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北京中航时代仪器设备有限公司

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击穿电压仪器设备

品牌: 中航时代
产地: 北京
型号: ZJC-100kV击穿电压仪
报价: ¥2万 - 14万
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核心参数

击穿电压: 100KV

产品介绍


1.目的

本方法用于测试工频下(50Hz〜60Hz)的介质击穿电压。

2.试验条件

试验在室温下(23±5)°C进行。

3.仪器与材料

本试验所需适用于规定程序的仪器和材料如下:

a)高压击穿试验仪:电压最小量程为50kV,额定功率为5kW。带有升压速率为500V/s的监控装置;

b)盛装击穿电压大于规范要求的绝缘油(变压器油等)的油槽;

c)锥形电极装置:两根,用铜或钢制成,小头端直径为(4.5士0.2)mm,大头端直径为(6.5±0.2)mm(锥度为2%),表面粗糙度尺a最大允许值为1.6ym,上下两端带有圆帽头(直径为12mm)以防放电;

d)额定耐压应高于测试仪的高压测试导线;

e)恒温水浴锅,盛装蒸馏水,能保持(50±2)°C;

f)放在水浴内支撑和分隔试样,使试样所有表面均浸入水中的支架;

g)无滅纸巾或无域布;

h)0s〜60s的计时器;

i)附录A所需的设备与材料。

4.试样

试样为长约为76mm宽约为50mm的长方形,厚度为板厚。数量为4个,按增强材料的横纵向各取2块。沿长边中心线和短边中点对称处钻两个直径为5.0mm的圆孔,两孔间距(25±l)mm,如图1所示。用附录A规定的蚀刻方法将所覆铜箔去除。

图1


5.程序

5.1试样预处理

除另有规定外,试样应在保持(50±2)°C的蒸馏水中处理481h,然后将试样浸人室温蒸馏水中0.5h〜4h。在含水量基本不变的情况下使试样达到温度平衡。

5.2试验

试验步骤如下:

a)确定起始电压;

1)从室温水中取出第一块试样,用无绒毛纸巾或布擦干。将第一块试样插人夹具中,从试样两面插入锥形电极,如图2所示;

2)电极两端套上铜质圆帽头,并将试样夹浸入油槽内,一个锥形电极接高压线,另一个锥形电极接地线。调节高压测试仪的变压器到合适的档位,使其能在击穿时满足所要求的电压和电流;

3)启动测试仪,以500V/s的速率升高测量电压。观察试样,直至击穿。记录击穿时的电压,以确定另一块试样的起始电压。

注:如油出现击穿,而试样未有明显损伤,建议用同批另一试样重试,油宜过滤或更换。

2击穿电压(平行层向)电极插入试样示意图


b)测试击穿电压。

1)从室温水中取出第二块试样,擦干,插入电极夹具中,放人油槽中;

2)根据第一块试样确定起始电压,将起始电压置于瞬时击穿值的50%,按表14逐级升压,

每一步施加电压60s,直至材料击穿或油被击穿为止;

3)记录击穿电压,精确至1kV,如材料未击穿,则记录为“NB”。依次完成剩余的试样测试


表1逐级升压试验的电压增量

5.3报告

除相关的规定外,试验报告还应包括:

a)如所有试样击穿,报告击穿的单个值和所有试样的平均值,例如:平均85kV;

b)如有试样未击穿,报告平均值时,在一个或两个未击穿试样数值后加“+”号,例如:平均82+kV2NB;

c)如所有试样未击穿,报告油击穿的最小值,例如:75+kVNB;

d)测试中的任何反常现象或与本方法的任何差异。



1.目的

本方法用于测试工频下(50Hz〜60Hz)覆铜板绝缘基材在垂直于板面方向的介质击穿电压。本方法适用于厚度小于0.5mm的覆铜板。

2.试验条件

试验在室温(23土5)°C条件下进行。

3.仪器与材料

本试验所需适用于规定程序的仪器和材料如下:

a)高压击穿试验仪,电压最小量程为25kV,额定电流一般为40mA,额定功率5kW。带有升压速率为500V/s的监控装置和一个电压表。在整个实际击穿电压(1kV〜20kV)范围内的示值误差应在5%以内;

b)盛装击穿电压大于规范要求的绝缘油(变压器油等)的油槽;

c)电极装置,试验电极由上下两个电极组成,见图3。上电极的直径为50mm,下电极直径为75mm,上下电极底面边缘倒圆成半径6mm的圆弧,上电极应有一定的质量,使试样与电极间接触紧密;

d)额定耐压应高于测试仪的高压测试导线;

e)恒温水浴锅,盛装蒸馏水,能保持(50±2)°C;

f)支架,放在水浴内支撑和分隔试样,使试样所有表面均浸入水中;

g)无绒纸巾或无绒布;

h)千分尺,分辨率为0.002mm;

