当我们在使用光频域反射（OFDR）技术检测光链路，不仅能获得极高空间分辨率的回波强度曲线，而且利用背向散射法测损耗可得到链路的沿线损耗情况及各个器件点的损耗。当光链路中有两路以上的分支时，各个分支的瑞利散射信号会混叠到一起，此时使用背向散射法就不能测试出各个分支光链路损耗情况。但针对多分支光链路信号混叠在一起的情况下，本文给出了高分辨光学链路诊断仪OCI测试多分支光链路中各个分支链路损耗情况的方法。背向散射法测损耗背向散射法是指定被测件DUT前一点的光功率作为测量回损（RL）的入射光功率，进而获得RL值。时域曲线包含光纤沿线损耗分布，插损值可通过DUT前后回损值计算得到，公式为：IL=(RL₁-RL₂)/2。以测量一根光纤跳线为例，在中间位置弯曲，测量结果如下：光频域反射技术（OFDR）可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线，利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。光频域反射技术（OFDR）可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线，利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。图1. 背向散射法测量原理如图1所示，假定p0为设备出光口光功率，DUT前后测量位置为1、2，其对应的光功率分别为P1、P2，对应的散射系数分别为α1、α2，则其对应的反射光功率分别为：Pr1=P1×α1、Pr2=P2×α2。DUT的插损为：IL=-10lg （P2/P1）看1、2处的回损分别为：RL1=-10lg(Pr1/P0)、RL2=-10lg(Pr2/P0)。当1、2处光纤的散射系数相同时，可推导出IL=(RL1-RL2)/2（背向散射法是反射式测量，光信号往返两次经过DUT，因此除以2）。多分支链路损耗测试案例使用OCI测试3dB耦合器损耗的装置如下图所示，将3dB耦合器的进光口接入OCI仪器，进光口和出光口光路的光纤长度都约为1m。图2. OCI直接测试3dB耦合器装置图下图为使用OCI测试3dB耦合器的测试曲线，对红线和黄线周围10cm区域进行积分可以看出，3dB耦合器前后位置的回损分别为-83.11dB和-86.58dB，因为是反射式测量，光信号往返两次需要除以2，因此测得的损耗为1.71dB，和实际情况不符。出现上述情况是由于2个出光路的反射信号叠加到不能单独测试出每个分支的损耗情况。图3. OCI直接测试3dB耦合器曲线图3dB耦合器阻断一路信号测试：针对上诉出现的问题，改变测试装置，如下图所示，将3dB耦合器的一路出光分支打结，阻断光信号，让该出光路没有反射信号，在使用OCI分别测试，断开出光口光路1和光路2。图4. OCI断路法测试3dB耦合器装置图下图为测试曲线图，按照先前回损测试方法可以得出3dB耦合器的2个出光路插损分别为3.18dB和2.98dB，2个出光路的实际分光比为49.1:50.9，经计算可得实际损耗为3.09dB和2.93dB，测试结果和实际相符。图5. OCI断路法测试3dB耦合器曲线图其他比例耦合器阻断一路信号测试：按照上诉测量方法，分别测试1:9耦合器和2:8耦合器的损耗情况。1:9耦合器的2个出光路插损分别为10.17dB和0.60dB，2个出光路的实际分光比为9.3:90.7，经计算可得实际损耗为10.32dB和0.42dB，测试结果和实际相符。图6. OCI断路法测试1:9耦合器曲线图2:8耦合器的2个出光路插损分别为6.99dB和1.05dB，2个出光路的实际分光比为19.4:80.6，经计算可得实际损耗为7.12dB和0.94dB，测试结果和实际相符。图7. OCI断路法测试2:8耦合器曲线图因此，按照上述方法可以测试出耦合器中各个分路的损耗（分光比），各路损耗测试结果符合其实际损耗值。当测试光链路中出现多个分支的情况时，依然可以使用高分辨光学链路诊断仪OCI测试各个分链路的损耗情况。

PMT是光电倍增管。它是一种真空器件，由光电发射阴极（光阴极）和聚焦电极、电子倍增极及电子收集极（阳极）等组成。典型的光电倍增管按入射光接收方式可分为端窗式和侧窗式两种类型。光电倍增管采用了二次发射倍增系统，所以在探测紫外、可见和近红外区的辐射能量的光电探测器中，具有极高的灵敏度和极低的噪声，响应速度非常快的单点光探测器。 PMT核心原理就是通过把入射的光子转化成电子，在电子倍增电场作用下进行倍增放大，最后放大后的电子通过阳极收集后输出。通过AD转换器，信号可以通过示波器直接显示。典型的光电倍增管按入射光接收方式可分为端窗式和侧窗式两种类型。主要应用于光子计数、弱光探测、化学发光、生物发光、极低能量射线探测、分光光度计、色度计、生化分析仪等设备中。   武汉东隆科技有限公司国内独家代理的德国PicoQuant公司的制冷型单光子PMT探测器PMA-Hybrid系列是一种紧凑型单光子探测器，它内含来自滨松的R10467型快速混合型光电倍增，以及珀尔帖制冷模块用于降低暗计数。并拥有两个信号输出端口，一个负电平的NIM信号输出端口，用于计时和计数。另一个模拟信号输出端口，电平值为正值，可以连接到诸如模数转换器等设备上。探测器由高压供电模块，带有过载保护的前置放大器，和一个过曝保护快门组成。 • 计时分辨率最低 • 探测效率最高45%(根据阴极情况而定) • 自动过载保护 • 感应区域直径最大可达6mm • 超低后脉冲效应 • 模拟信号输出端口，输出正电平信号 • -07和-42型号，探测波长范围220nm到870nm，探测效率最高25%   常见应用实例： 仪器响应函数(IRF) 如上图所示，展示了并三苯的乙醇溶液的荧光寿命衰减曲线，测量仪器使用的是FluoTime300荧光寿命光谱系统。激发光源为LDH - D - C - 375皮秒脉冲光源，波长为375 nm，重复频率10MHz。曲线为单指数曲线，寿命为4.1 ns，残差值非常理想。同时还可以看到红色曲线，代表PMA Hybrid的时间响应。分析软件为EasyTau 2。 荧光相关光谱(FCS) 如上图所示，展示了1nmol浓度下的ATTO 488溶液的FCS自相关曲线，测量仪器为MicroTime 200时间分辨共聚焦显微镜系统。激发光源为LDH - D - C - 485皮秒脉冲光源，波长为485 nm。从曲线中看出，前端并没有突起部分，证明探测器的后脉冲效应极低。数据分析采用的是SymPhoTime 64。 如需了解以上产品更多详情，请随时联系我们！

在光学领域，透镜是光学系统中最重要的组成元件，现代的光学仪器对透镜的成像质量和光程控制有很高的要求。尤其在透镜的制造要求上，加工出的透镜尺寸，其公差必须控制在允许范围内，因此需要在生产线上形成对透镜厚度实时、自动、精准的检测，这对提高产线的生产效率和控制产品的质量具有重要意义。目前，测量透镜中心厚度的方法主要分为接触式测量和非接触式测量。接触式测量有很多弊端，如不能准确找到透镜的中心点(最高点或最低点)，测量时需要来回移动透镜，效率不高，容易划伤透镜的玻璃表面。而非接触测量一般采用光学的方法，能有效避免这些测量缺陷，由东隆科技自研的光纤微裂纹检测仪（OLI）不仅可以快速精准测试出透镜的厚度，而且也不会对透镜表面造成划伤。下面，让我们学习下光纤微裂纹检测仪（OLI）是如何高效的测量手机镜头的折射率和厚度。光纤微裂纹检测仪（OLI）1、 OLI测量透镜厚度使用光纤微裂纹检测仪（OLI）测量凸透镜中心厚度，如图1.所示，准备一根匹配好测试长度的光纤跳线，一端接入设备DUT口，另外一端垂直对准透镜，让接头和透镜之间预留一定距离，同时使用OLI进行测量。图1. 测量系统示意图测量结果如图2.所示，图中共有3个峰值，第1个峰值为FC/APC接头端面的反射，第2个峰值为空气到透镜第一个面的反射，第3个峰值为透镜第二个面到空气的反射。图2.凸透镜厚度测试结果图峰值1和2之间的距离为3.876mm，峰值2和3之间的距离为20.52mm，图2中测得各峰值间距是在设备默认折射率n1=1.467下测得，而空气的折射率n2=1玻璃透镜的折射率n3=1.6，所以空气段的实际长度为：L空=3.876*n1/n2=5.686mm，透镜的实际厚度为L镜=20.52*n1/n3=18.814mm。使用游标卡尺测量凸透镜的厚度为19.02mm，和测试结果偏差0.2mm，可能是玻璃透镜的实际折射率与计算所用到的折射率1.6有偏差导致的。2、OLI测量镜底折射率和厚度将图1.测量系统中的凸透镜换成手机摄像头的玻璃镜底，使用光纤微裂纹检测仪（OLI）对3种不同厚度的玻璃镜底进行测量，图3.为测试玻璃镜底实物图，用游标卡尺测量三种玻璃镜底的厚度分别为0.7mm、1.5mm和2.0mm。图3.玻璃镜底实物图光纤微裂纹检测仪（OLI）测量结果如图4.所示，为5次测量平均后的结果，从图中可以看出三种镜底的测试厚度分别为1.075mm、2.301mm、3.076mm。图4.三种镜底厚度测试结果图三种玻璃镜底的材质一样其折射率一致，图4.中设备测得玻璃镜底厚度与游标卡尺测得厚度不一致，因为是在设备默认折射率n1=1.467下测得、实际玻璃镜底折射率为n镜=1.075*1.467/0.7=2.253，将设备折射率修改为2.253直接得出三款玻璃镜底的厚度为：0.699mm 、1.498mm、2.003mm，设备测得结果与游标卡尺测量偏差不超过5um，证明OLI非接触测试透镜厚度十分精准。3、结论使用光纤微裂纹检测仪（OLI）非接触测试各种透镜的折射率和厚度，其测量精度在亚微米级别，相对于接触式测量透镜厚度，精度提升很大，同时也避免测量时透镜表面被划伤。将光纤微裂纹检测仪（OLI）非接触式测量透镜厚度的方法应用到生产车间内，可形成自动化检测产线，无需人为干预即可准确甄别出质量不合格产品，极大提升生产效率。

