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核心参数
产地类别： 进口
SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。
该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置扫频光源，可应用于光学测量及分析系统的二次开发。
产品特点：
多功能
C+L、O波段（可选）
可扩展扫频光源
可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量
产品应用：
平面波导器件
硅光器件
光纤器件
波长可调器件、放大器、滤波器
光学测量分析二次开发
产品参数：
| 主要参数 | ||
| 损耗（IL） | ||
| 测量长度 | 200 | m |
| 波段 1 | 1525 ~ 1565；1290 ~ 1330 | nm |
| 波长分辨率 | 1.6 | pm |
| 波长精度 | ±1.0 | pm |
| 动态范围 | 60 | dB |
| 插损精度 | ±0.1 | dB |
| 分辨率 | ±0.05 | dB |
| 扫频光源 | ||
| 功率 3 | 1 | mW |
| 波长 1 | 1525 ~ 1565；1290 ~ 1330 | nm |
| 波长精度 | 5 | pm |
| 扫描速度 | 10 ~ 100 | nm/s |
| 边摸抑制比 | 60 | dBc |
| 消光比 | 15 | dB |
| 硬件 | ||
| 主机功率 | 60 | W |
| 通讯接口 | USB | - |
| 光纤接口 | FC/APC | - |
| 尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm |
| 重量 | 7.5 | kg |
| 储藏温度 | 0 ~ 50 | ℃ |
| 工作温度 | 10 ~ 40 | ℃ |
| 工作湿度 | 10 ~ 90 | %RH |
备注：
1.可升级扫描范围；
2.可升级动态范围到80dB；
3.可升级高功率版本(2mW/5mW)。
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企业名称
武汉东隆科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
91420100300197191T
成立日期
1997-07-15
注册资本
1000
经营范围
国家法律法规金子的不得经营，应经审批的未获审批前不得经营，法律法规未规定审批的企业自主选择经营项目开展经营活动。（上述经营范围中国家有专项规定的项目经审批后或凭有效许可证方可经营）
武汉东隆科技有限公司
公司地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区北斗路6号未来智汇城A8栋
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