为更全面更高效服务广大客户，布鲁克纳米分析原上海DEMO Lab特升级为中国客户体验中心， 该中心位于上海市闵行区合川路2570号1号楼9楼的布鲁克上海办事处，是布鲁克纳米分析部极具代表性的的客户体验中心。体验中心包含了布鲁克纳米分析的大部分仪器，包括Bruker XFlash 能谱仪, e-Flash EBSD/TKD, X射线微区荧光光谱仪（Micro-XRF）XTrace。与此同时本中心将会不断扩大补充更多测试技术设备，如纳米压痕仪PicoIndenter系列，敬请期待！Bruker XFlash 6系列能谱仪（Energy Dispersive Spectrometer，简写EDS）是同时记录所有X射线谱的谱仪，是一种测量X射线强度与X射线能量函数关系的设备。通过测量固体材料被激发的X射线光子的能量进行材料元素定性分析，测量X射线强度进行材料元素定量分析。EDS是电子探针仪、扫描电镜及透射电镜成分分析的重要附件。能谱仪按照探头位置可以分为斜插式能谱仪及平插式能谱仪，按照探头数目可以分为单探头能谱仪和多探头能谱仪。Bruker e-Flash EBSD/TKD电子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction，简称EBSD)是使用扫描电子显微镜(SEM)，或SEM-FIB(聚焦离子束)或电子探针显微分析仪（EPMA）测量和面扫描晶体试样获得晶体学信息的技术。在EBSD设备中，电子束入射倾斜晶体样品，产生的散射电子在荧光屏上形成衍射花样。这些衍射花样可以表征样品扫描区域的晶体结构和取向等晶体学信息，所以，EBSD是一个非常强大的定量微观组织表征工具。EBSD可以测定晶体取向，取向差，晶粒尺寸，织构，应变分析，晶界特性表征，相识别和相鉴定，断裂分析等。EBSD技术已经应用到了金属加工、航空航天、汽车、微电子、地球科学等实际工业生产中，是一项非常成熟的获取样品晶体学信息的手段。同轴TKD将常规EBSD所能做到的空间分辨率极限提高了一个数量级，可达~2 nm，称为纳米晶材料组织表征的利器。Bruker Micro-XRF on SEM XtraceXTrace是一款可搭配在任意一台具有倾斜法兰槽SEM上的微焦点X射线源。利用该设备可使SEM具备完整意义上的微区XRF光谱分析能力。对于中等元素至重元素范围内的元素，其检测限提高了20-50倍。此外，因为×射线的信号激发深度深于电子束，利用该设备还可以检测更深层次样品的信息。在这里，您可以携带样品前来做样体验布鲁克仪器的高性能，还可以商务参观进行技术应用交流。如果您有以上需求，欢迎联系我们，邮件发送至 info.bna.cn@bruker.com，或者关注微信公众号直接进行联系。

首先，布鲁克感谢广大客户朋友们积极参加2020年能谱仪线上及线下培训班！其次，为持续给大家提供高质量的能谱使用体验，2021年布鲁克纳米分析部携手弗尔德公司继续为大家带来线上培训。线上能谱培训专注在布鲁克各个版本软件实操上，更有制样专家就SEM/EDS样品制备干货进行分享。数量有限，还等什么呢？先报名为敬！报名方式：发送“姓名+单位名称+职位+联系方式+参加培训班场次”至邮箱 Info.BNA.CN@bruker.com线上培训平台：腾讯会议 