继OFDR设备推出分体式后，东隆科技应用户市场的需求，近日推出了光矢量分析系统外置激光器测试的分体式设备。所谓分体式设备，就是采用外置激光器与设备Laser端连接，实现分体式测量。外置激光器也可单独作为光源，用于其他光学测试。分体式光矢量分析系统（OCI-V）有下面两个型号可选：OCI-V 1502——用于C+L波段、OCI-V1302——用于O波段。分体式设备OCI-V 1502然而分体式OCI-V的功能与标准OCI-V并没有什么不同，核心功能都一样，依旧用于无源器件的相关测试。主要测试参数有：偏振相关损耗（PDL）、偏振模色散（PMD）、插损（IL）、色散（CD）、群延时（GD）等，能精细测量不同波长下的各参数。图1.HCN气室会对固定波长的光进行吸收造成损耗，OCI-V 1502测量不同波段的光通过HCN气室后的损耗情况。图1.HCN气室吸收谱图2.保偏光纤快轴折射率小、光传输速度快，慢轴折射率大、光传输速度慢。OCI-V 1502精确测量PMD对于评估光纤制备、光器件制造及光通信链路非常有意义。图2.测量保偏光纤快慢轴PMD分体式光矢量分析系统，外置激光器推荐型号为Santec-TSL-550/570。该激光器可由用户自己提供，也可由我们一并提供。用户可以根据自身的实际情况进行选择，在为您保证高性能的同时，也为您提供高性价比的选择。东隆科技一贯秉着“服务创造未来”的宗旨，结合市场的需求变化，我们竭诚地为广大用户提供最优质的产品服务和技术支持。

TCSPC时间相关单光子计数技术是一种成熟且通用的单光子计数技术，是一种功能强大的分析方法，目前广泛应用于荧光寿命测量、时间分辨光谱、荧光寿命成像、飞行时间测量等众多领域，尤其是在生命科学和基础物理学中使用。此技术用于执行超精确的荧光和磷光寿命测量。TCSPC时间相关单光子计数系统基于的原理是：在记录低强度、高重复频率的脉冲信号时，由于信号光强度很低，以至于在一个信号测量周期内探测到一个光子的概率远远小于1.因此，不需要考虑在一个周期内探测到几个光子的情形。只要记录这些光子，测量他们在信号测量周期内的时间，并建立光子时间分布的直方图就可以。作为单光子计数领域的优秀厂商，德国PicoQuant成立25多年以来，一直为国内外各类高校提供TCSPC时间相关单光子计数系统，并广泛用于世界范围内的物理、生物、化学、材料等基础科学研究和生产质量控制等。德国PicoQuant——TCSPC时间相关单光子计数产品系列1、时间相关单光子计数(TCSPC)系统MultiHarp160MultiHarp 160是一款即插即用型多通道事件计时器及时间相关单光子计数(TCSPC)系统，并且针对需要多通道、高速且高精度计时通道的应用进行了优化处理。多达64个独立输入通道，时间分辨率为5 ps通过16通道的扩展单元进行扩展高达1.2 GHz同步速率的共用同步通道超短死区时间（650 ps），各通道无死时间串扰通过FPGA接口对数据流进行硬件访问White Rabbit计时网络接口用于自定义编程的驱动程序和演示代码2、时间相关单光子计数(TCSPC)系统MultiHarp150MultiHarp 150是一款即插即用型多通道事件计时器及时间相关单光子计数(TCSPC)系统，拥有极快的信号处理速度。 它通过USB 3.0高速接口与电脑连接。分别有4通道，8通道和16通道版本共用同步通道(最高支持1.2GHz计数率)极高的可持续数据通量(时间标记模式下80Mcps，柱状图模式下180Mcps)极短死时间(650ps)通道之间无死时间影响White Rabbit计时网络接口用于自定义编程的驱动程序和演示代码分辨率5ps3、时间相关单光子计数(TCSPC)系统HydraHarp400HydraHarp400是一款即插即用型时间间隔分析(TIA)及时间相关单光子计数(TCSPC)系统，支持拓展多个独立通道(专利编号DE 10 2008 004 549)。它通过USB 3.0高速接口与电脑连接。最多支持8通道，以及1个共用同步通道(最高150MHz计数率)每通道65536个柱状图时间通道个数，最小通道宽度为1ps时间标记模式下，最高可持续计数率40Mcps柱状图模式下测量范围为65ns到2.19s4、时间相关单光子计数(TCSPC)系统PicoHarp 300PicoHarp 300是一款即插即用型时间相关单光子计数(TCSPC)系统，它通过USB 2.0高速接口与电脑连接。两个独立通道65536个柱状图时间通道个数，最小通道宽度为4ps可选时间标记模式，最高可持续计数率5Mcps柱状图模式测量范围为260ns到33s5、时间相关单光子计数(TCSPC)计数卡TimeHarp 260TimeHarp 260是一款紧凑型时间相关单光子计数(TCSPC)及多通道复用(MCS)计数卡，使用PCIe接口与电脑连接。其内部包含一种定制化的时间-数字转换器(TDC)模块，死时间极短，同时拥有较高时间分辨率。该计数卡有两个版本，分别是25ps基础分辨率的PICO版本，以及250ps基础分辨率的NANO版本。可选1或2个独立输入通道，固有1个共用同步通道(最大计数率100MHz)可选基础时间分辨率25ps(PICO型号)或250ps(NANO型号)PICO型号可以选配"Long range"模式，该模式下基础时间分辨率为2.5ns超短死时间(PICO型号如需了解以上产品详情，请随时咨询我们！

过去的几十年中，德国PicoQuant的研发人员一直致力于制造最具定量性和重复性的时间分辨荧光显微镜系统。现在他们终于迈出了这一步，完成了一套更易于使用、且不影响灵敏度的系统。该系统打破常规，无需培训物理学支持人员便可轻松使用。全新的Luminosa可以让每个分子生物物理学或结构生物学研究人员轻松地将单分子和时间分辨荧光显微镜的方法添加到他们的“工具箱”中。Luminosa系统的主要功能包括一键式自动对准程序和基于上下文的直观工作流程。例如，系统可以自动识别单个分子，或者它可以自动确定单个分子FRET (smFRET) 的校正因子。对于经验丰富的专家，它仍具有先进的灵活性。所有光机组件均可访问，数据以开放格式存储，工作流程和图形用户界面均可定制。用户可以完全访问实验参数，例如可调节的观察量。全新的Luminosa本身就是一套时间分辨荧光显微的多功能“工具箱”。它用于单分子水平的动态结构生物学研究。这些方法包括荧光寿命成像 (FLIM)、用于快速过程的rapidFLIMHiRes、FLIM-FRET、单分子FRET（突发和时间跟踪分析）、荧光相关光谱 (FCS)、各向异性成像和微分干涉对比 (DIC) 成像。随着时间分辨荧光显微技术的用户群体不断扩大，对高重复性、高准确性和宝贵实践经验规则的需求变得尤为明显。Luminosa已经包含了科学家集体努力制定的经验指南，例如来自于单分子FRET群体在基准研究中的经验指南。Luminosa 是一款将超高数据质量与超简日常操作相结合的单光子计数共聚焦显微镜。它可以轻松集成到任何研究人员的“工具箱”中，成为开始探索使用时间分辨荧光方法科学家以及想要突破极限专家的省时、可靠的“伙伴”。它是一个真正的显微镜系统，每个人都可以依赖。产品特点：◆ 全软件控制共聚焦系统，基于倒置显微镜◆ 激光波长从375到1064 nm可选◆ VarPSF：观察量高精度调节，用于FCS和单分子FRET实验◆ 电动平移台，可在传动和FLIM模式下进行“图像拼接”◆ 扫描选项：FLIMbee振镜扫描和压电物镜扫描◆ 最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元◆◆ 一键式自动对齐，从而获得一致的最佳性能◆ 借助GPU加速算法和基于上下文工作流程的FCS、FLIM和单分子检测，以最少的用户交互快速获得结果产品领域：◆ 单分子水平的动态结构生物学◆ 相分离驱动的细胞机制◆ 环境传感◆ 细胞膜动力学和结构的映射核心方法：◆ 荧光寿命成像 (FLIM)◆FLIM-FRET – 基于寿命的Förster共振能量转移◆smFRET – 单分子Förster共振能量转移◆荧光相关光谱(FCS)◆荧光寿命相关光谱(FLCS)◆荧光互相关光谱(FCCS)◆各向异性成像为此，德国PicoQuant公司特邀产品经理Evangelos Sisamakis博士在2022年10月6日-10月7日进行2场线上新品演示推广研讨会，重点介绍Luminosa是如何让每个分子生物物理学或结构生物学研究人员轻松地将单分子和时间分辨荧光显微镜的方法添加到他们的“工具箱”中，成为开始探索使用时间分辨荧光方法的科学家以及想要突破极限专家的省时、可靠的“伙伴”。欢迎各位有兴趣的研究人员报名注册https://www.picoquant.com/events/workshops-and-courses/category/webinar#luminosa 。

