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3D X-ray CT如何控管射出成型的产品及模具
2023/08/22 11:26
阅读：53
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方案摘要：
产品配置单：
BH 300kV 高功率微米焦点及奈米焦点3D X-ray CT
型号： V|tome|x M300
产地： 美国
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
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方案详情：
射出成型的产品发展已久，用来制作多样形状的产的产品且可以快速大量制造，最后生产出的产品也无需二次加工即可使用，用于的产业非常广泛，多用于汽车、家电、电子产品、医疗器材等。
在制造新零件及修改过零件后，皆须进行首件检查(FAI, First Article Inspection)，往往会花费很多时间在调整模具、定位、投料或配方调整，使用3D X-ray CT断层扫描能够加速解决生产问题。
简易零件可能使用CMM(Coordinate Measuring Machine,三次元量测仪)量测即可，但复杂的零件会有更多的特征需做测量，而零件越复杂CMM量测不到的位置越多，可能需要破坏样品才能进行测量，而相较之下3D X-ray CT断层扫描能在非破坏的情况下进行内部及外部测量。3D X-ray CT断层扫描可以帮助工程师更迅速地确认产品的状况和修改制程或模具。
使用3D X-ray CT断层扫描的结果和CAD进行比对可以更快地确认射出成型的产品是否收缩、零件翘曲、孔隙、气孔等等状况，并能精确表达发生在何处。
使用3D X-ray CT断层扫描的结果还可以进行孔隙百分比分析、壁厚分析。使用3D X-ray CT断层扫描也可以确认模具使用上磨损程度状况，可以利用CAD图纸对其进行比对来获得其磨损周期。
各家制造商如需保持竞争力则需追求良好的产品质量，3D X-ray CT断层扫描在控管射出成型的产品及模具是良好的帮手。利用3D X-ray CT断层扫描即可在不用破坏产品的情况下进行检测，观察缺陷，便于改善制程或模具等。
• 几何尺寸和公差(GD&T)
为了降低成本，设计产品时便会设定最宽松的公差，通常会利用图一中列出的这几种公差控制产品偏差。使用3D X-ray CT断层扫描后的结果，我们可以利用初次设定好测量模板，而后续比对产品即可快速导入测量模板即可得到公差结果。
▲图一 几何公差类别
▲图二 测量及几何公差结果
• CAD比对
利用CAD图纸和实物比对，比对会按照不同偏差量进行颜色编码，透过其可检测到缺陷、偏差等。有利降低修改的成本。
▲图三 CAD图纸和实际物比对的3D图像
(红色为超出公差，绿色为公差内)
▲图四 红色线为CAD比对误差较大的区域
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