送走不平凡的2020年，布鲁克感恩广大用户朋友们一直以来的信赖和支持！在2021年，我们仍心怀使命，将最强大的应用支持和最诚挚的售后服务奉献给您，让我们继续砥砺前行，不负韶华！ 鉴于很多客户对于布鲁克能谱高级应用培训班的热情，以及广大用户对于能谱仪干货知识的需求，布鲁克纳米分析部（Bruker BNA）的应用专家团为您奉上2021年度布鲁克纳米培训的相关日程，期待广大用户们踊跃报名！报名方式：发送“姓名+单位名称+职位+联系方式”至邮箱：Info.BNA.CN@bruker.comBruker BNA 应用专家团一览：陈家光 特邀嘉宾原宝钢研究院教授级高级工程师 1967年毕业于南京大学物理系，自1972年开始一直从事电子探针扫描电镜等显微分析工作，在钢铁织构与性能领域取得了显著的研究成果，其负责的科研项目“电子背散射衍射分析技术开发、标准化及其应用”曾获宝钢技术创新重大成果；教授级高级工程师，是国内第一台EBSD的采购及使用者，在业内享有非常高的知名度；负责国内多项钢铁重要标准起草及制定，包括GB/T21638、GB/T19501国家标准，及ISO24173国际标准；曾多次为行业内知名企业、顶尖高校及重要研究机构进行扫描电镜和能谱仪的培训，是行业内权威技术专家。禹宝军 博士布鲁克产品应用经理2012年获得山东大学材料科学与工程博士学位，研究课题为高性能钢铁材料高温微观组织演变，主要运用TEM、SEM及EBSD研究其机理。毕业后加入江苏沙钢钢铁研究院任职研究员，擅长利用电子显微分析技术进行产品研发及失效分析。2014年加入布鲁克，负责EDS, EBSD, Micro-XRF等产品的售前售后技术支持及应用开发，有非常丰富的实际操作经验和理论水平，尤其在平插式能谱仪FlatQuad、同轴TKD等高端产品应用领域，更是具有行业领先水平。杨阳 博士布鲁克纳米分析高级应用专家2014-2017年在日本物质材料研究所（NIMS）任初级研究员，并于2017年获得九州大学材料学博士学位，研究课题为高温钛合金开发及其腐蚀性能和蠕变性能的实验研究及数值模拟。曾获得第9届环太平洋先进材料国际会议"青年科学家"奖及第161届金属学会“优秀海报奖”，代表作有Corros. Sci.，Mater. Des.等，对EDS及EBSD有丰富的理论和实战经验。2017年加入布鲁克，主要负责EDS,EBSD等相关产品的推广和技术支持。

　　布鲁克近日宣布收购一家欧洲光谱荧光显微镜仪器制造商Luxendo。该公司是欧洲分子生物学实验室(EMBL)的私人分公司，交易的财务细节未披露。　　Luxendo总部位于德国海德堡，成立于2015年9月。在EMBL细胞生物学和生物物理学组组长Lars Hufnagel博士的技术领导下，Luxendo能够基于专利的SPIM技术快速开发强大的产品解决方案。　　Luxendo专有的单平面照明显微镜(SPIM)技术显着减少了常规激光扫描共聚焦显微镜的采样时间，同时降低了对活体样品的光毒性和有害副作用。该SPIM技术还能够实现对小生物，细胞单层和清除组织的体积成像的最快扫描速度。　　SPIM显微镜显著增强了布鲁克现有的扫频共聚焦，超分辨率和多光子荧光显微镜产品系列产品组合，从而在小生物胚胎学，活细胞成像，脑发育和清除的脑组织以及光遗传学应用方面取得新的研究进展。此次收购是Bruker投资组合转型中的另一重要进步。　　Bruker NANO集团总裁Mark R. Munch博士对此表示：“凭借其强大的IP位置和独特的SPIM技术，Luxendo已经在光照片显微镜市场，特别是在欧洲市场迅速建立起自己的位置。与我们最近在超分辨率显微镜中的收购类似，新功能为我们目前的仪器套件提供了有价值的应用协同效应。在全球市场和下一代开发中，布鲁克可以将业务提升到更高的水平，这将大大有利于我们的生命科学研究客户。”