1)附录A所用的设备与材料。

说明:

1--上电极;

2--试样;

3--下电极;

R---边缘倒圆半径,6mm

图3电气强度(垂直层向)电极示意图

4.试样

试样为边长约为1〇〇mm的正方形,厚度为板厚,要求试样边缘不产生飞弧,数量为3个。用附录

A的蚀刻方法除去所覆铜箔。

5.程序

5.1试样预处理

除另有规定外,试样应在保持(50±2)°C的蒸馏水中处理48+〗h,然后将试样浸入室温蒸馏水中0.5h〜4h。在含水量基本不变的情况下使试样达到温度平衡。

5.2设备安装

按照承制方的说明书的要求调节高压测试仪,使其电压范围满足材料试验要求。设定试验升压速

率为500V/s。连接电极线,使一个电极接高压,另一个电极接地。

5.3电气强度测试

测试步骤如下:

a)从室温的水中取出预处理的样品,用无绒毛纸巾或布擦干;

b)用千分尺测定并记录试样每个边距边缘25mm处四个中心点的厚度;

c)将试样插人夹具中心,浸没于油槽中,以防止飞弧;

d)启动测试仪,以500V/s的速率升压,观察击穿时测试仪指示的电压值;

e)记录击穿电压,准确到0.1kV。

注:从油介质中取出试样,检查是否击穿。如果不明显,重新插人试样,注意对准中心,重新进行测试。如出现飞

弧,应使用较大尺寸的试样或更换新油。

6.结果计算

取所测的每一个边(共四点)厚度的平均值作为试样厚度,按式(25)求出每块试样的电气强度,以三块试样的电气强度的平均值作为试验结果,准确至0.1kV/mm。

式中:

U——电气强度,单位为千伏每毫米(kv/mm);

V——击穿电压,单位为千伏(kV);

t----试样厚度,单位为毫米(mm)。

7.报告

除标准规定外,试验报告还应包括:

a)电气强度的算术平均值,以kV/mm表示,准确至0.1kV/mm;

b)测试中的任何反常现象或与本方法的任何差异。



1.目的

本方法用于测试固体绝缘材料材料的表面电阻率和体积电阻率。

2.仪器与材料

本试验所需适用于规定程序的仪器和材料如下:

a)能满足如下条件的湿热试验箱:

1)湿热试验箱1,能保持温度(35±2)°C或(40±2)°C,相对湿度90%〜95%;

2)湿热试验箱2,能保持温度25=°C〜(65±2)°C,相对湿度85%〜93%的20个温度循环周期;

b)空气循环式烘箱,能保持规定的温度,其偏差为±2°C。在条件处理期间,保持试样表面与试验箱中的气流方向平行;

c)高阻计或等效电阻设备,具有符合相关产品规范的量程,且在量程范围内允许相对测量误差为±5%,能对试样施加500V的直流测量电压;

d)连接导线,能将试样保持在处理箱中测试,三根独立的带有同轴屏蔽的电缆。电缆的中心导体一端连接试样的电极,另一端连接电阻测试仪,其中连接试样保护电极的电缆的另一头接地;

e)千分尺,分辨率为0.002mm;

f)测量夹具,带有屏蔽盒;

g)导电银漆,或其他等效材料;

h)附录A所需的设备与材料。

3.试样

测试试样要求如下:

a)基材厚度大于或等于0.50mm时,试样尺寸为(100±l)mmX(100±l)mm,厚度为板厚,对每

个试验条件各准备三块试样;

b)基材厚度小于0.50mm时,试样尺寸为(50±1)mmX(50±1)mm,厚度为板厚,对每个试验条件各准备三块试样;

c)试样上的覆铜箔面,用合适的印制电路工艺方法(如丝网印刷)和附录A规定的蚀刻方法,制成如图35所示的电极导电图形,图形尺寸见表15;

d)试样上的未覆铜箔面,用导电银浆或其他等效材料涂敷成图35b)所示的图形(若有能与有效面积紧密接触的电极夹具,可不涂敷导电材料)。

说明:

t-试样厚度,单位为毫米(mm);