光学相干断层扫描（OCT）是一种以与低倍显微镜相当的分辨率获得半透明或不透明材料的次表面图像的技术。它是有效的“光学超声”，可对来自组织内部的反射光进行成像以提供横截面图像。众所周知，从OCT样本反射回来的光也可以具有不同的偏振模式，因此，减小偏振依赖性是十分重要且必要的。而对于在设计中使用反射光栅的光谱仪而言，因为从表面反射的镜面反射本质上有利于s偏振，使减小偏振依赖性成为反射光栅光谱仪难以克服的技术壁垒，充满了严峻的挑战。此外，研究人员意识到，获得相同信息的更有效方法是通过分析不同波长的光，而不是不同时间点的光（即光谱域干扰与时域干扰）。这种方法上的改变使得OCT扫描速度和灵敏度成指数增长，但是对不同波长的分析需要合适的光栅。针对上述现状，Wasatch Photonics推出了专利型的HD光栅，可以最大限度提高灵敏度和扫描速度。同时，Wasatch Photonics的HD光栅，在100~200nm的扫描宽度内具有高均匀性以及高效率，并且具有较低的偏振相关性。此外，透射式VPH光栅允许更紧凑的光学设计，具有更高的效率和更少的杂散光。因此，在整个扫描带宽内，Wasatch Photonics体相位光栅具有更大信噪比的光学设计，从而获得更清晰、更大扫描深度的SD-OCT成像。将Wasatch Photonics的VPH光栅放置在OCT系统的核心吧，更快地获得更清晰的图像。产品特点：• 具有专利的宽带光栅设计• 优秀的一阶衍射效率，具有更高的灵敏度和更快的扫描效率• 在整个波长范围内，具有优异的一致性• 极低的偏振相关性• 低散射和AR增透膜，尽量减少杂散光• 坚固耐用的设计，便于清洁• 能实现紧凑、光学性能最佳的设计VPH光栅在OCT领域的应用实例：1、血管成像：整个小鼠耳朵的OCT血管成像以及小鼠视网膜的OCT血管成像2、无损检测：手机显示面板的多层结构OCT成像3、皮肤层成像：人中指外部不同皮肤层成像，指甲和皮肤层成像产品参数：OEM定制服务：Wasatch Photonics公司的VPH体相位全息光栅拥有独特的优势，在整个适用波长范围内，具有高效率以及极低的偏振相关度。作为光谱学专家，可以根据您的具体应用需求如尺寸、波长和色散等，定制各类体积相位光栅，武汉东隆科技有限公司作为美国Wasatch Photonics公司在中国大陆、香港及台湾区域的唯一一家代理竭诚为各位设计者们提供量身定制的全套解决方案。

光纤连接器是光纤与光纤之间进行可拆卸（活动）连接的器件，它把光纤的两个端面精密对接起来，以使发射光纤输出的光能量能最大限度地耦合到接收光纤中去，并使由于其介入光链路而对系统造成的影响减到最小，这是光纤连接器的基本要求。在一定程度上，光纤连接器影响了光传输系统的可靠性和各项性能。据了解，市面上按连接头结构形式可分为：FC、SC、ST、LC、D4、DIN、MU、MT等等各种形式，光纤连接器端面研磨方式有PC、UPC、APC型三种。如图所示：而光纤接头主要有四个基本部件组成，分别是插针（插芯）、连接器体、光缆、连接装置，光主要通过插芯进行传输，若插芯损伤，会大大降低光传输效率，影响光纤通信。东隆科技推出的OLI光纤微裂纹检测仪，能精准定位器件内部断点、微损伤点、耦合点以及链路连接点，广泛用于光器件、光模块损伤检测。在测试中，我们用OLI光纤微裂纹检测仪测量LC-UPC连接头，而测试结果显示3个峰值，第一个峰值为LC-UPC端面、第二个峰值为连接头内部损伤处，距离端面5.224mm，第三个峰值为光纤接头末端对空气处。如下图所示：由此可见，东隆科技推出的OLI光纤微裂纹检测仪，其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测，以亚毫米级别分辨率探测光学原件内部，广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。如需了解产品更多详情，请随时联系我们的销售工程师！

来自德国PRIMES公司生产的手持式激光功率计PMT系列是一款便携式易于使用的功率计，也是为日常生产环境中使用而开发的产品。PMT 70icu/PMT 120icu主要特点是拥有紧凑和坚固的设计，能快速和简单的使用。其坚实的铝制外壳，可使仪表免受撞击和潮湿的伤害。在其折叠起来的状态时，操作控制不受吸收屏蔽损坏。PMT 70icu/PMT 120icu是基于微处理器，电子测量吸收剂的温度，并计算激光光束的功率与一个瓦的分辨率。主要用于测试连续激光的功率或者脉冲激光在某一段时间的平均功率值的仪器。由于该高分辨率，测量可以以非常宽功率范围拥有均匀的精度。另外，确切的功率或温度可以在大型41/2显示器上进行选择，而内置的锂电池寿命能提供不低于约30,000次测量的能量。据了解，PocketMonitor是根据弹道原理测量激光功率。在该方法中，吸收体被激光辐射照射规定的时间 (10 s/20 s)。根据加热时间和吸收剂的已知重量，辐射功率可以以低于1 W的分辨率确定。同时，PocketMonitor四种不同的吸收器版本均可用于各种功率范围。其中，带铜锥体的PocketMonitor 70icu和 120icu型号适用于非常高的功率密度。通常，功率密度对于选择合适的设备与功率同样重要。PMT 70icu和PMT 120icu型号具有特别高的储量，这意味着在5 kW激光功率下甚至可以测量5 kW/cm2。另外，PocketMonitor系列拥有单独的吸收器能带来更大的灵活性。它不仅提供一系列吸收器，还提供带有单独吸收器的版本。连接电缆的长度有 5、10 和15 m。使用此型号时，测量结果可在激光舱外获得。此外，还提供带有电流回路接口 (4 – 20 mA) 的版本，用于可能的机器集成。建议定期校准，以便获得数据的准确性更高。PocketMonitor 70icu和 120icu所有选项都适用于整个吸收器系列，我们在使用测量时，确实发现PocketMonitor是一款非常灵活的测量设备，主要应用于：▪适合系统集成、客户服务、工业加工等领域▪车厂产线巡检、激光房激光功率监测▪大功率半导体激光器功率测量▪大功率固体激光器功率测量▪大功率CO2激光器功率测量武汉东隆科技有限公司国内独家代理的德国Primes公司全系产品，德国PRIMES公司主要专注于为材料加工领域的二氧化碳激光器、固体激光器、半导体激光器提供参数测量仪器，主要进行光束光斑分析、功率测量等。从微加工到重工业加工领域，应用范围广泛。如需了解更多产品详情，请随时联系我们027-87807177/819，sales@etsc-tech.com。

FA简称光纤阵列，是把光纤按照一定的间距排列固定起来形成的光器件，它是光进出光器件的通道。光纤阵列分为单芯光纤阵列（SFA）和多芯光纤阵列（MFA），光纤阵列有常规FA、45°光纤悬出FA、光纤转90°FA。45°FA利用端面全反射使光路90°转角与VCSEL或者PD耦合，这种方法耦合效率高，但苦于45°端面研磨工艺有较大难度，工艺制造成本高，生产良率不高。光纤转90°FA通常与硅光芯片中的光栅进行耦合，不过直接对准耦合，会存在一定的角度失配，尽管国内厂商经过这几年的努力与克服，已有不少厂家能够批量制造提高良率，但FA耦合面检测一直是通信行业所关注的热点话题。FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面，例如光器件、光模块、硅光芯片等等，这些器件级的检测对设备要求极高。而OLI光纤微裂纹检测仪是专门针对这种微小尺寸的检测利器，其空间分辨率高达10微米，能实现芯片内部结构可视化。OLI测量FA耦合面多芯FA耦合面测量，测试结果显示该耦合位置回损为-62dB，耦合情况良好由此可见，OLI光纤微裂纹检测仪能精准定位器件内部断点、微损伤点、耦合面以及链路连接点，以亚毫米级别分辨率探测光学原件内部，且广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。如需了解产品更多详情，请随时联系我们！

