布鲁克扫描探针显微镜

布鲁克扫描探针显微镜

        MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜（SPM），已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能，无与伦比的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式，采用其先进的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。

    显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头

◆ AS-0.5系列：横向(X-Y)范围0.4μm×0.4μm,竖直(Z)范围0.4μm

◆ AS-12系列：横向(X-Y)范围10μm×10μm,竖直(Z)范围2.5μm

◆ AS-130系列：横向(X-Y)范围125μm×125μm,竖直(Z)范围5.0μm

◆ PF50：横向(X-Y)范围40μm×40μm,竖直(Z)范围20μm

噪声：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃（带防震系统的测量值）

样品大小：直径≤15mm, 厚度≤5mm

针尖/悬臂支架：

◆空气中轻敲模式/接触模式(标准)

◆液体中轻敲模式/力调制(可选)

◆空气中力调制(可选)；电场模式(可选)

◆扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件)

◆ STM转换器(可选)

◆低电流STM转换器(可选)；接触模式液体池(可选)

主要特点：

◆ 世界上最高的分辨率

◆ 出众的扫描能力

◆ 优异的可操作性

◆ 非凡的灵活性与功能性

无限的应用扩展性Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术，包括：

◆ 轻敲模式(Tapping Mode AFM)

◆ 接触模式(Contact Mode AFM)

◆ 自动成像模式(ScanAsyst)

◆ 相位成像模式(Phase Imaging)

◆ 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)

◆ 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)

◆ 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)

◆ 力调制(Force Modulation)

◆ 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)

◆ 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)

◆ 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)

◆ 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)

◆ 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)

◆ 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)

◆ 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)

◆ 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)

◆ 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)

◆ 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)

◆ 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)

◆ 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)

◆ 其他更多模式....