电子类产品冷热冲击试验方法冷热冲击试验箱

电子类产品冷热冲击试验方法冷热冲击试验箱：

原理：

1、冷热冲击试验(气体)

有两种实现方式，一种为手动转换，将产品在高温箱和低温箱之间进行转换，另一种为冲击试验箱，通过开关冷热室的循环风门或其它类似手段实现温度转换。其中温度上限、温度下限为产品的存储极限温度值。

2、冷热冲击试验(液体)

比试验来源于IEC 60068-2-14试验方法N:温度变化中的NC。实现方式为吊篮式，将产品放置在吊篮中按照要求得入不同的温度液体中。

冷热冲击试验参考标准

EC 60068-2-14，GB/T 2423.22，GJB 150.5 等

试样制备：

1、温度范围: -70～150℃

2、漏度范围: 20～98%RH,湿差: 土2.5%RH

3、温度速率:可依据客户要求任意设定

4、内箱尺寸: 800*520*600mm

各类标准中的冷热冲击试验均来源于IEC 60068-2-14试验方法N: 温度变化中的Na 。在特定时间内快速温度变化试验。

试验目的可以应用于模拟产品遇到极端温度情况下的工作情况，产品中大量的慢温度循环，对应实际电子类产品温度循环，用较快的温度变化率及更宽的温度变化范围。失效模式为因老化和不同的温度膨胀系数导致的材料裂化或密封失效。

预处理: 将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定初始检测:将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。

试验方法:

1.试验样品应按标准要求放置在试验箱内，并将试验箱(室)内温度升到指定点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳E以时间长都为准

2.高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

3.低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准

4.重复上述实验方法，以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差.

恢复:试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定最后检测:对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。