SID4-Fast KHZ频率超高速高分辨率 波前传感器/波前分析仪

波前传感器发展史简介：

        随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。一代波前传感器源于美国 Itek 公司——交流横向剪切干涉仪，这种横向剪切干涉仪的光能损失很大，存在2π不定性问题以及结构复杂等缺点；为了改进这一些系列问题，1971年R.夏克（Roland Shack）和B.普拉特（Ben Platt）采用透镜阵列分割采样波前和ccd自动测量的技术发明了精度更高的夏克哈特曼波前传感器（Shack-Hartmann wavefront Sensor; SHWFS），夏克哈特曼波前传感器在波前传感器的发展史上具有里程碑的意义，我们也称第二代波前传感器。第三代波前传感器：随着时代的发展，更高的分辨率、更高的灵敏度、以及更大的宽动态范围成为了新的科技需求，Shack-Hartmann已不满足于当前的测试要求；此时，Phasics公司应运而生，它所推出的SID4系列波前传感器具有结构简单紧凑、更大动态探测范围、防震性能强。超高分辨率、高灵敏度（亚纳米）和宽动态范围（数百微米）。

SID4-Fast KHZ频率 超高速高分辨率（两用）波前传感器的主要特性：

◀具有帧率7 500 fps(全光圈)

◀10800 FPS (16 × 16mm²光圈)

◀实时处理频率1hz(全分辨率)

◀采集时间6.7 s(全分辨率）

产品应用：

◀激光工业

◀天文

◀航空航天

◀国防

◀以及透镜和晶圆的表面面型检测

SID4-Fast KHZ频率 超高速高分辨率（两用）波前传感器测试结果部分展示：

◀超表面及超透镜测量

◀镜头及组件测试

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关于昊量光电：

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