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你的样品适合使用那一种飞行时间分析器进行二次离子质谱分析?

2015-09-23 10:50

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飞行时间二次离子质谱仪,目前常用的分析器主要有两种,一种使用通用型的离子反射镜(Reflectron),如ION-TOF公司的TOF-SIMS 5型号(图1a),另一种是专用型的三次聚焦飞行时间(TRIFT)分析器,如ULVAC-PHI公司的nanoTOF II型号(图1b),通用型的离子反射镜(Reflectron)分析器因构造简单,成本低廉,往往和其它色谱方法联用,如液相色谱-质谱联用(LC-TOF),广泛地用于化学分析。而三次聚集飞行时间(TRIFT – TRIple Focusing TOF)分析器,构造相对复杂,设计精密,且成本高昂,目前仅用于超高真空条件下,固体样品表面成分的分析及其它相关应用。
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俄歇电子能谱仪(AES),作为表面分析技术领域的纳米探针,在固体材料表面纳米尺度的元素成分分析及形貌表征方面发挥着重要作用。AES采用场发射电子源作为探针,不仅能通过从样品表面激发出二次电子以观察表面形貌,还能通过探测俄歇电子,用于表面成分分析。此外,AES通过集成的溅射离子枪赋予了对材料纵向深度的逐层剖析能力,从而深入洞悉材料从表面至内部的成分变化与分布规律。 本篇技术文章将主要介绍AES的基本功能:表面元素的定性分析、定量分析以及化学态分析。

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