随着5G的广泛应用，对基站、数据中心和光纤网络的需求与日俱增，而作为这些通信设施的基础，光纤网络更是最重要的一环，随着数据量的增大波分复用技术也越来越多的应用到光网络中，如何保证这些复杂光网络的质量成为现阶段研究的重点。回波损耗（RL）是判断光链路质量的重要指标，基于OFDR原理的高精度光学链路诊断仪（OCI）能够准确测量出整个链路各个事件点的回损，实现分布式测量，且借助光谱功能可以测量出各个事件点在不同波长下的回损，为光网络稳定运行提供基础保障。测试FBG中心波长反射率对中心波长在1548.0-1548.2nm的FBG进行测试，FBG会对1548.0-1548.2nm波段的光全反射，其他波段的光进行透射。直接将FBG接到OCI仪器上进行测试，OCI设置的波长扫描范围为1528-1612nm，测试结果如下图所示：将黄色游标移到反射峰最高位置，下幅图的窗口长度设置为0.2m，通过积分方法计算出FBG的反射强度为-26.82dB，而FBG会将中心波段的光进行全反射，理论上其反射强度应该接近于0dB。出现这种情况是由于FBG只对1548.0-1548.2nm波段的光进行全反射，而OCI仪器扫描光为1528-1612nm，仪器会自动将反射强度平均到扫描全波段，导致计算出来的反射强度变小。下表为选择不同波段进行扫描测试的反射强度。从表中可以看出随着波长扫描范围的缩小，用积分方法计算的反射强度逐渐增大，这是由于扫描范围越小，反射的光强不变，平均到扫描波长范围越小反射强度就会越大。因为OCI仪器不能使扫描光范围等于FBG的中心波长范围，因此用积分方式计算FBG的回损是不准确的。此时我们借助光谱分析功能，在下幅图展示峰值附近的光谱，如下图所示，可以看出光谱信息上只有1548.0-1548.2nm波段的光回损值接近0dB，其他波段的光回损都在-60dB左右，和理论值相符合。利用光谱功能，OCI能准确测试FBG在不同波长下的回损。为验证FBG在中心波长（1548.0-1548.2nm）是否为全反射，设计如下图所示的光路进行测试验证，OCI的DUT和环形器的1通道连接，FBG和环形器的2通道连接，功率计和3通道连接，这样OCI发出的光由环形器的1通道进入2通道的FBG，FBG中心波段的光再由FBG反射进入3通道，最后由功率计检测FBG的反射功率。使OCI发出的光波长停留在1548.1nm，经功率计换算测试出FBG的反射强度为-1.74dB，环形器1通道至2通道的损耗为0.57dB，2通道至3通道的损耗为0.97dB，因此扣除环形器的损耗后FBG的反射强度为-0.2dB，和OCI测试结果相对应，证明OCI测试不同波长下回损的准确性。结论从测试结果可以看出OCI可以准确测试FBG在中心波长附近的反射率，同理按照上述方法可以测试出对波长有依赖的光学器件在不同波长下的回损值，如波分复用器、滤波器、硅光芯片等。OCI不仅能测试出光链路中不同位置的回损，还能够测试出该位置在不同波长下的回损值，为检测复杂的光链路提供了新的检测手段，给网络环境的稳定运行提供最基础的保障。

日前，美国相干Coherent 公司发布了最新的功率能量计——LabMax Touch 和 LabMax Touch Pro。LabMax Touch和LabMax Touch Pro是基于Coherent公司高精度功率能量计的悠久历史和专业能力进行生产和制造，使该功率能量计可以承受恶劣的工厂车间和实验室条件。武汉东隆科技有限公司代理的美国Coherent公司的 LabMax Touch系列功率能量计是一款集美貌和智慧于一体的高性能激光功率和能量测量仪器，可通过直观的触摸屏界面轻松访问广泛的数据采集和分析功能。例如，测量数据和分析——包括实时显示、统计、趋势、调整、直方图和光束位置信息——都可以通过显示屏上的一两个手势获得。其成熟的数据采集分析实力和时尚的外观触屏显示，能进一步满足目前市场客户的使用需求。另外，LabMax Touch Pro测量功率和单脉冲能量的同时，还能同步显示脉冲波形和脉宽。看看高颜值的LabMax Touch系列功率能量计关键特性和功能如下：◆ 高采样率• 配合横向热电探头工作时采样率高达1 MHz• 配合热释电探头工作时采样率高达25 kHz◆ 7 英寸触摸屏液晶显示器◆ 大容量锂离子电池◆ USB、RS-232 和以太网 PC 接口◆ 双 USB 端口（用于闪存驱动器或鼠标）◆ HDMI 输出（用于外接显示器）◆ 外部触发输入◆ 触发、模拟和 TTL 输出◆ 通过 ISO 17025 认证◆ 兼容Coherent公司所有激光功率、能量探头

正如我们了解到的，在激光加工领域，比如激光切割、激光烧蚀、激光钻孔、激光焊接、3D打印、激光打标、激光退火等都离不开高功率激光器。 而传统激光加工一般采用高斯光束进行材料加工和处理，而高斯光束因其能量呈现高斯分布，激光加工时能量不能精确地分配，导致加工效率低，效果不理想。为了提高加工效果，大家都会采用DOE光束整形器对激光光束进行整形。 传统DOE光束整形器均采用透射式光束整形技术：但是因为透射型光束整形器受限于其结构特征，导致冷却面积非常小，冷却效率也非常低，而激光加工一般都采用大功率激光进行材料加工和处理，那么高功率激光经过透射型光束整形器的时候，由于高功率激光产生的高热量使透射型DOE器件发生形变，最终导致整形后的光束逐渐变形扭曲，无法达到改善加工效果的作用。 但是，东隆科技代理销售的NTT-AT的高功率激光衍射光束整形器（DOE），采用反射型衍射光束整形技术：因此可以采用直接冷却系统，大大的提升了制冷面积，制冷效率也非常高，非常适用于高功率激光光束整形，使光束整形后可以保证稳定输出，正因为如此，使激光加工领域的客户非常青睐NTT-AT公司生产制造的高功率激光衍射光束整形器（DOE）。激光光束经过光束整形之后，高斯光斑可变成任意光束形状。比如方形平顶、矩形平顶、圆形平顶、椭圆形平顶、线形、环形等光斑。接下来，让我们再从显微镜视角，来看看高功率激光衍射光束整形器（DOE）的庐山真面目：所以激光加工领域偏爱反射式DOE光束整形器的原因您找到了吧！①上述规格参数为典型举例②可定制参数

