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分体式光矢量分析系统（OCI-V）为用户提供多种选择
继OFDR设备推出分体式后，东隆科技应用户市场的需求，近日推出了光矢量分析系统外置激光器测试的分体式设备。
所谓分体式设备，就是采用外置激光器与设备Laser端连接，实现分体式测量。外置激光器也可单独作为光源，用于其他光学测试。分体式光矢量分析系统（OCI-V）有下面两个型号可选：OCI-V 1502——用于C+L波段、OCI-V1302——用于O波段。
分体式设备OCI-V 1502
然而分体式OCI-V的功能与标准OCI-V并没有什么不同，核心功能都一样，依旧用于无源器件的相关测试。主要测试参数有：偏振相关损耗（PDL）、偏振模色散（PMD）、插损（IL）、色散（CD）、群延时（GD）等，能精细测量不同波长下的各参数。
图1.HCN气室会对固定波长的光进行吸收造成损耗，OCI-V 1502测量不同波段的光通过HCN气室后的损耗情况。
图1.HCN气室吸收谱
图2.保偏光纤快轴折射率小、光传输速度快，慢轴折射率大、光传输速度慢。OCI-V 1502精确测量PMD对于评估光纤制备、光器件制造及光通信链路非常有意义。
图2.测量保偏光纤快慢轴PMD
分体式光矢量分析系统，外置激光器推荐型号为Santec-TSL-550/570。该激光器可由用户自己提供，也可由我们一并提供。用户可以根据自身的实际情况进行选择，在为您保证高性能的同时，也为您提供高性价比的选择。
东隆科技一贯秉着“服务创造未来”的宗旨，结合市场的需求变化，我们竭诚地为广大用户提供最优质的产品服务和技术支持。
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