时间分辨荧光共聚焦显微成像及光谱系统TRPL Mapping

TRPL Mapping系统简介：
时间分辨荧光共聚焦显微成像及光谱系统 MicroTime100 & FluoTime300将正置共聚焦荧光寿命显微镜和荧光寿命光谱仪结合在一起，能实现几百nm的空间分辨率和ps~s的荧光寿命测试和光谱测试。能用于检测：荧光共聚焦成像、荧光寿命成像、时间分辨光谱、稳态激发/发射谱、时间分辨荧光共聚焦显微光谱、自由选取ROI的微区（时间分辨）荧光成像和（时间分辨）光谱，并且支持升级单分子光谱功能（闪烁，反聚束）、拓展了FLIM和红外部分，完全适用于诸多薄膜、纳米材料的研究，是研究时间分辨光致发光的理想工具。

TRPL Mapping系统工作原理图：

TRPL Mapping系统产品组合：

主要特点：
•  在共聚焦成像基础上，可选点做微区PL、TRPL测试
•  半导体激光器波长从375nm到1060nm可选
•  可配置多个单光子探测器，用于反聚束检测
•  纳米级XYZ 扫描台
•  几百nm的空间分辨率，皮秒到秒级别的寿命测量范围
•  探测波长范围从350nm至1000nm可选，可扩展至1700nm
•  高配版光谱仪支持氙灯激发，低温和量子产率扩展

主要功能：
• 荧光寿命成像 （FLIM）
• 磷光寿命成像（PLIM）
• 荧光共振能量转移（FRET）
• 模式匹配分析
• 时间分辨光致发光（TRPL）
• TRPL 成像
• 反聚束效应

主要应用：
• 单分子光谱/探测
• 单线态氧研究
• 荧光上转换
• 荧光各向异性研究
• 稳态荧光光谱测量
• 量子产率测量
• 光化学研究
• LEDs，OLED，量子点检测

应用实例:
1、TRPL for Semiconductor Analysis—Device Architecture Characterization
用于半导体分析的TRPL——器件结构表征

2、CIGS MAPPING
对CIGS材料的mapping，通过荧光寿命的分析，可以直观看出缺陷

3、perovskite solar cells

4、Carrier diffusion
GaAsP 量子阱系统中的载流子扩散

卤化物钙钛矿晶体中的载流子扩散

通过对时间和三维空间的4维数据的采集，可以可视化半导体/太阳能电池不同区域和深度的载流子扩散。因此，它们可以揭示载流子扩散的局部变化以及诸如载流子缺陷和晶体边界等微尺度的异质性。