 的导热系数温度依赖性比较。
在碲化铅材料 PbTe-Ge 和 PbTe-Ge1-xSix 中，通过调整 Ge 和 Si 的含量可以很容易调节合金的导热系数。
下图结果是在 25℃ 到 320℃ 温度范围内获得。图A 显示 Ge 不同的含量对 PbTe 的晶格导热系数有很大的影响。在整个温度范围内，随着 Ge 含量的降低，晶格导热系数降低。另外，在上述体系加入 Si 元素后，晶格导热系数进一步降低（图B）。当 Ge 和 Si 的混合比例不变，将 Ge0.8Si0.2 含量降低时，可以看到类似的行为(图C)。图D 显示当Ge-/Ge-si 的比例为 5% 时能够得到最佳晶格导热系数。
LFA 457 MicroFlash® - 相关附件
LFA 457 MicroFlash® 配有恒温水浴，以保证温度与长时间工作的稳定性。
提供多种类型的真空泵，可以使得测试在真空或纯净无氧的惰性气氛下进行。
流量计，用于调节吹扫气体的流量。
由 SiC 或石墨制成的样品支架与样品罩，适用于标准样品尺寸。
提供由铂金、铝、蓝宝石等材料制成的多种类型不同尺寸的样品支架或样品容器，用于测量液体样品、熔融金属、矿渣与纤维等特殊样品。
提供用于热扩散系数验证的标准样品。
提供用于比热测试的参比样品。
制样设备。
耐驰导热仪 LFA 457 MicroFlash的工作原理介绍
导热仪 LFA 457 MicroFlash的使用方法?
耐驰 LFA 457 MicroFlash多少钱一台?
导热仪 LFA 457 MicroFlash可以检测什么？
导热仪 LFA 457 MicroFlash使用的注意事项？
耐驰 LFA 457 MicroFlash的说明书有吗？
耐驰导热仪 LFA 457 MicroFlash的操作规程有吗？
耐驰导热仪 LFA 457 MicroFlash报价含票含运吗？
耐驰 LFA 457 MicroFlash有现货吗？
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企业名称
柜谷科技发展（上海）有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
91310115323132139E
成立日期
2014-11-19
注册资本
200
经营范围
计算机软件及辅助设备(除计算机信息系统安全专用产品)、机械设备、实验耗材、实验设备及其零部件、文化办公用品、日用百货的销售,建筑装饰装修建设工程设计与施工,商务信息咨询(除经纪),从事货物及技术的进出口服务,生物科技、网络科技、环保科技、计算机科技、电子科技、仪器仪表技术领域内的技术咨询、技术转让、技术服务、技术开发。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
柜谷科技发展（上海）有限公司
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浦东新区建韵路500号3号楼309
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