2022年4月，恩梯梯尖端技朮株式会社NTT Advanced Technology Corporation (下面简称：NTT-AT）与武汉东隆科技有限公司（以下简称“东隆科技”）正式签订代理合作协议以来，东隆科技陆续开展了XUV mirror和X-ray chart产品的市场推介活动和产品培训活动。今日，来自技术部的资深工程师王工，针对NTT-AT公司、XUV/EUV/X射线的应用进行了全员培训。本次内训会主要围绕NTT-AT公司介绍、XUV/X射线应用概述、XUV/EUV反射镜原理及应用、X射线图原理及应用展开。具体的培训内容请参见下文：1NTT-AT公司介绍2XUV/X射线应用概述3XUV/EUV反射镜原理及应用XUV MLM多层膜技术：多层膜反射镜：• 光从低折射率进入高折射率介质，相位变化180度——反相• 光从高折射率进入低折射率介质，相位不变• 先高后低的多层膜使每层反射光都是同相位（与入射光反相）干涉后增强XUV MLM多层膜反射镜• 轻重元素周期性多层膜：Mo/Si、Ru/Si、Zr/Al、SiC/Mg、Cr/C• 调节d1 / d2膜厚比，可消除高次谐波及提高能量分辨本领• 周期性膜厚d=d1+ d2 ，7nm@SiC/MgMo/Si多层膜XUV反射镜钼/硅 13.5nm ——最常用的XUV反射镜：• 具有接近13纳米（90电子伏）波长的高反射率• NTT-AT的Mo/Si镜高达70％的正入射反射率• 带宽Δλ = （ΔE / E）λ高反、窄带、宽带XUV反射镜（下面为部分型号举例）多层膜XUV反射镜应用• 13nm EUV光刻、等离子体物理：高反Mo/Si，宽带Ru/Si• 倍频基频分光、天文学：>17nm， 窄带45度Zr/Al-Si、SiC/Mg• 阿秒科学：宽带Mo/Si• 转向镜、聚焦镜、反射偏振片：8-12nm，45度 Ru/B4C• 耐高温、高耐用性、史瓦西光学系统和泵浦探测光学系统可定制掠入射超环面反射镜• 掠入射反射镜可用于高能X射线和宽带XUV光源的转向和聚焦：K-B反射镜、沃尔特反射镜（椭球面）• 定制化椭球反射镜和超环面反射镜可用于阿秒光谱成像以及其他XUV应用NTT-AT XUV反射镜的应用实例• Mo/Si多层膜XUV反射镜日本量子与放射科技所用Mo/Si镜分光监测13.9 nm激光EUV光刻强度(https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-030-35453-4_9)合肥等离子体物理所和中科大EAST团队用Mo/Si镜制作史瓦西（施瓦兹希尔德）望远镜，应用于超导托克马克中的VUV真空紫外高速成像系统(https://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.4991856)• 多层膜XUV反射镜倍频基频分光佛罗里达大学Yb:KGW放大器的高次谐频产生至21.8eV（57nm）(https://aip.scitation.org/doi/abs/10.1063/1.5121425)4X射线图原理及应用X射线图原理• X射线分辨率评估图基于Ta钽吸收体图的SiC膜极其精确，20nm/50nm/100nm• 能为用户的X射线显微镜（TXM）等分析系统评估提供清晰的西门子星等图像NTT AT X射线分辨率评估图优点与应用★ NTT AT的X射线图，钽线Ta（点）吸收型芯片10毫米×10毫米，20nm/50nm/100nm最小分辨率★ 相比别家的X射线图，NTT AT的X射线图的最大特点是高耐X射线辐射性、超清晰图案和低边缘粗糙度。★ X射线分辨率评估图——X射线分析仪器的超高分辨率标准，被应用于：• X射线显微镜• X射线微光束分析• X射线成像等NTT AT的XRESO X射线图应用实例• 上海应用物理所用于实现TXM X射线显微镜的100nm分辨率成像(https://doi.org/10.1017/S1431927618013387)• 上海复旦大学与应用物理所上海同步辐射装置 (SSRF) 中50 nm分辨率X射线成像(https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1674-1056/ab7800) • 德国DESY同步辐射加速器研究所用XRESO西门子星实现纳米聚焦SiC 平面折射透鏡的制造与测试(https://opg.optica.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-29-9-)NTT-AT公司于1976年成立于日本东京。从事X线，极端紫外线等光学配件的销售多年。众多研究者共同在研究开发中积累的设计、制造技术在辐射光科学，阿秒科学，高强度物理学等众多领域享有很高的评价。NTT-AT提供的菲涅尔波带片有高分辨率，高聚光效率，适合被各种辐射光设施使用。另外，分辨率评价图被作为业界的标准，不只是学术研究，在X线的检查装置开发现场也被广泛使用。XUV镜片，XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助，对下一代的光刻研究也有着重要作用。NTT-AT不仅仅提供元件，还提供光学系统。NTT-AT在XUV、EUV、X线领域给予了客户在研发上最大的支持和帮助，助力于客户解决更多的科研需求。 东隆科技创立于1997年，坐落于著名的武汉·中国光谷的核心区。东隆科技一贯秉持“服务创造未来”的宗旨，为客户提供迅捷的高品质服务和技术支持，倍受广大客户信赖。同时，我们与各大厂商还建立了全面深入的合作关系，并联合成立技术服务中心。经过近二十多年的发展，我们已拥有一批专业的技术人才，能够有效地针对客户需求提供专业的产品服务和技术解决方案，力争以最经济、最有效的方式满足客户的应用需求。

来自工厂最新报道，Wasatch Photonics公司生产的Cobra-S超高速OCT光谱仪在谱域光学相干层析（SD-OCT）中开创了一个新的时代。Cobra-S 800 OCT光谱仪是经过行业验证的高通量光谱仪设计、无热光机械和市场上最快相机的结合体。它在进行超高分辨率成像时不但拥有高于常规OCT光谱仪2-3倍的扫描速率，还拥有优于常规OCT光谱仪至少40%的滚降和更高的相机灵敏度。▲上图显示与常规 OCT 光谱仪相比，Cobra-S 800的滚降至少优于竞争者40%，并且拥有更高的相机灵敏度此外Cobra-S 800 OCT光谱仪在250kHz扫描速度和2.5mm成像深度时其滚降▲上图为麻省理工学院的James Fujimoto 提供的视网膜图像，使用Cobra-S进行高分辨率、高速扫描可以对组织和材料样本在不求平均的情况下进行宽场成像。Cobra-S 800光谱仪使SD-OCT比以往任何时候都更快、更容易Wasatch Photonics公司将紧凑、坚固的Cobra光谱仪提升到了一个新的水平，采用了更好的设计、相机和新的USB3.0接口。摆脱了Camera-Link卡的成本和限制，能获得比市面上其它任何SD-OCT(谱域光学相干层析)光谱仪更高的速度和更好的滚降。优秀的Cobra-S 800可兼顾成像所需的速度、清晰度和深度。在血流动力学和振动测量到真皮脉管系统和脉络膜结构的成像应用中具备超高的性能和稳定性。最快的SD-OCT光谱仪将变的更容易使用Wasatch Photonics的Cobra-S OCT光谱仪是高通量光谱仪设计、无热光机械和市场上最快相机的结合体。配置的新USB 3.0接口和专用软件库，让用户在使用笔记本电脑时能更快的实现高分辨率和高速成像。产品特点• 业界领先的线扫描速率：高达250kHz• 低串扰相机&接近光学衍射极限的设计提供卓越的滚降：＜6dB@2.5mm成像深度• 专利VPH光栅；高效率的光学设计与优越的信噪比&亚像素分辨率• USB3.0接口型号轻松实现20-130kHz扫描速率，允许简易、高效的系统集成• 使用我们特有的长范围成像光谱仪成像深度高达12mm• 易于OEM：稳固，紧凑且无热产品参数Wasatch Photonics可以为各类OEM客户定制独特的光谱仪。无论从定制相机、光栅、无热镜头组到传统设计的直接替代品，Wasatch Photonics都可以针对您的成像需求进行优化并制定适合您的解决方案。如需了解更多详情，请随时咨询我们的销售工程师！

恩梯梯尖端技朮株式会社NTT Advanced TechnologyCorporation (下面简称：NTT-AT）与武汉东隆科技有限公司（以下简称“东隆科技”）于2022年4月正式签订代理合作协议。东隆科技主要负责NTT-AT公司在中国区域XUV mirror和X-ray chart产品的销售。NTT-AT公司于1976年成立于日本东京。从事X线，极端紫外线等光学配件的销售多年。众多研究者共同在研究开发中积累的设计、制造技术在辐射光科学，阿秒科学，高强度物理学等众多领域享有很高的评价。NTT-AT提供的菲涅尔波带片有高分辨率，高聚光效率，适合被各种辐射光设施使用。另外，分辨率评价图被作为业界的标准，不只是学术研究，在X线的检查装置开发现场也被广泛使用。XUV镜片，XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助，对下一代的光刻研究也有这重要作用。NTT-AT不仅仅提供元件，还提供光学系统。NTT-AT在XUV、EUV、X线领域给予了客户在研发上最大的支持和帮助，助力于客户解决更多的科研需求。东隆科技创立于1997年，坐落于著名的武汉·中国光谷的核心区。东隆科技一贯秉持“服务创造未来”的宗旨，为客户提供迅捷的高品质服务和技术支持，倍受广大客户信赖。同时，我们与各大厂商还建立了全面深入的合作关系，并联合成立技术服务中心。经过近二十多年的发展，我们已拥有一批专业的技术人才，能够有效地针对客户需求提供专业的产品服务和技术解决方案，争取以最经济、最有效的方式满足客户的应用需求。

PF32不是一个单点的SPAD探测器，而是一个1024个单光子敏感SPAD像素阵列，具有超快的55ps时间分辨率、功能强大，高度紧凑的单光子计数探测器阵列。由于55ps TDC电路包围着每个SPAD像素，导致标准版PF32单光子计数相机的光学填充因子只有1.5%。虽然55ps的时间分辨率和225kfps (8-bit)的吞吐量对于许多应用至关重要，但1.5%的填充因子不免让人觉得有些“捉襟见肘”，给科研人员带来了极大的挑战。为了有效的改善填充因子，Photon Force经过持续不断的努力，新推出了PF32-MLA微透镜版本，该微透镜版本是PF32 SPAD阵列+TDC 单光子计数相机的升级版本——每个SPAD像素上都有一个小透镜(微透镜)，从而有效地将待测光信号聚焦到每个SPAD像素上。这使得PF32-MLA微透镜版SPAD阵列+TDC 单光子计数相机的有效填充因子提高到>12%(均值)。产品特点• 新增：有效填充因子提高到>12%(均值)• 32×32像素 SPAD + 时间相关单光子计数（TCSPC）阵列• 每像素具有独立光子计数• 光子计数 和 TCSPC 双工作模式• Typ, 55ps分辨率• 8bit/10bit TDC, 最大包含255/1,023个时间通道• 8bit/16bit 光子计数深度• 高达150k/225k fps传感器操作和读取• 同步数据采集和读出（无帧间死时间）• 外部激光同步输入，用于TDC STOP信号• 单5V电源（附带）• USB3 接口产品应用• 量子成像 Quantum Imaging• 荧光寿命成像 FLIM• 激光雷达 LIDAR• 单光子成像应用场景超链Photon Force四部曲之如何利用单光子计数相机实现等离子体动力学分析/飞行光学成像Photon Force四部曲之单光子计数相机如何轻松搞定FLIM/FRETPhoton Force四部曲之如何利用单光子计数相机实现散射介质成像Photon Force四部曲之如何利用单光子计数相机追踪动态隐藏目标产品参数