　　仪器信息网讯 2016年9月28-29日，由布鲁克纳米分析部举办的2016年全国用户交流会在北京美丽的古北水镇召开。近50名来自全国的布鲁克纳米分析仪器用户专家代表参加了此次交流会。布鲁克纳米分析部中国区经理李慧 主持会议布鲁克纳米分析部德国产品总监 Andreas Kahl致开幕词　　本次交流会旨在推动EDS、EBSD、Micro-XRF技术及电子显微学的进步和发展、提高广大显微学工作者的学术及技术水平，以促进显微学在材料科学、生命科学等领域的应用和发展。交流会分为大会报告和分组讨论交流两个部分。大会报告上用户专家及布鲁克应用专家们为大家带来9个精彩报告，内容涉及能谱分析、EDS定量、微区XRF、EBSD、TKD等纳米分析的前沿技术。大会现场大家积极交流互动，展现出一派活跃的学术交流氛围。交流会现场布鲁克德国应用专家 Max Patzschke报告题目：低电压低束流电镜条件下能谱分析方法及应用　　作为布鲁克的创新产品，平插式能谱仪可以在保留高能量分辨率的同时提供超高计数率和空间分辨率。Max在介绍此款能谱仪时，特别强调了其XFlash探测器，该探测器不仅可以提供很高的固体角(1.1sr)，还可以在低束流、低电压、更小激发体积条件下对纳米尺度材料样品进行精确分析。接着，Max分别以高聚物、陨石、宇宙飞船收集彗星粉尘试样等样品的能谱分析为例，阐述了平插式能谱仪的面扫描面积大、扫描速度快、粗糙样品扫描不产生阴影等优异性能。布鲁克亚太区产品应用经理 王锐报告题目：EDS定量方法原理解读及应用　　王锐经理首先为大家科普了X射线的产生原理及EDS定量理论模型，接着结合实际样品分析情况讲解了P/B ZAF(建议粗糙、无标样情况适使用)和PhiRHoZ model(建议轻量元素、表面平整有标样情况使用)两种常用定量方法。最后针对定量过程中出现的样品充电、样品粗糙、C定量等问题依次做了原因分析，并给出对应解决方案。布鲁克中国应用专家 禹宝军报告题目：痕量元素的分析方法-扫描电镜用Micro-XRF技术介绍　　禹宝军通过与EDS对比，介绍了扫描电镜用Micro-XRF很高激发深度等优越特性。接着讲解了Micro-XRF在地质、矿物、玻璃、金属等样品分析中的应用，结果表明Micro-XRF具有不干扰SEM操作、分析结果可媲美台式XRF等特点。中科院地质与地球物理研究所 杨继进教授报告题目：能谱在石油地质研究中的新应用　　杨继进教授首先以PM2.5污染为背景，分析了能谱在石油地质领域研究的重要意义。接着介绍了矿物分析-扫描电镜类仪器的选型和参数情况，包括能谱仪效率、分辨率、分析软件系统等。最后讲解了他们实验室使用布鲁克能谱仪在大面积矿物质成分、样品中特定矿物分布、油气储层研究等方面的应用情况。中国科学院上海硅酸盐研究所 曾毅研究员报告题目：EBSD空间分辨率的研究　　透射模式电子背散射电子衍射可以显著提高扫描电镜进行相鉴定和取向分析的空间分辨率，是2012年以后出现的新技术。针对目前TKD空间分辨率仅有定性描述，无法定量给出数据的情况。曾毅研究员创新地采用图像关联技术对原始菊池线衍射花样进行逐点提取比较，从而将花样重叠情况进行量化分析，给出了钢铁材料在30kV下的TKD理论分辨率为7nm。这也是对TKD空间分辨率的首次报道，相关结果发表在Journal of Microscopy，264(1), 2016, 34-40上。布鲁克德国产品经理 Daniel Goran报告1题目：EBSD技术的最新应用进展报告2题目：最新TKD技术的发展及在纳米晶样品分析中的应用　　Daniel主要介绍了EBSD在样品相鉴定领域的先进技术，并以换热器钢管样品的相鉴定分析为例，讲解了EBSD配套软件ESPRIT2.1在数据处理过程中表现出的快捷、大大缩减SEM扫描时间等优秀性能。　　接着Daniel还与大家分享了TKD的最新技术，其中尤其强调了on-axis探测器，该探测器系统可以为TKD提供高检测信号强度、快达620fps的测量速度等优秀性能。布鲁克亚洲区售后服务经理 Joo Hsiang Chua报告题目：BNA维修部介绍及售后服务讲解　　Joo首先向大家介绍了布鲁克纳米分析部的全球业务分布及组织框架，随后从售后维修配套、维修配套传单、售后技术支持等方面具体讲解了布鲁克纳米分析部的完善售后服务体系。布鲁克中国应用专家 严祁祺报告题目：痕量元素及深度检测方法介绍-台式Micro-XRF技术应用　　与传统XRF的相比，微区XRF具有X射线穿透能力强、可实现大块样品快速扫描、无需样品制备等优点。严祁祺报告中主要介绍了布鲁克微区XRF系列产品M1、M2、M4等在地质薄片、树叶元素分析、昆虫、金属材料、考古等领域的具体应用实例。参会人员合影留念　　会上仪器信息网编辑发现，布鲁克应用专家和高层们都分散和用户们坐在了一起，以便更好的与用户的交流，相信如此重视聆听客户、注重细节的布鲁克纳米分析部的发展必将指日可待。