Ld试样长度,单位为晕米(mm)。

图1表面电阻率和体积电阻率电极导电图形


表1表面电阻率和体积电阻率电极尺寸

4.程序

4.1厚度测量

用千分尺测量试样上无铜箔的三个不同位置的厚度,准确至0.01mm,取平均值,记录为U)。

4.2恒定湿热条件下测量(适用于试样厚度小于0.50mm)

测试步骤如下:

a)将试样放置在温度(35±2)℃和相对湿度90%的湿热试验箱中处理96h(处理条件另可表示为-96/35/90);

b)试样在保持于同等温湿度条件的温热箱中进行表面电阻和体积电阻的测试,测试应在允许时间偏差2h内完成;

c)表面电阻的测试连线如图36,体积电阻的测试连线如图37;

d)在施加(500士5)V直流测量电压1min后读数,表面电阻记录为(Rs),单位为MΩ;体积电阻记录为(Rv),单位为MΩ。


2表面电阻测试连线图


3体积电阻测试连线图

4.3恒定湿热条件恢复后测量

测试步骤如下:

a)试样置于温度15°C〜35°C,相对湿度为45%〜75%,气压为86kPa〜106kPa的条件下处理不少于24h;

b)将试样放置在温度为(40±2)°C和相对湿度90%的湿热试验箱中处理96h(处理条件另可表示为-96/40/90,含恢复时间在内);

c)取出试样在15°C〜35°C、相对湿度为73%〜77%,气压为86kPa〜106kPa条件中恢复,时间为(90±15)min;

d)将经恢复后的试样,5min内放入带有屏蔽盒的测量夹具中,分别按图2图3进行设连接;

e)测量试样的表面电阻和体积电阻,在施加(500±5)V直流测量电压1min后读数,表面电阻记录为(Rs),单位为MΩ;体积电阻记录为Rv),单位为MΩ。

4.4湿热循环周期条件下测量

此条件适用于厚度大于或等于0.05mm的试样。测试步骤如下:

a)将试样置于20个温湿度周期处理,每个周期包括(每步时间偏差为士5min),如图38所示;

1)初始温度为25=°C,经2.5h,温度上升到(65±2)°C,相对湿度保持在85%〜93%之间;

2)在温度(65±2)°C,相对湿度为85%〜93%时,至少保持3h;

3)温度经2.5h,从(65±2)°C下降到25=°C,维持相对湿度大于80%;

4)每个周期为8h,两个周期之间没有停顿;

b)试样仍保持于温湿度条件的温热箱中,在达到温度(25士2)°C和相对湿度90=%的稳定条件1.5h以后开始测量;

c)在2h内完成表面电阻和体积电阻的测试。表面电阻的测试连线如图36,体积电阻的测试连线如图37;

d)在施加(500±5)V直流测量电压1min后读数,表面电阻记录为(見),单位为MΩ;体积电阻记录为(Rv),单位为MΩ。

说明:

横轴——时间,单位为小时(h);

纵轴——温度,单位为摄氏度(°C)。


图4温湿度20个循环周期

4.5高温条件下的测量

测试步骤如下:

a)试样在温度为(125±2)°C的空气循环箱中处理24+丨h(这种处理条件另可表示E-24/125);

b)试样仍保持于同等温度条件的空气循环箱中进行表面电阻和体积电阻的测试,测试应在允许

时间偏差2h内完成。表面电阻的测试连线如图36,体积电阻的测试连线如图3;

c)在施加(500±5)V直流测量电压1min后读数,表面电阻记录为CRS),单位为MΩ;体积电阻记录为(Rv),单位为MΩ。

5.结果计算

按式(26)计算体积电阻率、式(27)计算表面电阻率:

式中:

P,——体积电阻率,单位为兆欧厘米(MΩ•cm);

A——保护电极有效面积,单位为平方厘米(cm2);

t——试样平均厚度,单位为厘米(cm);

Rv——体积电阻测试值,单位为兆欧(MΩ)。

注:A值从表15中查出。

式中:

h——表面电阻率,单位为兆欧(MΩ);