光纤光栅（FBG）作为一种新型的无源器件，为光通信和光传感成功开辟了一条崭新道路，从光纤光栅技术被应用以来，该技术在光纤传感技术和高速光纤通信领域得到了飞速发展。随着光通信的发展，传输速率不断提高，偏振特性对传输质量的影响也更加明显，成为高速光纤通信系统发展的障碍，然而，在光传感领域，偏振效应具有响应速度快、效率高等优势，可以利用光纤的偏振敏感特性进行传感，以及利用器件的超快偏振响应特点进行全光信号处理等，这些使得偏振相关特性的研究十分有意义。测试FBG受压时偏振相关损耗测试加载装置示意图如图1所示，用光矢量分析仪（OCI-V）进行测试，测量模式为反射式测量，一次扫描就可以得出FBG反射式的偏振相关损耗（PDL），测试的FBG中心波长为1548.0-1548.3nm，压力加载装置为将FBG平放在两块钢板之间，在FBG并行位置放置一根相同直径的光纤来保证FBG受压力时保持平衡，在上面钢板上放置不同重量的砝码进行加载，分别为1kg、2kg、4kg、6kg和10kg。图1. 测试加载装置示意图图2. a-0kN、b-10kN、c-20kN、d-40kN、e-60kN、f-100kN各PDL测试图图2为不同压力下的测试图，从中可以看出，FBG在没有压力时中心波长附近光波段的PDL趋近于零，施加压力后中心波长附近两端出现两个波峰（图中画圈的位置），随着压力逐渐增大，波峰峰值越来越大，在压力达到60KN时波峰出现最大值，且随着压力增大两个波峰逐渐靠近，中间PDL趋近于零的平坦区域逐渐缩小，在压力达到100KN时波峰出现畸变，波峰高度有所降低，中间PDL平坦区域消失。综上所述，经测试发现压力会对FBG中心波长附近的PDL造成较大影响，随着压力增大中心波长两端PDL波峰峰值逐渐变大，PDL较小区域逐渐缩小直至消失，压力过大时会使中心波长附近波段的PDL出现畸变。通过OCI-V能够快速测试出FBG的偏振相关损耗，利用其偏振相关特性可以判定FBG的性能优劣，为其能否准确进行通信传输和光学传感提供了判断标准。光矢量分析系统OCI-V

前言：超导纳米线单光子探测器（SNSPD）是一种量子极限灵敏度的光探测器。它的基本原理是利用光子能量实现超导纳米线库珀对的拆对，从而在超导纳米线局域发生超导-非超导相变。和传统半导体单光子探测器相比，它具有探测效率高、暗计数低、时间抖动小、死时间短、宽谱响应以及自由运行等优势。高性能SNSPD已经在量子信息、激光通信、激光雷达等领域得到了广泛应用。Opus One™超导纳米线单光子探测器系统配有定制的紧凑型桌面低温恒温器（预先安装的16/32通道以及低温恒温器中的所有电接线），光学实验室友好型水冷压缩机（低空气循环，低噪声，低热量输出），偏置和高速放大器电子元件以及易于使用的软件控制库。其专有的纳米线材料允许纳米线工作在另外，Opus One™超导纳米线单光子探测器，采用的是4U~5U（通道数相关）机箱设计：随着应用的场景多样化，Quantum Opus公司又推出了便携式、可移动、一键冷却的超导纳米线单光子探测器，它的尺寸是L 68.6cm* W 48.8cm* H 112.3cm，其指标同Opus One一样，没有任何改变，唯一变化的是它变的更轻便、小巧，更讨人喜欢！▪ 工作温度在2.5k可达到最高探测效率▪ 探测效率>90%@1550nm▪ 计数率>40MHz!!无PDE下降▪ 暗计数在我们每次看到产品的一次次升级一次次迭代，都离不开背后优秀的研发团队，更离不开企业的创始人支持。下面让我们一起认识下Quantum Opus公司创始人：创始人之一Aaron J. Miller博士，在超导光子探测器技术和低温系统方面深耕细作20多年，其中包括半导体和超导体器件设计、制造流程、设备安全、工艺开发、光纤耦合和低噪声电子设计等。他于1995年在阿尔比恩学院获得物理学和数学学士学位，2001年在斯坦福大学获得物理学博士学位，2001年至2005年在NIST (Boulder, CO)从事探测器和系统开发工作，2005年至2014年在阿尔比恩学院任教。另一创始人Josh a . Cassada博士在高能物理，特别是编程分析和建模方面拥有丰富的经验。他于1995年获得阿尔比恩学院的物理学学士学位，并于2000年获得罗切斯特大学的物理学博士学位。在创立Quantum Opus公司时，Josh领导Quantum Opus完成了光子探测产品制造工艺流程的开发。在2013年6月，他还被选为美国宇航局第21届宇航员班的八名成员之一。

近日，Wasatch Photonics公司推出了一款新型OCT光谱仪，为其Cobra OCT光谱仪产品线增彩不少，该光谱仪专为OEM厂商轻松集成到OCT成像系统而设计。Cobra OEM是一款小尺寸、低重量的光谱仪，针对800 nm光谱 OCT (SD-OCT) 成像进行了优化处理，并且基于可配置的光学机械工作台设计，适合批量生产制造。它以公司现有的 Cobra OCT 光谱仪系列为基础，扩大了其在各种“交钥匙”系统中的应用，比如眼科、眼科手术、材料加工、激光焊接、表面拓扑和微电子封装的工业检测等。Cobra OEM OCT光谱仪提供多种带宽可选，中心波长为840nm，每一种都能完美匹配商业上可用的超辐射发光二极管(SLD)光源，从而促进紧凑、经济的OCT成像系统的批量生产。其重量仅0.7kg，使用Wasatch Photonics的c++、c#、LabView和MatLab快速访问软件开发套件，最大线扫描速度高达250kHz。不仅采用了高效的光学设计，还为高灵敏度和低滚降进行了优化处理，并具备旗舰产品Cobra-S OCT光谱仪同等性能，实现高质量的成像。同时，还采用Wasatch Photonics的专利体相位全息(VPH)光栅技术、量产紧凑型OEM光谱仪核心模块和垂直集成制造。Wasatch Photonics在OEM OCT光谱仪方面有着丰富的经验，能让系统开发人员顺利的加速产品的设计，提升产品的迭代效率，还能大大降低设计风险和开发成本，最终快速的实现批量生产。光栅和OCT产品线副总裁Neil Anderson表示：全新的Cobra OEM OCT光谱仪无论在设计、性能和可配置性方面，都堪称为改变“游戏规则”的产品，它可以满足各种不同终端市场OEM仪器公司的应用需求。Wasatch Photonics公司秉承客户服务至上的原则，研发团队以高效、快速的效率推陈出新，与时俱进，夯实产品品质，助力加快客户在新产品开发项目中的性能提升。

OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗， 进而判断此测量范围内链路的性能。该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接 点。其事件点定位精度高达几十微米，最低可探测到-80dB光学弱信号， 广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。针对光纤微裂纹检测仪（OLI）我们有了初步的认识，那它在实际应用中有哪些特点？测试原理光纤微裂纹检测仪（OLI）基于光学相干检测技术与光外差检测技术相结合，其基本原理如下图所示。图1. OLI光纤微裂纹检测基本原理光源发出宽带连续光被耦合器分为两路，其中一束作为参考光，另一束作为探测信号光发射到待测光纤中。探测光在光纤中向前传播时会不断产生回波信号，这些回波信号光与参考光经过反射镜后反射回耦合器发生拍频干涉，并被光电探测器检测。电机控制反射镜Z移动进而改变参考光光程。光电探测器检测到的光电流可以表示为：其中，β为光电转换系数。上述表达式中前三项均被滤除（两项为直流项，一项为高频项），只剩最后的拍频项。WL-WS为拍频频率fb，通过设计带通光电转换电路，检测拍频信号。图2. OLI距离-反射率曲线依照光干涉理论，要发生干涉现象，其光程差需在相干长度范围内，而宽谱光的相干长度非常短，当反射镜移动时，从DUT返回的回波信号与反射镜相等距离的反射信号发生拍频。通过处理最终的拍频信号，DUT链路上每点反射回来信号的强度可以映射为该点的反射率（即曲线纵坐标），DUT的实际干涉位置对应反射镜Z移动的相应距离（即曲线横坐标），从而形成了OLI距离-反射率曲线。测试案例//案例1：测量FC/APC接头图3. 盖紧的防尘帽图4. 测试结果防尘帽盖紧测量结果显示三个峰，第一个峰为FC/APC接头端面反射、第二个峰和第三个峰为防尘帽尾端两个反射，如图5所示。第一个峰和第二个峰之间相距1.47mm。图5. 峰值示意图图6. 防尘帽向后移动向后移动防尘帽，测试结果如图7所示有三个峰，后两个峰值有所降低，因为光在空气中传输距离变长，损耗变大，第一个峰和第二个峰间距变为3.40mm，第二个峰和第三个峰的距离不变，峰值位置符合上述分析。图7. 测试结果以上峰值间距在折射率为n₁=1.467（设备默认折射率）下测得，则防尘帽向后移动距离L₁=(3.40mm-1.47mm)=1.93mm，但光在空气传播，折射率为n₂=1，所以防尘帽实际向后移动距离L₂=L₁*n₁/n₂=2.83mm。//案例2：G-lens长度测量图8. 单波长渐变折射率透镜与插芯耦合示意图端面为斜8°的单波长渐变折射率透镜（G-lens）与带光纤的插芯耦合在一起，测量G-lens长度。图9. 实际示意图图10. OLI测量结果测试结果如图10所示，第一个峰值为插芯与G-lens耦合面反射峰，第二个峰值为G-lens尾端反射峰，测试结果中dx=2.9mm为G-lens光程长度，是在折射率为n₁=1.467（设备默认折射率）下测得，而G-lens的实际折射率为n₂=1.6，则G-lens的实际长度为L=dx*n₁/n₂=2.66mm。结论光纤微裂纹检测仪（OLI）可以精确定位整个扫描范围内的回波损耗，实现微米级光纤链路或光学器件的微损伤检测。如需了解更多详情，请随时联系我们的销售工程师！