　　布鲁克公司于2015年7月9日，在德国柏林发布了最新的扫描电镜透射菊池衍射专用探头OPTIMUS? TKD。这一革命性的产品最大的特点是配置了可直接置于透射样品下面的水平式磷屏。OPTIMUS?可与布鲁克所有e-Flash 传统竖直磷屏EBSD探头互换，实现一个探头提供EBSD和TKD两种最优解决方案。　　OPTIMUS? TKD提供了TKD技术最优的几何结构。与采用传统竖直磷屏EBSD的TKD相比，具有两方面的优势，即，可从信号最强的地方采集Kikuchi花样;最大程度的消除花样畸变。一方面，由于OPTIMUS?采集信号的增强，与传统TKD相比，用户可在相同的扫描电镜束流条件下获得更快的采集速度或者采用更低的束流，以获得更好的空间分辨率。同样，由于低能电子更利于在晶格衍射，可通过降低扫描电镜加速电压分析更薄的样品。另一方面，Kikuchi花样畸变越小，越有利于花样探测和标定精度。　　OPTIMUS? 还可以用于获得类似于透射电镜才能观察到的选区电子衍射花样(SAED)。然而，购买扫描电镜加上OPTIMUS?成本仅仅是购买透射电镜的一小部分。　　布鲁克独有的ARGUS?成像系统与OPTIMUS?集成，可以成与透射电镜相似的明场像和暗场像，并能观察到纳米尺度的微观结构，甚至是变形材料内部的单一位错和位错墙。　　OTPIMUS? TKD探头能够与所有的e-Flash EBSD探头兼容。布鲁克已有EBSD用户均可升级OTPIMUS?，用户经培训后可自行更换传统EBSD探头和OTPIMUS? TKD探头。取决于要分析的样品，用户可自由切换传统EBSD和OTPIMUS?。OTPIMUS?能够与布鲁克TKD样品台及所有布鲁克XFlash®能谱探头联用。　　关于我们　　布鲁克公司是在纳斯达克上市(NASDAQ: BRKR)的世界著名的高科技分析仪器跨国企业，为分子和材料研究提供全面解决方案，了解更多行业及应用讯息，请访问www.bruker.com或联系：　　李慧　　中国区销售经理　　布鲁克纳米分析仪器部　　电话：+86-21-5172 0800　　邮箱：hui.li@bruker.com

2015年布鲁克能谱高级应用培训班        为了提高布鲁克能谱用户的应用水平加强用户间的相互交流，布鲁克公司特决定于2015年度在北京和上海分别举行能谱仪高级应用培训班，时间表如下： 培训地点：北京- 北京中关村南大街11号光大国信大厦5楼        010-58333000上海-上海徐汇区漕河泾开发区桂平路418号19楼     021-51720800    开班规则：1、培训班仅针对布鲁克现有能谱用户开设，参加的用户需对能谱仪的基本原理和操作有一定的了解，且具有三个月或以上的使用经验。2、培训课程包括能谱仪工作原理及高级应用，并有现场演示与上机操作。具体培训内容以培训日程表为准。3、培训班每期课程最少6人，最多10人，以报名先后顺序，额满为止。如果因故取消或产生变动，布鲁克将提前一个月左右通知用户，并优先将用户安排到下一轮的培训班中。4、培训班交通、食宿自理。 报名方式有意向参加2015年布鲁克培训班的用户，欢迎联系我们了解详情与报名。联系人：宋媛      电话：021-51720824    邮箱：yuan.song@bruker.com   布鲁克纳米分析仪器部2015.1  

