“第11届上海国际高功能薄膜展览会”于2015年5月7-9日在上海国家会展中心顺利召开。此次大会吸引了来自全球近300家顶尖高功能薄膜生产商参加,如司克(SICAD)、四维、道康宁等。会议总结和交流了近年来在光学薄膜、高功能薄膜及相关应用领域等方面所取得的研究成果和最新进展。
图为.展览会现场
对于光学薄膜等相关行业用户来说,必须要借助高端的紫外/可见/近红外分光光度计进行产品的设计和品控。日立高新技术公司作为全球高端的紫外/可见/近红外分光光度计的生产商,积极赞助了此次会议,并发表了题为“日立紫外光谱仪在光学膜研究中的应用”的报告,介绍了日立最新型号的紫外/可见/近红外分光光度计UH4150在光学薄膜行业的最新前沿应用,受到了与会用户的关注与一致好评。
图为.日立高新报告现场
关于日立紫外/可见/近红外分光光度计UH4150,请点击链接:
http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C185793.htm
关于日立高新技术公司:
日立高新技术公司,于2013年1月,融合了X射线和热分析等核心技术,成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术,精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新,因此公司变为日立高新的子公司,同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学,扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料,产品线更丰富的日立高新技术集团,将继续引领科学领域的核心技术。
更多信息敬请关注:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/
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