P——保护电极有效周长,单位为厘米(cm);

D4——测试间隙宽度,单位为厘米(cm);

Rs——表面电阻测试值,单位为兆欧(MΩ)。

注:P/D4比值可从表15中查出。

6.报告

除相关的规定外,试验报告还应包括:

a)表面电阻率和体积电阻率的最小值作为测试结果;

b)处理测试条件;

c)试样厚度。


8.4绝缘电阻

8.4.1目的

本方法用于测试覆铜板基材平行层向的绝缘电阻。本方法适用于厚度大于或等于0.5mm的覆

铜板。

8.4.2仪器与材料

本试验所需适用于规定程序的仪器和材料如下:

a)高阻计或等效电阻设备,具有符合相关产品规范量程的要求(如应至少能测量到1〇14n),且在量程范围内允许相对测量误差为±5%,能对试样施加500V的直流测量电压,并具有同轴屏蔽电缆系统;

b)电极,两个铜质或钢质锥形电极,直径为5mm,锥度为2%。表面粗糙度不大于0.63mm;

c)秒表或以秒为单位的计时器;

d)烧杯;

e)无绒纸巾或无域布;

f)蒸馏水;

g)附录A所需的设备与材料。

8.4.3试样

试样尺寸为(40±2)mmX(20士l)mm,厚度为板厚。数量为3个。试样边缘应光滑。沿试样长边中心线和短边中点对称处钻两个直径为5.0mm的圆孔,两孔间距(15士0.25)mm。孔的周围应光滑,不应有碎裂,如图39所示。试样按附录A规定的蚀刻方法去除所覆铜箔。

5绝缘电阻试样

8.4.4程序

8.4.4.1试样预处理

试样应在(20)℃和相对湿度(65士5)%的条件下处理(90)h(处理条件另可表示为C-90/20/65)。

8.4.4.2验收态下测量

将预处理后的试样在15°C〜35°C的条件下放置(30±5)min,将锥形电极插人试样的孔内。在(20=)°C和相对湿度(65±5)%的条件下,开启高阻计,对试样施加500V直流电压,稳定1min后,读出绝缘电阻值。

8.4.4.3水煮沸后测量

将预处理后的试样放人沸腾的蒸馏水中煮(120±10)min后,将试样放入15°C〜35°C的清水中冷却(30±5)min。用干净的纱布将试样表面的水分擦干。2min内,将锥形电极插人试样的孔内。在(20+〖)°C和相对湿度(65士5)%的条件下,开启高阻计,对试样施加500V直流电压,稳定1min后,读出绝缘电阻值。

8.4.5报告

除3.4的规定外,试验报告还应包括:

a)绝缘电阻的平均值与最小值;

b)处理测试条件;

c)试样厚度。


8.5介电常数和介质损耗角正切

8.5.1二流体槽法

8.5.1.1目的

本方法用于测定1MHz下覆铜板的介电常数和介电损耗角正切。本方法测量厚度从0.38mm〜6.35mm的板材,可以测定所有范围的介电常数和低至0.0005的介质损耗角正切。

8.5.1.2测试条件

一般材料测定时的环境温度应为(23±2)°C。对在室温范围内会发生玻璃转化的材料,即四氟乙烯、某些聚丙烯酸酯,环境温度应为(23±1)°C。对于极薄、吸湿性很强的材料,应在详细规范规定湿度条件进行。

8.5.1.3测试原理

二流体槽法测定材料的介电常数和介质损耗角正切是利用空气作为一种流体,选择另一适当的液

体作为第二种流体(通常为硅酮),当空气的介电常数为一确定值时,则流体和试样的介电常数可以很容易地计算出来。对大多数材料说,测定时温度和湿度的变化对测试结果的影响要比试验方法本身的误差大得多。

8.5.1.4仪器与材料

本试验所需适用于规定程序的仪器和材料如下:

a)精密电容电桥,频率1MHz,测量范围0〜200pF;

b)二流体槽,精度1%(处于温度变化不超过1°C、湿度变化不超过±10%、减少震动的工作环境内);

c)连接导线,一条长约305mm的同轴电缆一端带有与电容电桥匹配的连接器,另一端带有香蕉插头和连接器与二流体槽联接;

d)流体,如硅酮,运动黏度为1.0mm2/s。存放于带塞长颈瓶中,数量不少于500mL。紧靠二流体槽存放,使流体与二流体槽处于同一环境温湿度下;

e)烧杯;

f)漏斗;

g)滤纸。

8.5.1.5试样

试样要求如下:

a)试样宽为(80士l)mm,长约为80mm〜100mm,厚度为板厚;

b)数量:除在材料规范中另有规定外,均匀材料,即非增强塑料使用一个试样;织物增强材料,如其中树脂含量不同,至少用二个试样。在样品的最薄和最厚处各取一个。无规则的增强材料

