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工业CT 检验积层陶瓷电容(MLCC)
2023/12/11 17:24
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方案摘要：
产品配置单：
BH 240kV 高功率微米焦點及奈米焦點3D X-ray CT
型号： V|tome|x S240
产地： 美国
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
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方案详情：
MLCC是电子产品中重要的一部份，对其进行质量管理是非常重要的一部份，利用3D X-ray CT断层扫描可以检测MLCC造成失效的原因或是质量管理的部分。
MLCC失效
空洞产生原因为陶瓷内的有机或无机污染。可能导致漏电状况产生，严重时导致MLCC开裂、爆炸、燃烧等。
裂纹常发生于某一端电极，产生原因和烧结冷却速度有关。其危害和空洞相同。
MLCC烧结为多层材料堆积共烧结。如层与层间接合力不强，烧结过程中内部产生污染而导致分层。其危害与空洞裂纹相同。
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| ▲图一 MLCC内电极空洞 | ▲图二 MLCC 3D影像 |
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