气相色谱仪器系统-色谱柱

安捷伦提供多种独特的高质量 Seahorse XF 分析试剂盒、试剂和培养基，用于研究细胞能量代谢功能并实时评估线粒体和糖酵解功能。以简化实验程序和提高研究效率为设计宗旨，使用这些试剂盒能让您简捷地获得高质量恒定的数据。结合安捷伦出色的技术服务，这些试剂盒将极大地提高您的 XF 实验效率和体验。

金属检测技术的局限性之一是对于像电线和大头针这样相对比较小的、长条形金属异物就很难检测出来。这些类型的污染物通常表现出“方向效应”，即金属探测器所检测到的信号很大程度上取决于污染物与探测孔的方向关系。方向效应给金属检测系统带来了挑战——这一挑战乍一看并不是那么严重，但事实上它可能会给消费者的安全以及品牌声誉带来严重的影响和危害。

肿瘤特异性抗体功能分析包含很多方面： T细胞功能活化及增殖、细胞因子分析、抗体依赖的细胞介导的细胞毒性作用（antibody-dependent cell-mediated cytotoxicity; ADCC）、抗体介导的补体依赖的细胞毒性（complement dependent cytotoxicity; CDC）、巨噬细胞抗体依赖性的细胞吞噬作用（Antibody-Dependent Cellular Phagocytosis; ADCP）等。

近几年来，随着国内科技产业的不断升级，对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展，比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等，对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长，这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中，通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理，来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪（XPS）是一种表面分析技术，随着商业化XPS设备的普及，其在微电子器件研究中的应用越来越广泛，逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。 本方案通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2，对半导体器件表面形成的窄条形SnOx成分进行小束斑+特色SnapMap快照成像测试，展示如何通过设备小束斑+成像功能，快速全面分析这类特殊小尺寸半导体器件表面成分及其在面内分布情况，来辅助评估表面处理效果及器件质量。