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当薄膜具有压应力或拉应力时，测试仪测量板-薄膜复合体的变形率，并计算残余应力。
• 薄膜残余应力测量解决方案
特点
• X-Y轴的自动控制
• 使用薄膜曲率Stoney公式计算残余应力（能够测量非晶状态）
• 易于控制
注意事项
• 测量测试：电路板需要使用250±15um的硅片厚度，长度是宽度的10倍
• 薄膜厚度需小于电路板尺寸的1/50
规格
企业名称
南京伯奢咏怀电子科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人独资)
信用代码
91320113690403658N
成立日期
2009-06-18
注册资本
100万元整
经营范围
电子产品、化工产品、仪器仪表、电子元器件、机械设备及配件、计算机软硬件销售;劳务服务;科技信息咨询;自营和代理各类商品及技术的进出口业务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
南京伯奢咏怀电子科技有限公司（McScience中国办事处
公司地址
南京市鼓楼区北祥路67号
客服电话
公司名称： 南京伯奢咏怀电子科技有限公司（McScience中国办事处
公司地址： 南京市鼓楼区北祥路67号 联系人： 谭先生 邮编： 210003 联系电话： 400-860-5168转1730
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