表面三维轮廓仪/粗糙度仪/台阶仪

三维分析软件介绍

扫描探针图像处理软件，SPIP™ 多年来，SPIP™扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。 SPIP™图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。 无论您是一个资深用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP™图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。 SPIP™图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。 SPIP™图形分析软件亦被广泛用于学术研究和论文出版。在我们的网站您可以看到751篇使用SPIP™进行图形分析的论文列表。 SPIP™软件目前支持92种格式数据文件。 目前SPIP™最新版本于2013-05-23发布，版本编号6.0.14，见修订历史。 服务 我们的服务包括新的文件格式，培训，实现图像的分析，以及专门的解决方案开发

软件介绍

扫描探针图像处理软件，SPIP™ 多年来，SPIP™扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。 SPIP™图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。 无论您是一个资深用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP™图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。 SPIP™图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。 SPIP™图形分析软件亦被广泛用于学术研究和论文出版。在我们的网站您可以看到751篇使用SPIP™进行图形分析的论文列表。 SPIP™软件目前支持92种格式数据文件。 目前SPIP™最新版本于2013-05-23发布，版本编号6.0.14，见修订历史。 服务 我们的服务包括新的文件格式，培训，实现图像的分析，以及专门的解决方案开发

三维轮廓仪（接触式）NanoMap-LS

NanoMap 500LS扫描三维表面轮廓仪 特点  常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合  双模式操作（针尖扫描和样品台扫描），即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图  针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式，三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。  在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察  针尖扫描采用双光学传感器，同时拥有宽阔测量动态范围（最大至500μm）及亚纳米级垂直分辨率　（最小０.１nm ）  软件设置恒定微力接触  简单的2步关键操作，友好的软件操作界面 应用 三维表面轮廓测量和粗糙度测量，即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。 薄膜和厚膜的台阶高度测量 划痕形貌，磨损深度、宽度和体积定量测量 空间分析和表面纹理表征 平面度和曲率测量 二维薄膜应力测量 微电子表面分析和MEMS表征 表面质量和缺陷检测

非接触式台阶仪、轮廓仪Nanomap1000WLI

非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像、大的扫描范围，可定制的波长范范围，使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。