至少需要三个试样,在被测样品的中心和边缘各取一个。对于厚度小于0.25mm的试样应多

取,以便测试时将单个试样叠加到0.38mm以上,以获得最大测试精度;

c)试样应按附录A规定的蚀刻方法除去所覆铜箔,并在处理前冲洗和干燥,用刻笔在每个试样

的左上角作出标记。

8.5.1.6程序

8.5.1.6.1试样预处理

试样应在温度为(23±2)°C、相对湿度为(50±5)%环境下放置24h以上。如产品规范要求,试样

应在受潮、浸水或干燥后测试。

8.5.1.6.2设备调节

按以下步聚进行设备调节:

a)打开测试槽中的电极,用洁净的压缩空气吹除灰尘和硅油;

b)预热电桥,预热时间至少达到制造厂规定的最短时间;

c)将“低”导线与测试槽的电极和电桥连接;

d)将“高”导线与电桥连接,但香蕉插头暂不插人测试槽;

e)设定电桥在以下范围:

1)电容:200pF(或100pF);

2)电导:微西门子(/xS);

3)0〜2pF:四氟乙烯和损耗很小的材料;

4)0〜20pF:环氧和其他中等损耗的材料;

5)0〜200pF:某些酚醛和损耗很高的材料;

注:对于厚度大于3.18mm的试样常用0〜20PF,以提高其测量精度,所有的测量值需在同一电容和电导率量程

取得。

f)调节测试槽LD-3间隙,约为最小试样厚度的125%;

g)调节电桥电容和电导控制盘,使指零。

8.5.1.6.3测试

按以下步骤进行测试:

a)香蕉插头连接“高”导线与测试槽;

b)读取空测试槽的电容值并记为(C1),精确至0.01pF,或如用0〜20PF量程,应精确至0.001pF;

c)将试样从湿度控制环境中取出;

d)将第一块试样插入测试槽,使标记保留在左上角,试样正面对着测试槽的一面。以保证用试样的同一面进行测试;

e)读取并记录试样在测试槽时的电容值,记作(C3);

f)取出第一块试样。在同一测试槽间隙下测试其他试样;

g)在最后一块试样从测试槽中取出后,将第二流体(如硅酮)加入测试槽中,流体应过滤除去细小杂质,并用烧杯收集从测试槽溢流管流出的过量的流体;

h)等数秒钟,使测试槽和流体的温度达到平衡,读取并记录电容值,记作(C2);

注1:如电容值不断向一个方向漂动,说明流体温度尚未达到平衡。

i)记录充满流体后的电导率,记作(G1);

注2:此值随测试槽间距和湿度会有某些差异,但不宜超过500/iS(如为介质损耗角正切在0.001以下的低损耗材料,约为200)。如超过此值,通常表明存在导线、流体污染或电桥方面的问题,需予以校准。

j)将第一块试样插入充有流体的测试槽内,其位置与插人空槽时相同。读取并记录电容值,记作(C4),电导值记作(G2);

3:在试样插人后数秒内测试值需是稳定的,如不稳定,可能在测试槽中有空气泡。如用多层薄板叠加成一个试

样,这种情况常常会发生,如出现此问题,可将试样在浸人前用流体预浸,并将一叠同时插入,则可解决。

k)第一块试样取出后,按同样的方法插入其余每一块试样进行测试。

注4:在试样取出后,如果流体液面不能覆盖电极,宜在检查测试值前补加流体。对C2的检查用于验证环境温度

变化对测试结果的影响。

8.5.1.7结果计算

按式(28)、式(29)计算介电常数和介质损耗角正切:

a)采用式(24)计算每块试样的介电常数,准确至0.01;

式中:

Dk——介电常数;

C1——空测试槽的电容值,单位为皮法(pF);

C2——流体的电容值,单位为皮法(pF);

C3——试样在空测试槽的电容值,单位为皮法(pF);

C4——试样在流体中的电容值,单位为皮法(pF)。

b)采用式(29)计算每块试样的介质损耗角正切,准确至0.0001.

