三维分析软件介绍

软件介绍

扫描探针图像处理软件，SPIP™ 多年来，SPIP™扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。 SPIP™图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。 无论您是一个资深用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP™图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。 SPIP™图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。 SPIP™图形分析软件亦被广泛用于学术研究和论文出版。在我们的网站您可以看到751篇使用SPIP™进行图形分析的论文列表。 SPIP™软件目前支持92种格式数据文件。 目前SPIP™最新版本于2013-05-23发布，版本编号6.0.14，见修订历史。 服务 我们的服务包括新的文件格式，培训，实现图像的分析，以及专门的解决方案开发

三维轮廓仪（接触式）NanoMap-LS

NanoMap 500LS扫描三维表面轮廓仪 特点  常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合  双模式操作（针尖扫描和样品台扫描），即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图  针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式，三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。  在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察  针尖扫描采用双光学传感器，同时拥有宽阔测量动态范围（最大至500μm）及亚纳米级垂直分辨率　（最小０.１nm ）  软件设置恒定微力接触  简单的2步关键操作，友好的软件操作界面 应用 三维表面轮廓测量和粗糙度测量，即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。 薄膜和厚膜的台阶高度测量 划痕形貌，磨损深度、宽度和体积定量测量 空间分析和表面纹理表征 平面度和曲率测量 二维薄膜应力测量 微电子表面分析和MEMS表征 表面质量和缺陷检测

非接触式台阶仪、轮廓仪Nanomap1000WLI

非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像、大的扫描范围，可定制的波长范范围，使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。

NanoMap-D三维表面轮廓仪介绍

NanoMap-D (双模式) 三维轮廓仪使成像提高到一个新的水平。它所具有技术竞争力在于接触式和光学三维轮廓仪的完美结合。自动采样运动和一键测量功能使得 NanoMap-D 在三维图像世界里向前更进一步。 通过利用接触式及非接触式双模式基于技术上的优势获得获得全面的表面特性。NanoMap-D给使用者带来更高水平的的测量灵活性。该平台几乎可以测量任何样品（甚至包括反射率0%，非平面样品） 开放式平台架构采用花岗岩，光学平面参考平台。测试仪可以测试变长200mm的扫描区域（更大的扫描范围选择亦可实现）。白光干涉仪要配合使用防震平台和隔音罩 以确保绝对的消除噪音。