去年东隆科技就已推出国内首款自研产品，拥有OFDR技术的OCI 高分辨光学链路诊断仪，经过一年多的市场考验，成功的获得了众多客户的青睐和认可。 随着与各领域工程师和研究人员的日常沟通了解到，由于实际应用场景的不同，测试指标和具体参数多样化的特性，而单一的产品不能有效满足需求。因此，东隆科技研发部经过多方面的调研和考察，陆续推出了拥有OFDR核心技术的众多产品线，它们无论从产品性能、各参数指标、还是价格均能满足不同客户的实际需求，并且在技术支持和售后服务方面，东隆科技还能做到7*24小时随时应答，48小时上门解决！第一时间为客户答疑解惑！ 近日，东隆科技推出的LGA50高分辨光学链路诊断仪，其原理是基于光频域反射（OFDR）技术，测量长度50m,单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。LGA50还可以轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。它广泛的应用于光器件、光模块测量，光纤长度精准测量，硅光芯片测量，和光谱、群延时测量。产品特点• 波长范围：1525~1615nm• 空间分辨率：10μm@50m• 测量长度：50m• 自校准，无需人为干预，稳定性好产品参数备注：1. 长度可扩展到100m；2. 不同模式下测量时间不同；3. G·652D光纤瑞利散射高于底噪16dB。

日前，东隆科技推出了光通信测量系统——全系产品线：OCI系列高精度OFDR设备、OLI低成本光学链路诊断系统、SSA扫频光谱分析系统、LGA50高分辨光学链路诊断仪，新机箱升级发布！本次新机箱升级有哪些亮点？为什么要升级？请跟随我们一起探究！OFDR频域反射仪机箱升级是为了让用户拥有更好的体验和使用，在不改变整体架构的情况下，进行了局部功能和细节的调整。在外观、防尘、抗震方面做出了重点改造。外观：未来科技感拉满打破最常态的黑色科技感，将机壳的“黑曜蓝”与面板的“流光银”相结合，潜意识中流露出个性，极富“未来感与科技感”。机箱整体采用CNC一体式加工，一方面增强了设备质感，给客户提供更好的视觉体验，另一方面加工出来的产品具有高度柔性，在产品变形后，只需变换加工程序、调整刀具参数等即可进行新零件加工，便于研制、开发新产品。防尘：更通风散热旧设备进风口在侧面，出风口在背面，风在设备中循环时，必须要被动转弯，针对这一点，我们直接将进风口放在前面板，人工制造出直流风口，极大提升散热性能，同时我们在所有风口处都做了防尘处理，能够有效防止外界灰尘进入接口内部，延长设备使用寿命。抗震：耐冲击，稳定性更高在推广OCI全系列高精度光学链路诊断仪时我们会提到，设备是自校准、无需人为干预，关于这一点，也是我们研发人员为了用户使用的便捷和智能，花费很大精力才得以实现的，新机箱在原有抗震基础下，更加专注于单个器件的抗震，优化整体电路，加固内部零件，更大程度提升设备的稳定性，也使得设备能随意拖动、快递运输以及能在复杂的场外环境中正常使用。机箱更新换代是每个经受过市场考验的产品的必经之路。小到一个螺丝钉，大到整个机箱架构，产品的供求不再是简单的厂商设计到卖掉这么简单，而是紧随市场的需求随时改变制造或者创造。如需了解更多产品详情，请随时与我们的销售工程师联系！

OFDR插损测量原理光频域反射技术（OFDR）可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线，利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。图1.背向散射法测量原理如图1所示，假定DUT前后测量位置为1、2，其对应的光功率分别为P₁、P₂，对应的散射系数分别为α₁、α₂，则其对应的反射光功率分别为：Pr₁=P₁×α₁、Pr₂=P₂×α₂。①DUT的插损为：IL=-10lg (P₂/P₁)②1、2处的回损分别为：RL₁=-10lg(Pr₁/P0)、RL₂=-10lg(Pr₂/P0)。当1、2处光纤的散射系数相同时，可推导出IL=(RL₁-RL₂)/2背向散射法是反射式测量，光信号往返两次经过DUT，因此需除以2。光纤连接损耗出现负值现象光纤连接处只能引起损耗而不能引起“增益”，OFDR是通过对比连接处前后位置的回损强度来对连接处的损耗进行计算，当连接处前面光纤的回损强度大于后面光纤的回损强度时，会引起连接处插损出现负值的现象，从而引起所谓的“伪增益”。如图2所示，两种不同的光纤熔接后，正向测试为-0.2dB的损耗（0.2dB的增益），反向测为0.4dB的损耗，实际上连接处始终会存在损耗，不可能出现增益情况。图2.两种不同光纤的熔接损耗图导致“伪增益”的主要原因是由于连接处前后两种光纤的瑞利散射系数、模场直径和折射率等有差异，此种情况经常出现在不同型号的两种光纤熔接在一起时。这种“伪增益”会导致使用OFDR测得的损耗不准确，为了准确测量连接处的损耗，我们做了以下测试。测试验证将单模光纤、保偏光纤、直径125μm和80μm的聚酰亚胺光纤、特种光纤等五种光纤两两熔接在一起，如图3所示，A、B为五种光纤中的任意两种，使用双向平均法测试连接点损耗。图3.光纤连接示意图假设x表示瑞利散射强度差，y表示连接损耗。▪ 当正向测量时，熔接点处的插损为a，则x+y=a（公式1）；▪当反向测量时，熔接点处的插损为b，公式变为-x+y=b（公式2）。通过公式1、2的加减，可以测出两种损耗的真实大小。图4、5为单模光纤与特种光纤连接时正向和反向测量得到的结果示意图。图4.正向测量图5.反向测量5种光纤两两连接进行测量，每组测量5组数据，取其平均值，用上述公式进行计算，得到测量结果如下表1、2所示。同时，我们使用功率计测量两两光纤熔接时的真实损耗。首先将功率计直接连接设备出光口，测得出光口光功率为1.636mW，然后按图6进行连接，这里例举单模光纤和特种光纤。功率计测得光功率为1.012mW，通过公式10lg（Pout/Pin）计算出损耗为-2.086dB，由于链路中有两个连接点，则一个连接点的损耗为-1.043dB，与表1中单模光纤和特种光纤连接损耗仅差0.106dB。图6.功率计测试连接点损耗示意图结论由此得出，使用OFDR测量不同种类光纤连接损耗有两种方法：1.使用双向平均法测量不同种类光纤的连接损耗，将两次测量结果取平均后就是熔接处真实损耗；2.通过提前测量不同种类光纤之间的瑞利散射强度差，然后用背向散射法测得的损耗减去（或加上）瑞利散射强度差，即可得到真实连接损耗。

TRPL Mapping系统简介：时间分辨荧光共聚焦显微成像及光谱系统 MicroTime100 & FluoTime300将正置共聚焦荧光寿命显微镜和荧光寿命光谱仪结合在一起，能实现几百nm的空间分辨率和ps~s的荧光寿命测试和光谱测试。能用于检测：荧光共聚焦成像、荧光寿命成像、时间分辨光谱、稳态激发/发射谱、时间分辨荧光共聚焦显微光谱、自由选取ROI的微区（时间分辨）荧光成像和（时间分辨）光谱，并且支持升级单分子光谱功能（闪烁，反聚束）、拓展了FLIM和红外部分，完全适用于诸多薄膜、纳米材料的研究，是研究时间分辨光致发光的理想工具。TRPL Mapping系统工作原理图：TRPL Mapping系统产品组合：主要特点：•  在共聚焦成像基础上，可选点做微区PL、TRPL测试•  半导体激光器波长从375nm到1060nm可选•  可配置多个单光子探测器，用于反聚束检测•  纳米级XYZ 扫描台•  几百nm的空间分辨率，皮秒到秒级别的寿命测量范围•  探测波长范围从350nm至1000nm可选，可扩展至1700nm•  高配版光谱仪支持氙灯激发，低温和量子产率扩展主要功能：• 荧光寿命成像 （FLIM）• 磷光寿命成像（PLIM）• 荧光共振能量转移（FRET）• 模式匹配分析• 时间分辨光致发光（TRPL）• TRPL 成像• 反聚束效应主要应用：• 单分子光谱/探测• 单线态氧研究• 荧光上转换• 荧光各向异性研究• 稳态荧光光谱测量• 量子产率测量• 光化学研究• LEDs，OLED，量子点检测应用实例:1、TRPL for Semiconductor Analysis—Device Architecture Characterization用于半导体分析的TRPL——器件结构表征2、CIGS MAPPING对CIGS材料的mapping，通过荧光寿命的分析，可以直观看出缺陷3、perovskite solar cells4、Carrier diffusionGaAsP 量子阱系统中的载流子扩散卤化物钙钛矿晶体中的载流子扩散通过对时间和三维空间的4维数据的采集，可以可视化半导体/太阳能电池不同区域和深度的载流子扩散。因此，它们可以揭示载流子扩散的局部变化以及诸如载流子缺陷和晶体边界等微尺度的异质性。如需了解更多详情，请随时咨询我们的销售工程师！