       2014年广州“透射电镜分析技术交流会”通知                                                         （第一轮）               由布鲁克公司、华南理工大学联合组织的“透射电镜与能谱分析技术交流会”将于2014年10月9日星期四在广州召开。              德国布鲁克（Bruker）公司(原西门子公司)是世界上著名的分析仪器生产厂家，产品涉及元素分析、质量分析等领域，实现了全球首家由单一厂商同时提供五种分析方法。 为了推动透射电镜分析技术进步和发展， 加强电子显微分析工作者的学术交流，提高广大显微学工作者的技术和应用水平，特邀德国著名的透射电镜专家做相关的理论及应用介绍。同时，我们将安排现场仪器操作展示及交流。              本次会不收会务费，大会将提供午餐。 会议地点 ：  广州市五山华南理工大学分析测试中心(4楼会议室)联系方式 ：  华南理工大学 尹诗衡 13539426986布鲁克公司 黄春妮 13370119732 Chunni.Huang@bruker-axs.cn宋媛 15216771521 Yuan.song@bruker-axs.cn 参会者回执(请于2014年10月08日前电邮至联系人)

2014布鲁克纳米分析用户会      为了推动电子显微学的进步和发展， 加强电子显微分析工作者的学术交流，提高广大显微学工作者的技术和应用水平，布鲁克纳米分析部门将在8月12日-8月15日于广东珠海的海湾大酒店召开2014年用户交流会。    大会邀请了德国专家和青年科技工作者作精彩的报告，为布鲁克用户提供了一个交流和学习的平台，旨在促进更多的团队企业能够更有效地利用显微分析手段来解决实际科研、生产问题。 会议内容-    五合一分析技术的应用和发展-    布鲁克最新产品及软件介绍-    扫描电镜和透射电镜的应用-    布鲁克仪器的使用技巧和日常维护-    用户报告 参会对象-   布鲁克纳米分析仪器的用户-   想了解EDS, WDS, EBSD, uXRF，uCT和显微分析最新技术及产品的用户-   想学习和提高显微分析仪器应用和操作方法的用户 收费标准-   会务费1600元/人，包含会议期间的食宿及学习资料。 布鲁克纳米分析部诚邀各位用户莅临“2014年布鲁克纳米分析用户会”，如果您想参加本次会议，请将联系信息发送至： Sales.Na@bruker-axs.cn ,抄送Yuan.song@bruker-axs.cn跟我们联系。联系人： 宋媛      电话：021-51720824    

 2014年西安“微区荧光分析技术交流会”通知          为了开拓西安地区科技人员的视野，让显微分析专业人员迅速了解电镜μ-XRF应用成果、相关领域的最新理论，特邀德国著名的微区荧光光谱仪专家于2014年4月25日星期五做相关的理论及应用介绍。同时，将从德国带来μ-XRF演示、单机微区荧光能谱仪（M4 μ-XRF）展示、现场检测样品; 另外还有5合1产品模型现场展示。 联系方式：         宋小姐    021-51720824   Email：Sales.Na@bruker-axs.cn    参会者回执(请于2014年3月10日前电邮至联系人) 

