利用日立FE-SEM 观测墨粉颗粒

利用日立FE-SEM 观测墨粉颗粒

       打印机墨粉的微观结构及形状直接影响着打印质量，因此它受到科学家的广泛研究和关注。上图是用日立场发射扫描电镜SU8220观测的墨粉颗粒，左图是用低位探头(Lower detector)观测的结果，右图为顶探头(Top detector)的观测结果。左图中，可以观测到8μm的立体感较强的墨粉大颗粒及其表面分布的200nm小颗粒。顶探头探测的高角度BSE信号可以很好地把轻重元素区分开来，右图中可以看出，墨粉颗粒上有外部引入的重元素杂质（亮点），且表面上200nm的小颗粒也可以很好地观测到。

      上图为墨粉颗粒放大50,000倍后的图像，左图为低位探头观测的结果，可以观测出墨粉颗粒上存在三种形状的细小颗粒。利用顶探头和能量过滤器可以完全探测弹性背散射电子，其只反映成分衬度。右图为顶探头探测的图像，可以很好地观测到表面细小颗粒（红色箭头处）的成分差异。

       上图是在减速模式下，着陆电压为300V的情况下观测到的墨粉的表面细微结构（放大100,000倍）。左图为高位探头(Upper detector)探测的图像，其能同时接收SE和BSE，既能观测平滑表面又能观测到表面上细小结构（黄色箭头处）。 利用顶探头和能量过滤器，可以探测高角度BSE信号。右图中，利用顶探头可以很好地观测到不同形状颗粒的成分差异。

      利用大面积SDD探测器做的能谱面扫结果如左图所示（40,000 x），结果显示，圆形颗粒为Si （右上图），针状物为Ti(右中图)，外部杂质为Ce（右下图）。 在不导致样品损伤变形的情况下就可以快速探测出三种元素的分布。  

SU8040 with XFlash 5060F Quad Detector

Acc. Voltage : 7kV

Mag. 40,000 x

M’ment time : 180 sec

该产品更多信息请关注:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C220216.htm

关于日立高新技术公司: 
　　日立高新技术公司是一家全球雇员超过10,000人，有百余处经营网点的跨国公司。企业发展目标是“成为独步全球的高新技术和解决方案提供商”，即兼有掌握最先进技术水准的开发、设计、制造能力和满足企业不同需求的解决方案提供商身份的综合性高新技术公司。日立高新技术公司的生命科学系统本部，通过提供高端的科学仪器，提高了分析技术和工作效率，有力推进了生命科学领域的研究开发。我们衷心地希望通过所有的努力，为实现人类光明的未来贡献力量。

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