核心参数
产地类别: 进口
仪器种类: FIB-SEM
(电子光学系统)发射源: 飞秒激光PFIB
(电子光学系统)分辨率: 1.4nm@1KV,1.2nm@KV
(电子光学系统)探针电流: ~1mA(等效于离子束电流)
(电子光学系统)视野范围: 2000×2000×1000μm3
(离子光学系统)发射源: 飞秒激光PFIB
(离子光学系统)分辨率: 0.7nm@1KV
(离子光学系统)探针电流: 集成化镜筒内及极靴下探测器
(离子光学系统)视野范围: 2000×2000×1000μm3
赛默飞聚焦离子束Helios 5 Laser PFIB的工作原理介绍
聚焦离子束Helios 5 Laser PFIB的使用方法?
赛默飞Helios 5 Laser PFIB多少钱一台?
聚焦离子束Helios 5 Laser PFIB可以检测什么?
聚焦离子束Helios 5 Laser PFIB使用的注意事项?
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赛默飞Helios 5 Laser PFIB有现货吗?
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赛默飞扫描电镜用于在材料科学应用中监测关键过程变量的过程仪器。
现代工业过程需要高通量以实现经济高效的生产。这个节奏按最终产品的质量、可靠性和一致性需求来计量。因此,过程控制力求优化和规范生产,以便在产出和质量之间取得平衡。监测各种参数(如尺寸、形态和杂质)时必须尽可能高效,才能最大限度地减少分析对整体生产时间的影响。此外,观察结果必须高度可靠,以确保根据样品的真实特征进行过程调整。
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2021/04/07
采用电子显微镜进行颗粒分析图片赏析
SEM image of a cobalt particle aggregate. Such SEM images can be analyzed and parametrized with a range of Thermo Fisher Scientific software workflows.
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2021/04/07
采用电子显微镜进行颗粒分析
颗粒的形态、结构、形状和大小在其化学和物理特性中起着重要作用。这对于纳米粒子尤其如此,它与散装的相应材料(在宏观层面)具有根本不同的物理特性。例如,半导体纳米粒子的尺寸可以改变其发射的光的频率和波长,使其尺寸的精确控制对于实用光学应用至关重要。了解这些微粒的结构和化学性质、以及如何进行改性,都需要通过电子显微镜等工具才能实现精确分析。
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2021/04/07
北京欧波同光学技术有限公司
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