   欢迎参加我们免费的网络研讨会  布鲁克为扫描电子显微镜提供的五种分析仪器 2014年 2月28日 星期五时间：下午15:00—16:00（北京时间）持续：1小时 立即注册  http://my.bruker.com/acton/fs/blocks/ftaf/a/2655/m/s-0282-1402/r/l-0045%3Ae4/  由同一个厂商为您的扫描电镜提供五种分析技术方法：EDS能谱仪，EBSD电子背散射衍射仪，WDS波谱仪，Micro-XRF微区荧光光谱仪和Micro-CT扫描电镜用微区计算机断层摄影。在这次的网络研讨会上我们将探讨布鲁克为扫描电子显微镜所提供不同的分析仪器与一些应用实例。我们推出新的ESPRIT 2.0软件包，实现了在同一个软件界面下同时对QUANTAX EDS和QUANTAX EBSD 和新产品XSense 波谱仪与XTRACE微区荧光光谱仪的操控。在分析技术方法的讨论中，我们也会加入一些应用实例分析和问答环节 主讲人 钟传玮博士，EDS 和EBSD的应用科学家，布鲁克纳米 ，德国柏林 适合参加的对象-在材料科学实验室工作的研究人员-工程和自然科学领域的教师和学生-对先进材料分析感兴趣的人 如果您不能参加网上现场的研讨会，现在注册您将会收到研讨会的幻灯片材料和录像。 我们期待您的参加 布鲁克纳米分析团队    登陆网址www.bruker-5on1.com查看布鲁克为扫描电镜提供的五种分析技术方法 

Bruker Unique Micro-Computed Tomography Accessory for 2D and 3D X-ray Imaging on Scanning Electron MicroscopesBruker micro-computed tomography (CT) accessory for scanning electron microscopes (SEM). Micro-CT for SEM can add 2D and 3D high-resolution X-ray imaging capabilities to third-party SEMs, allowing the nondestructive analysis of internal microstructures of specimens in numerous applications, including composite materials, ceramics, electronic components, filter materials, paper, wood, plants and many others.Bruker’s Micro-CT for SEM can be attached to most SEM models without the need for any modification to the microscope. The system includes a microscanner with a target that produces X-rays when hit by the electron beam, an object rotation stage, and a motorized linear stage to vary the distance between the X-ray emission point and the object for adjusting the magnification of the X-ray images. The microscanner can be installed inside the specimen chamber in place of standard object holders. A direct detection 16 bit CCD camera is used to record shadow projections of the object’s internal microstructure. Typical exposure times are 2-10 seconds per projection at electron beam currents of 100-500 nA.  The X-ray camera is air-cooled and available with either 512x512 or 1024x1024 pixel resolution.The Micro-CT for SEM is suitable to analyze objects with up to 4 mm diameter and up to 10 mm length without the need for any specific preparation. Due to the extremely well focused X-ray source, and the precision rotation stage with a minimum step size of 0.45°, details of down to 400 nm size can be visualized in 3D.The Micro-CT for SEM is supplied with a powerful software suite including an acquisition program, a 3D reconstruction module, and a versatile package for 2D and 3D numerical morphology analysis. In addition, a program for 3D rendering is available to create realistic visual models and movies for virtual travel through the entire sample volume.Thomas Schülein, President of the Bruker Nano Analytics division, commented: “We are excited to take on worldwide distribution of this unique product following Bruker’s acquisition of SkyScan N.V. earlier this year. The Micro-CT for SEM accessory nicely complements Bruker’s existing portfolio of analytical tools for electron microscopy, enabling our customers to perform even more comprehensive sample characterization in materials research and life science applications.”About Bruker Corporation:Bruker Corporation (NASDAQ: BRKR) is a leading provider of high-performance scientific instruments and solutions for molecular and materials research, as well as for industrial and applied analysis. For more information, please visit www.bruker.com. 

