荧光寿命成像和相关分析软件

数据采集

可联用TCSPC模块

HydraHarp 400,   PicoHarp 300, TimeHarp 260, MultiHarp 150，TimeHarp 200 (仅数据导入)

可联用荧光系统

MicroTime 200
  MicroTime 100

激光扫描显微系统 (LSM)，支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌
  单独的 TCSPC 模块
  通过TCP/IP接口远程控制 (支持ZEN和 NIS Elements)

探测通道数量

1 到 8 detectors

采集模式

单点采集，多点采集，2D成像(XY，XZ，YZ)，3D成像(XYZ)，定时成像(XYT)，用于调节系统时使用的示波器模式

采集预览

FLIM, FCS,   FLCS 和FCCS,   Time Trace, TCSPC柱状图
  最多同时在线显示4种数据

自动化测量

Z轴逐层成像, 定时成像, 图片缝合, 多点测量

硬件控制

PDL 828 "Sepia   II" 激光驱动器
  E-710, E-725, E-727和宽范围扫描仪控制器(Physik   Instrumente)

MicroTime 200的快门系统
  MicroTime 200 中宽视场荧光相机IDS uEye USB3

数据分析

总体特点

时间门控
  Binning

TCSPC binning
  TCSPC拟合(1到5多指数衰减拟合)

最小平方拟合, 最大可能性估算拟合, IRF解卷积拟合，尾部拟合，自举误差分析

TCSPC曲线的全局化分析

图形化交互界面

成像

FLIM,   FLIM-FRET, 荧光强度FRET, 各向异性成像, (时间门控) 荧光强度成像

Pattern   Matching, 快速Pattern   Matching
  可调寿命颜色分配及对比度
  特定区域分析 (ROI)

用于相位分析的 Bin输出（通过荧光动力学实验室开发的第三方软件Globals）

相关分析

FCS, FCCS, FLCS,   PIE–FCS
  STED-FCS, STED-FLCS
  FCS 拟合 (拟合模型: 扩散常数, 三重态, 构象分析, 质子化, 高斯PSF, 用户自定义, 自举误差分析)
  全局分析
  FCS校准
  反聚束/符合相关，总相关

FRET

PIE (脉冲交错激发)
  渗滤校正
  FLIM-FRET

STED

STED, 门控STED,   STED-FLIM, 交错脉冲 STED及共聚焦, 分辨率估计

荧光强度Trace

分子闪烁(On/Off 柱状图), 计数率柱状图 (PCH), 爆发量柱状图, 强度门控制TCSPC, 荧光寿命 Traces, 寿命柱状图, BIFL

稳态各向异性

包含物镜校正系数

导出数据格式

BMP, ASCII, TIFF,   BIN

用户自定义脚本译 (STUPSLANG)

用户自定分析步骤, 拟合功能, 多条件筛选
  整合控制外部其他器件