核心参数
仪器种类: 飞行时间
原始束流或速能量: Bi初级离子源≥ 20 nA
质量分析范围: 高质量时质量分辨率:m/z > 200的m/∆m ≥ 16,000 质量范围:1~12000 amu以上; 离子束能量范围:15 ~ 30 keV;
质量分辨率: 低质量时质量分辨率:m/z = 28 (Si+)和29 (SiH+) 的m/∆m ≥ 12,000
用户单位
采购时间
采购数量
天目湖先进储能技术研究院
2019/04/01
1
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PHI TOF-SIMS在生物样品上的应用
近年来,随着生医产业的蓬勃发展,加上中国在相关科技的发展计划,生物科技早已变成中国政府主力的扶植产业之一,学术与业界对于生物样品的分析技术也日趋成熟,高德英特身为世界表面分析领导者ULVAC-PHI公司在中国的唯一代表,特别在本期电子报分享TOF-SIMS在生物样品上的相关应用,以供现用及未来的客户做参考。
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2014/06/24
PHI-Trift V Nano TOF-SIMS应用展示3
飞行时间二次离子质谱仪是以密度小于10^12atoms/cm2的脉冲离子作用于固体表面,通过测量被激发的原子或分子的飞行时间来确定二次离子的质量,并检测各种有机材料及半导体中的微量杂质,可用于各种材料的高灵敏度表面分析。
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2014/06/24
PHI-Trift V Nano TOF-SIMS应用展示2
飞行时间二次离子质谱仪是以密度小于1012atoms/cm2的脉冲离子作用于固体表面,通过测量被激发的原子或分子的飞行时间来确定二次离子的质量,并检测各种有机材料及半导体中的微量杂质,可用于各种材料的高灵敏度表面分析。
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2014/06/24
PHI-Trift V Nano TOF-SIMS应用展示1
飞行时间二次离子质谱仪是以密度小于1012atoms/cm2的脉冲离子作用于固体表面,通过测量被激发的原子或分子的飞行时间来确定二次离子的质量,并检测各种有机材料及半导体中的微量杂质,可用于各种材料的高灵敏度表面分析。
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2014/06/24
Ar 2500团簇离子束应用在深度剖析时应考虑的因素
表面分析的定义,一般指仪器分析技术能够捕捉到样品最上面约几个原子层的信息。在科研的时候,研究人员除了使用表面分析仪器之外,当然还会使用各式各样的分析仪器来帮助了解更多的材料特性。
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2014/06/24
Ar 2500团簇式离子束与其它团簇式离子束的比较与更多相关应用
Ar2500团簇式离子束在有机样品上,可以达到机会灭幼元素和化学成分破坏的深度剖析,能够有效的应用在XPS及TOF-SIMS上。本期我们将会继续讨论Ar2500团簇式离子束与其它如C60或Coronene团簇离子束的应用范围及结果上的差异。
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2014/06/24
表面分析技术在玻璃及陶瓷类材料上的应用
上期电子报中,我们已介绍了有机材料所需要的表面分析测量应用。本期我们将玻璃与陶瓷类材料所需要的测量(ESCA、D-SIMS、TOF-SIMS),做一综合性的整理。
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2014/06/24
表面分析技术在有机材料上的应用
上期电子报中,我们已介绍了金属材料所需要的表面分析测量应用。本期我们将有机材料所需要的测量(ESCA、D-SIMS、TOF-SIMS),做一综合性的整理。
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2014/06/23
表面分析技术在金属材料上的应用
上期我们介绍了半导体材料所需的表面分析材料技术。本期我们将金属材料所需的测量技术做一汇总整理,期望这些技术可以为您提供帮助。
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2014/06/23
表面分析技术在半导体行业的应用
针对表面分析技术,到底可以应用在我们日常身边哪些例子?此期我们会先就表面分析在半导体的范畴,提供各种例子。
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2014/06/20
XPS配合C60离子枪在有机膜上的应用
XPS对表面化学状态的改变非常敏感,有机物由于采用单离子枪溅射时,会产生化学态损伤。如何减少因深度剖析带来的化学态变化,PHI-XPS引入了世界先进的C60团簇式离子枪。本节就C60离子枪在有机膜上的应用做相关的介绍。
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2014/06/19
ULVAC-PHI最新的表面分析技术与应用
1. 高德科创与高德电子报简介 2. 俄歇电子能谱仪(AES)-高能量分辨率的纳米俄歇电子能谱仪 3. X射线光电子能谱仪配合C60离子枪在有机膜材料上的应用 4. 飞行时间二次离子质谱仪-三维离子影像
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2014/06/19
环境磁场问题对分析仪器的影响与解决方案
很多贵重仪器,对环境都会有一些特定的要求,像是温度、湿度或是震动与环境磁场等,环境磁场往往对各种仪器的分析结果造成一些似是而非的现象。这一期电子报,我们将会介绍环境磁场是什么、如何产生、对仪器的影响及如何达到有效的解决方案。
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2014/06/24
爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司
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江苏省南京市江宁区殷富街402号临港同策同心园1-108
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