Bruker Introduces Two New Analytical Accessories for Electron Microscopes INDIANAPOLIS, Indiana – August 5, 2013 – At the Microscopy & Microanalysis 2013 Meeting (www.microscopy.org/MandM/2013), Bruker today introduces two new instruments which further expand its portfolio of high-performance tools for materials characterization in electron microscopes:XSense is a novel parallel beam wavelength dispersive X-ray spectrometer (WDS) for elemental analysis on scanning electron microscopes (SEM). Specifically designed for the lower energy range between 100 and 3,600 eV, the XSense spectrometer provides energy resolution down to 4 eV, enabling both excellent separation of closely spaced X-ray lines and highly sensitive trace element detection.XTrace is a new micro-spot X-ray source that enables photon-induced micro X-ray fluorescence (micro-XRF) spectrometry on SEM systems, in conjunction with Bruker’s energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) detectors. In comparison with electron-excited X-ray spectrometry commonly used for elemental analysis on SEMs, micro-XRF spectrometry provides 20 to 50 times lower limits of detection, in particular in the mid-to-high energy range of the spectrum, adding the capability of detecting and analyzing trace amounts of higher-Z elements in the sample.The new XSense WDS analyzer uses special X-ray mirror optics for efficient large angle X-ray collection and parallelization. A fully motorized 3-axis auto-alignment system ensures fast, reproducible and stable positioning of the focal spot. The parallel beam optics is fully retractable, and made of non-magnetic materials to avoid beam shift and image distortion. With a choice of six diffracting crystals, XSense can be tuned to provide optimum conditions for almost any application. Its advanced kinematics maintains optimum positioning of the active crystal with respect to the X-ray beam over the full scan range for maximum diffraction efficiency. An additional, secondary X-ray optics between crystal and detector further enhances peak-to-background ratios and sensitivity of the XSense WDS. Bruker’s unique detector management system actively controls the proportional counter’s internal gas pressure and automatically performs all high voltage and discriminator settings.When attached to an appropriate port of the SEM’s sample chamber, the new XTrace is using a low-power micro-focus X-ray tube and focusing polycapillary X-ray optics to produce a highly intense X-ray beam for sample irradiation with spot sizes smaller than 40 microns. Due to the alignment of the focal spot to hit the sample surface at the same position as the SEM’s electron beam, the analyst can alternatively acquire both electron-induced and photon-induced X-ray fluorescence spectra from the same sample area.While electron-induced X-ray spectroscopy provides high spatial resolution and excellent light element detection, photon excitation with XTrace is superior in sensitivity and allows trace element detection down to 10 ppm levels. Combining the information obtained with the two techniques can greatly enhance the accuracy of the analytical results.Both the XSense WDS analyzer and the XTrace micro X-ay source are operated via ESPRIT 2.0, Bruker’s new and unique 4-in-1 analytical software suite which seamlessly integrates EDS, WDS, EBSD and Micro-XRF under a single user interface. ESPRIT 2.0 not only enables intuitive navigation within and between all four complementary methods, but also provides various possibilities for combining the data to obtain higher precision quantitative results.Thomas Schülein, President of the Bruker Nano Analytics division, stated: “With the introduction of these exciting new products we are now offering our customers unprecedented options to significantly enhance the analytical power of their electron microscope. As integral parts of our QUANTAX system for micro- and nano-analysis, both new tools are designed to improve specificity and sensitivity of the analytical SEM over the full range of the energy spectrum. The XSense WDS is dedicated to the low energy, light element region, and the XTrace is particularly suited to reveal additional analytical information in the mid-to-high energy range. We are proud that Bruker is now the only vendor to offer all five techniques, EDS, WDS, EBSD, Micro-XRF and Micro-CT, as high-performance add-on analyzers for electron microscopes. Due to the full integration under our new ESPRIT 2.0 software suite, researchers can now combine and integrate data obtained by these complementary methods. As a result, our QUANTAX system has now evolved into a true multimodal analytical toolset for comprehensive materials characterization on electron microscopes.”About Bruker CorporationBruker Corporation (NASDAQ: BRKR) is a leading provider of high performance scientific instruments and solutions for molecular and materials research, as well as industrial, diagnostics and applied analysis. For more information, please visit www.bruker.com. XSense WDS analyzer  XTrace micro-spot X-ray source  

