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浅析高分辨率光学链路诊断仪(OCI)测试大插损光纤链路损耗
武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪(OCI)是基于光频域反射技术(OFDR),单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断,并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。
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高分辨光学链路诊断仪OCI+精准测量多分支光链路损耗
高分辨光学链路诊断仪OCI可以测试出耦合器中各个分路的损耗(分光比),各路损耗测试结果符合其实际损耗值。当测试光链路中出现多个分支的情况时,依然可以使用高分辨光学链路诊断仪OCI测试各个分链路的损耗情况。
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