式中:

Df——介质损耗角正切;

Dk——介电常数[用式(24)的计算机计算值,不选用其结果精确至0.01的值];

C2——流体的电容值,单位为皮法(pF);

C4——试样在流体中的电容值,单位为皮法(pF);

G1——流体的电导值,单位为微西门子kS);

G2—一试样在流体中的电导值,单位为微西门子(yS)。

8.5.1.8报告

除3.4的规定外,试验报告还应包括:

a)平均介电常数;

b)平均介质损耗角正切值;

c)试样预处理条件;

d)测定的环境条件;

e)试样是否叠加与叠加情况;

f)测定中任何异常现象或规定程序的差异和偏差。


8.5.2平行板法

8.5.2.1目的

本方法用于测定在1MHz〜1.5GHz下覆铜板的介电常数和介质损耗角正切值。本方法不适用于低损耗的材料,这类低损耗的材料可采用8.5.1在固定的频率条件下进行测试。


8.5.2.2仪器与材料

本试验所需适用于规定程序的仪器和材料如下:

a)阻抗分析仪,或等效测试仪器;

b)测量夹具,或等效装置;

c)适用的校验装置和夹具校正装置,包括:

1)校正用的开路和短路夹具;

2)50Ω的电阻;

3)校正用绝缘材料(如聚四氟乙烯

d)千分尺,分辨率0.001mm;

e)空气循环式烘箱,温度能保持在105°C。


8.5.2.3试样

试样尺寸为(50±l)mmX(50±l)mm,数量是3个。用附录A规定的蚀刻方法除去所覆铜箔,并充分清洗干净。薄试样可将试样叠加至0.38mm左右,但应保证层间压合后没有空隙。


8.5.2.4程序

8.5.2.4.1试样预处理

试样在(23±2)°C和相对湿度(50士5)%下处理至少24h。如果试样在湿空气中暴露时间长,应先在105°C的空气循环烘箱中干燥2h,然后在上述的室温条件下进行预处理。


8.5.2.4.2设备调节

设备调节步骤如下:

a)清洁测试头、标准物、夹具接头和电极并吹干,主机至少预热30min,以达到稳定;

b)按供应商的说明书用校正设备进行校正;

c)仪器校正和夹具补偿完成后,用聚四氟乙烯(PTFE)标准物验证,聚四氟乙烯介电常数为2.1士0.01,介质损耗角正切值为±0.001;

d)校正有效期只持续24h,因此24h后要重新校正;

e)设置开始频率和终止频率。


8.5.2.4.3测试

测试步骤如下:

a)用千分尺测量试样厚度,输人试样厚度;

b)把试样插到测试夹具中,试样要与夹具电极保持良好接触,试样不能接触到夹具的后壁;

c)试样放置在电极上的部位和测厚处应为试样上的同一位置;

d)进行测试扫描,记录介电常数和介电损耗角正切值,介电常数准确至0.1,介质损耗角正切值准确至0.001。

注:试验夹具对试样的压力会影响介电常数和损耗角正切值的测试值,特别会影响那些未金属化的试样。压力太

小,会降低电极/试样的接触面积,产生空隙,导致测试结果错误。压力太大,试样厚度降低,使测量值不准确。

测量时调整压力,使测量值不受压力的影响。

8.5.2.5报告

除3.4的规定外,试验报告还应包括:

a)平均介电常数;

b)平均介质损耗角正切值;

c)试样预处理条件;

d)试样是否叠加与叠加情况;

e)测定中任何异常现象或规定程序的差异和偏差。



1.目的

本方法用于测试1MHz下的覆铜板绝缘基材的介电常数及介质损耗角正切。本方法不适用于非常小的介质损耗。

2.仪器与材料

本试验所需适用于规定程序的仪器和材料如下:

a)Q表,或其他等效测量仪器,在1MHz下测量;

b)电极装置,采用二电极系统,其要求按GB/T1409规定,电极装置要清洁,其本身介质损耗应尽量小;

c)电极,采用厚度不超过〇.〇2mm的退火铝箔,用极少量的医用凡士林、硅酯等低介质损耗的材料,将铝箔贴在试样上,贴好箔后应看不见气隙与皱折。

3.试样

试样为圆形,直径为50mm+4H及以上或38mm+4H及以上,H为试样厚度。试样厚度一般不大于3mm。也可采用50mm方形试样,但仲裁时用圆形试样,数量为4个。用附录A规定的蚀刻方法去除所覆铜箔。