[导读] 2013年8月6日，在2013年显微镜&显微分析会议上，布鲁克宣布推出两款电镜附件：新型XSense平行光束波长色散X射线光谱仪(WDS)，XTrace微焦斑X射线源。 　　2013年8月6日，在2013年显微镜&显微分析会议上，布鲁克宣布推出两款电镜附件：新型XSense平行光束波长色散X射线光谱仪(WDS)，XTrace微焦斑X射线源。XSense  WDS　　XSense WDS可用于扫描电子显微镜(SEM)的元素分析。XSense WDS专为介于100和3600 eV的低能量分析而设计，其能量分辨率可低至4eV，可分辨紧邻的X射线，以及微量元素检测。XTrace  XRF微焦斑X射线源 　　XTrace微焦斑X射线源可用于扫描电镜系统，并结合布鲁克的能谱检测器，实现微束X射线荧光分析。同电子束激发X射线光谱法进行元素分析相比，微束X射线荧光光谱仪的检测下限要低20-50倍，尤其是对于中高能量范围的光谱分析，增加了样品中痕量元素分析的能力。　　XSense WDS以及Xtrace微焦斑X射线源均可通过ESPRIT 2.0软件进行操作。该软件在同一个用户操作界面集合了EDS, WDS, EBSD和微束XRF分析。ESPRIT2.0不仅能够直观的引导四个操作方法，而且还提供了四种分析数据间结合分析的可能性，以获得更高的定量分析精度。　　布鲁克纳米分析部门总裁Thomas Schülein表示：“随着两样新产品的问世，我们现在可以为用户提供前所未有的选择，大大提高他们的扫描电镜的分析能力。作为我们用于微米级及纳米级分析的QUANTAX系统的组成部分，这两个新产品通过全光谱能量范围的分析，用来提升扫描电镜的分析特性和灵敏度度。 XSense WDS适用于低能量区，及轻元素的光谱分析，Xtrace特别适合用于中高能量区域的分析。我们非常自豪布鲁克现在是唯一可以同时提供EDS, WDS, EBSD, Micro-XRF and Micro-CT等5种技术的生产商。由于这些附件全部整合在我们的新型ESPRIT 2.0软件集，研究人员现在可以通过软件对这些方法的分析数据进行整合。现在我们的QUANTAX 系统已成为利用电镜进行综合材料表征的多功能分析工具包。” （编译：秦丽娟）     

 2014第二期布鲁克EDS用户培训班      为提高用户的应用水平及方便用户间的相互交流，布鲁克公司特决定在2014年2月25日－2014年2月28日在布鲁克北京应用实验室举行第二期能谱仪培训班。 课程名称：布鲁克能谱仪应用培训培训地点：布鲁克中国应用技术支持中心  北京市海淀区中关村南大街11号光大国信大厦5201室培训对象：布鲁克能谱仪用户，且已使用布鲁克能谱仪3个月以上，熟悉其基本原理及基本操作     为保证培训效果，本期培训班最多8人，每个客户参加人数名额限定为2人，即日起开始报名, 因名额有限, 按报名先后顺序额满为止。培训班交通、住宿费用自理，具体日程安排及咨询请联系我们。  

.   BCEIA 2013 再次成为布鲁克公司发布新产品，展示分析技术革新的重要舞台。布鲁克公司此次推出的全线新品，均源于One Bruker理念。其研究分析效率更高，专一性更强的特性不但使常规分析操作者更自信，更为高级科学研究应用谱写了新篇章。 布鲁克重磅推出X Sense WDS和X Trace Micro-XRF，此两款仪器改善了电子显微全谱分析范围的精确性和灵敏度，为电子显微分析提供了无与伦比的5合1解决方案。                                 电子显微分析仪器梦幻组合-包括EDS、WDS、EBSD、Micro-XRF和Micro-CT   EDS、WDS、EBSD、Micro-XRF和Micro-CT– 源自单一供应商的5种SEM分析方法。QUANTAX EDS: 拥有最高能量分辨率和最大数据处理能力QUANTAX WDS: 在低能量范围内可提供最高灵敏度QUANTAX EBSD: 开创了 EBSD/EDS 组合应用的全新标准XTrace XRF: 使扫描电子显微镜具备 Micro-XRF 分析能力Micro-CT for SEM: 探寻样品的内部微观结构 敢为人先！更多详情请点击：http://www.bruker-5on1.com/eds_cn.html