日立 “荧光+成像”二合一新技术全国巡演开启！你报名了吗?

　　日立经典款荧光分光光度计于2019年10月推出全新附件：荧光分布成像系统(EEM View)。全球首创的将相机与荧光分光光度计的完美结合，融合了先进算法的最新技术。能够同时获取样品图像和光谱信息，实现“荧光+成像”二合一。

　　亮点简要

　　1)在不同光源(白光和单色光)下拍摄样品图像

　　2) 获得样品的反射光谱和荧光光谱

　　3)利用独特的光谱处理算法，获得样品的荧光图像和反射图像

　　4)获得样品图像任意区域的光谱信息

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荧光分布成像系统结构

　　为了让广大客户更好的了解并使用这项新技术，由日立高新发起的“荧光分布成像系统新技术讲座”全球巡演已于11月15日正式启动!免费加入该系列新技术讲座，你可能收获这些：

　　据悉，本次新技术讲座全国巡演，将经过山西、河北、北京、天津、南京、杭州、福州等十余个城市。

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　　附：EEM View新技术案例展示

　　应用实例1—— 荧光分布成像系统(EEM View)观察荧光体树脂片

　　此次实验测定了在面发光LED中使用的荧光体树脂片。对样品照射360～640nm的单色光，得到了样品特有的荧光特性。EEM View模式下，可同时获得不同光源条件的样品图像。

树脂片的图像和光谱

　　上图为树脂片的荧光成分图像，左边是荧光体分布不均匀区域的荧光图像和光谱，右边是荧光体分布均匀的荧光图像和光谱，从荧光图像中可以看出荧光体的分布情况。

　　此外，通过不同位置计算出的荧光光谱，可以发现树脂片不同位置的荧光强度存在差异。对于荧光体分布不均匀的树脂片(左图)，它的中心位置亮度偏高。而且从荧光光谱中可以看到，3个位置的荧光光谱峰值荧光强度最大偏差15%。

　　应用实例2 微细结构荧光材料的光学特性和结构确认

a不同波长下的样品图像及三维荧光光谱

b样品不同区域的荧光光谱

c样品不同区域的反射光谱

　　图b和图c通过选择样品的不同区域显示出对应的荧光光谱和反射光谱，可以发现不同区域的光谱强度并不相同，但一般的荧光分光光度计是将这些区域的信息平均化后获得一条光谱信息，无法分辨光谱的分布情况。

样品不同成分的图像

　　上图中可以看到拍摄的样品图像被分离成反射光成分图像和荧光成分图像，反射光成分图像呈现橙色，荧光成分图像呈现绿色，因此样品颜色是橙色反射光和绿色荧光的混合 所以在白光下呈现黄色。

　　上面的结果，说明反射板的荧光特性和反射特性的分布不同，从放大图像中可以看到样品具有规律的微小间隔，大小约200μm。

　　综上荧光分布成像系统最大的亮点就是细致入微，一般荧光分光光度计只能获得样品平均化后的信息，而荧光分布成像系统能够得到样品任意点的光谱信息，从而确认样品的均匀性。