近日，在德国柏林最近的一次网络研讨会上，PicoQuant向大家展示了其最新的激光创新良心之作：独立的、全电脑控制的激光模块Prima。PicoQuant公司的产品经理Guillaume Delpont阐述了这款激光器的设计初衷：“许多科研人员在工作中都面临着同样的困难，那就是他们需要多个激发波长来研究他们的待测样品，而购买多个激光器又会变得非常昂贵。PicoQuant公司为了给科研人员面临的共同挑战提供解决方案，最终依托自身在激光开发方面长达25年的专业背景和研发实力，创造了Prima—— 一种经济实惠、紧凑的激光模块，可以发出红色、绿色和蓝色的脉冲激光。”Prima——三色皮秒脉冲激光器Prima是一款独立、紧凑、价格合理的激光模块，提供3个独立的发射波长，可以在皮秒脉冲和连续波(CW)模式下工作。皮秒脉冲可以由Prima模块的内部时钟触发，也支持高达200MHz的外部触发。该模块采用全电脑控制，操作非常简单：通过USB端口将Prima连接到PC端，所有操作参数的更改都可以通过一个方便的软件接口完成。 红、绿、蓝：三种最有用的波长Prima可以提供三种波长的激光：640nm、515nm和450 nm。每种颜色都可以单独输出，每次输出一个波长。 这三种颜色是材料科学、化学和生命科学中最常用的3种波长，广泛应用于光谱学或显微镜应用的常规激发，进行种类多样待测样品的研究，其中包括新型纳米材料、量子点、分子和荧光团。 Prima是一款几近完美的工具：当涉及到日常实验室任务时，能够满足您的大多数需求，如寿命或量子产率测量，光致发光和荧光测量等。 灵活多样的工作模式：脉冲、连续和快速开关模式在进行时间分辨或稳态测量的时候，无论您需要哪种类型的操作模式，Prima的灵活性都可以轻松实现。Prima同时也支持快速连续开关功能。脉冲模式支持内触发和外触发，内触发的重频率范围从100 Hz至200 MHz可调，外触发支持的重复频率范围从单次脉冲至200 MHz。 每个波长的平均输出功率高达5mW。在CW工作模式下，每个波长可以达到更高的平均输出功率(高达50 mW)。在CW工作模式下，进行ON和OFF状态切换的上升/下降时间小于3 ns。 恒定的重复频率可以通过内部触发来进行设置，Burst工作模式也可以由合适的外部触发源实现触发(例如，PicoQuant的Sepia PDL 828的振荡器模块)。您甚至可以将Prima与其他激光模块组合使用，从而实现更为复杂的激发模式，不仅包括Burst模式，还包括脉冲交替激发(PIE)或交替激光激发(ALEX)。 这使得Prima成为一个通用的工具，可以在许多环境中使用。 易于使用作为一个独立的激光模块，Prima不需要任何其他外部激光驱动对齐进行控制。其参数设置和操作通过一个基于成熟的Sepia的图形用户界面软件进行全电脑控制。

众所周知，在半导体激光器里，最常见的是高功率、宽谱宽的FP腔激光器，以及窄线宽、低功率的DFB激光器，而即拥有高功率又拥有窄线宽的激光器比较少见。近日，东隆科技新推出了一款高功率DFB半导体激光器，光纤输出功率超过120mW，同时拥有MHz的线宽。它同样采用的是分布式反馈(DFB)激光器，兼顾大功率和MHz级别窄线宽。可选波长为1270 nm,1290 nm,1310 nm,1330 nm等CWDM波段。标准为蝶形封装，同时也接受其它封装形式的客户定制。产品特点：·高功率DFB激光器·输出功率大于120mW·线宽MHZ·14PIN蝶形封装，其他封装可接受定制·波长范围1270 nm，1290 nm，1310 nm，1330 nm （如需其它波长，请单独咨询）主要应用：·光通信·传感·仪器仪表·雷达、测距产品参数：标准尺寸图：管脚定义：典型P-I曲线测试举例：

夏天是彻底来了，脚步也跟着轻盈起来。每一口西瓜，每一个故事，都将深深烙进夏的底色中。而夏日的“阳光”，犹如VPH全息光栅，五彩斑斓。现回馈广大客户，特价促销，钜惠难得，一囤到底。少量库存先到先得冰点价至4399元买到即赚到下单即发货促销详情，请扫码查看活动时间：2021年7月10日-9月10日产品特点：· 波长范围350 nm-2500 nm· 单波长下衍射效率>99%· 200 nm-300 nm带宽内>80%的衍射效率· 无鬼影、低散射· 易于操作清洁· 低成本OEM&定制光栅设计产品应用：· 脉冲压缩和展宽· 高光谱成像· OCT光谱仪&拉曼光谱仪· 光学相干断层扫描

高通量多通道事件计时器MultiHarp150时间分辨率提升至5ps近日，德国PicoQuant公司在官网上发布了MultiHarp150P高通量多通道事件计时器的多个型号免费固件升级更新通知。此次固件升级更新的主要特点之一是将MultiHarp150 4P、8P和16P的时间分辨率从10ps免费提高到5ps，而其它参数，例如出色的数据吞吐量或系统的超短死时间完全不受影响。除了时间分辨率的提升外，此次更新还将带来一个可编程输入迟滞的新功能，用于在恶劣环境中抑制噪声。对于亚纳秒死时间的事件计时器，MultiHarp150P拥有最佳的时间分辨率，从而使其成为TCSPC电子设备的理想选择，该设备不仅可以用于快速精确的荧光寿命成像(rapidFLIM)，亦可用于高通量多通道光子相关方面的应用。MultiHarp150 P是一款即插即用型多通道事件计时器及时间相关单光子计数(TCSPC)系统，拥有极快的信号处理速度。它通过USB 3.0高速接口与电脑连接。MultiHarp150 P有4个、8个、16个探测通道，以及一个共用的同步信号通道，使它们成为生命、材料科学以及计量学和基于单光子的量子技术等诸多时间分辨应用的绝佳选择。同时，MultiHarp150 P拥有White Rabbit计时网络接口，以实现长距离同步。White Rabbit是一种高时间精度(亚纳秒级别)远距离同步计时网络，它基于以太网。而Multiharp150 P具备有该接口，使其可以连接到White Rabbit网络中。“对于已经拥有10ps时间分辨率MultiHarp150 P的客户，更新过程非常简单且免费。”PicoQuant公司Photon Counting产品线的销售负责人及应用专家Torsten Langer博士说。“如果您在升级过程中需要我们给予协助支持，随时和联系我们。”更新软件包下载贴士：通过下面两步，轻松实现MultiHarp 150 P的升级1)下载并执行“Updater MH150 P 10ps to 5ps”(安装指南包含在Readme.txt中)Updater MH150P 10ps to 5ps2)下载并安装“new software package with the new drivers (V3.0)”new software package with the new drivers

来自德国最新报道，专注于在大功率激光光斑分析仪和功率计，并拥有众多卓越性能的高品质产品——德国PRIMES公司宣布从2021年6月起，旗下的PowerMeasuringModule PMM功率测量模块开始销售新版本PowerMeasuringModule PMM AP3s功率测量模块，并且PowerMeasuringModule PMM AP3s（410-050-042）型号已上市，其匹配的通讯接口也将陆续推出市场，敬请期待！那么，全新上市的PowerMeasuringModule PMM AP3s有哪些惊人之处，请跟随小编一起揭秘吧！A——Advanced absorber，升级版吸收体升级版吸收体最大功率密度4kW/cm²，最大功率12kW. 升级版吸收体采用特别设计的铜质结构，取代了旧版本的铝质吸收体。P——measuring Pulsed radiation，可测量脉冲激光全新PMM AP3s 除了测量连续激光之外，增加了对脉冲激光的功率测量。其对应的参数范围：·重复频率≤10kHz @50%占空比·脉冲宽度≥50µs3s——超快的测量数据处理速度，最长只需3s旧版本PMM完整的测量、数据处理总时间需要大约15s，全新 PMM AP3s只需要3s，重复精度不变，实现了高速高精度的测量。M——全新升级的主板全新升级的主板， 主要对通讯的稳定性做了重大调整，其对应的是全新的调用通讯文件(GSDML, GSD, EDS …)，旧版本的调用通讯文件不再兼容，请重点关注！特别说明：为保证PMM AP3s和 PMM 新旧版本的平稳过渡，PRIMES将会在2023年全面停止生产旧版本PMM。  PowerMeasuringModule PMM