4.程序

4.1试样预处理

试样在(23±2)°C和相对湿度(50士5)%下处理至少24h。如果试样在湿空气中暴露时间长,应先在105=°C的空气循环烘箱中干燥2h,然后在上述的室温条件下进行预处理。

4.2测试

按GB/T1409的规定进行并计算结果。

5.报告

除规定外,试验报告还应包括:

a)平均介电常数;

b)平均介质损耗角正切值;

c)试样预处理条件。




8.6耐电弧

1目的

本方法用于测试绝缘材料表面经受高电压小电流电弧作用时的耐电弧能力。

2试验条件

试验应在环境温度(23士5)°C和环境湿度下进行。

3仪器与材料

本试验所需适用于规定程序的仪器和材料如下:

a)耐电弧测试仪,带有钨电极,电压允许相对测量误差士10%,计时器分辨率为1S;

b)恒温水浴锅,能保持温度(50士2)°C,盛装蒸馏水;

c)烧杯,盛装室温蒸馏水;

d)支架,放在水浴内支撑和分隔试样,使试样所有表面均浸入水中;

e)塞规,检查电极间距6.30mm和6.40mm用。

4试样

试样尺寸为(76±l)mmX(50±l)mm,数量3块。对于厚度1.6mm以下的材料应叠加到至少1.6mm,但不超过3.2mm。对于非常薄的层压板可将同一型号的1.5mm厚的板材放在承受电弧的试样下。用附录A规定的蚀刻方法除去所覆铜箔,并在处理或测试前充分清洗。

5程序

5.1试样预处理

试样应在(50±2)°C蒸馏水中保持48+丨h,然后浸人(23±5)°C的蒸馏水中0.5h〜4h,在不丧失水分的情况下,使试样达到温度平衡。

5.2设备条件

设备条件步骤如下:

a)用无水乙醇或其他合适的溶剂清洗电极组件,必要时用细砂布擦拭,电极放在试样上,调节电极间距为(6.35士0.05)mm;

b)调节电弧试验仪至自动操作状态;

c)调节变压器产生12500V电压;

d)调节试验仪的定时器到0位置。

5.3测试

测试步骤如下:

a)从室温蒸馏水中取出一块预处理过的试样,用不起毛纸巾或布擦干;

b)将试样(单个的或叠加的)放在电极装置中;

c)启动试验仪,使其产生电弧,并按表16的时间自动接通或关断电路,开始计时;


表1耐电弧时间与电流参数选择


d)仔细观察电弧,在电弧消失和试样出现泄漏痕迹的瞬间停止计时器,并作记录,准确至1s;

e)移出试样,取出电极,并用溶剂彻底清洗。必要时,用细砂布擦拭;

f)放好电极并检查其间隙;

g)重新调节计时器,继续其他的试样。

6报告

除标准的规定外,试验报告还应包括:

a)耐电弧的平均值;

b)试样预处理条件;

c)测定的环境条件;

d)试样是否叠加与叠加情况;

e)测定中任何异常现象或规定程序的差异和偏差。



8.7相比漏电起痕指数

8.7.1目的

本方法用于测试覆铜板的相比漏电起痕指数(CTI)。

8.7.2仪器与材料

按GB/T4207—2012的规定。

8.7.3试样

尺寸不小于15mmX15mm,数量5个。按附录A规定的蚀刻方法去除所覆铜箔并清洁。

8.7.4程序

按GB/T4207—2012的规定进行。

8.7.5报告

除3.4的规定外,试验报告还应包括:

a)CTI值;

示例:CTI400;CTI400M;CTI400(350)。

b)试样厚度;

c)电解液的组分和电阻率值;

d)测定中任何异常现象或规定程序的差异和偏差。

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信用代码

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成立日期

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1000

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销售机械设备、仪器仪表、电子产品、计算机软硬件及辅助设备、五金、交电、文化体育用品(音像制品除外)、珠宝首饰、工艺美术品、建筑材料、日用杂品。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)

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