CdTe是称为碲化镉的半导体化合物的一种。其具有对放射线有良好的吸收效率，由于能直接把光信号转换成电信号。被利用在作为放射线探出器的一种新型好材料。 至今为止，在探测放射线的元器件里有各种各样的探测材料，代表的有Lithium drift silicone和锗。但是由于它们对放射线的感度不高，而且需要是使用液化氮气进行低之－196C的冷却。而且需要借助光敏管来转换光电信号。所以它们不易做到小型化。CdTe具有高感度，可以在常温的状态下发挥比以往产品更加具有优越的特性。对能量100keV放射线的只需要2mm厚的CdTe来制作探测器，感度是silicone的10倍

非相干散射 当物质中的电子与原子之间的束缚力较小（如原子的外层电子）时，电子可能被X光子撞离原子成为反冲电子。因反冲电子将带走一部分能量，使得光子能量减少，从而使随后的散射波波长发生改变。这样一来，入射波与散射波将不再具有相干能力，成为非相干散射。

样品卡与标准卡对比原则？ 提供几条原则供大家参考： 1.　.对比d值比对比强度要重要； 2.　低角度的线要比高角度的线要重要； 3.　强线比弱线重要； 4.　要重视特征线；

只有晶体才会使射线衍射，因而X射线多晶体衍射主要应用于多晶物体。世界上的任何物体均是由某些材料构成的，而固体材料中的多数是属多晶体，非晶体和液体的某些问题，也可用X射线多晶栓衍射设备作研究，所以，X射线多晶体衍射应用的领域是很广泛的。 X射线多晶体衍射主要可用于下列几个方面。

所谓的标准半峰宽应该是指仪器本身的宽化因子，和实验时使用的狭缝条件关系最大，想得到它并不难： 　　比如在相同的测量条件下，把Si标样放到仪器上测量Si的各个衍射峰的Kα1峰的半高宽，就是所谓的标准了。当你需要测量一系列非标样Si粉时，就把标样Si的Kα1峰的半宽作为标准半峰宽使用就可以了。

粉末衍射卡的强度数据以相对强度提供，一般以最强线为100。但是计算的粉末衍射数据最强峰的强度值取作999。其实相对强度的数值并不重要，您只要把最大的当作100，其它的与之比较就可以了，比如999当作100那么500就是50，353就是35，在这里因为是估计，有误差也没有关系了。

在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"（其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度"）。

对于所有的元素，在高速电子的轰击下都会产生X射线还可能产生其特征X射线。元素受较高能量的X射线的照射时也能够激发其特征射线，称为二次X射线或荧光X射线，同时表现出对入射X射线有强烈的吸收衰减作用。

小角X射线散射（Small Angle X-ray Scattering)和小角X射线衍射(Small angle x-ray diffraction)是一回事吗？

全反射X荧光（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，于1971年Yoneda等首先提出的，西德Rich Seifer公司于1981年首先研制成功了第一台实用的商业全反射X射线荧光分析仪，现在TXRF已成为一门成熟的通常可接受的分析技术，广泛用于痕量元素分析、微量样品分析、表面和表层分析、地质样品分析等领域。它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL级以下）、 用样量少（μL、ng级）、准确度高（可用内标法）、操作简便、快速，而且可进行无损分析，成为一种不可替代的全新的元素分析方法。

X射线多晶体衍射（X-ray Polycrystalline diffraction，XPD）也称X射线粉末衍射（X-ray Powder diffraction，XPD），是由德国科学家德拜（Debye）、谢乐（Scherrer）(1、2)在1916年提出的。当时正值第一次世界大战，信息交流受阻，美国科学家Hull在1917年又独立提出了这一方法(3)。所谓多晶体衍射或粉末衍射是相对于单晶体衍射来命名的，在单晶体衍射中，被分析试样是一粒单晶体，而在多晶体衍射中被分析试样是一堆细小的单晶体（粉末）。

X射线照射到物质上将产生散射。晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。 绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。 XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。 XRD特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析； XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。 目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。

本文对现阶段X射线定量相分析的基本策略作了系统的探讨, 提出了定量相分析方法按策略分类的方案，为定量方法的总体构筑奠定了基础，于是也找到了研究定量方法的一条最有效的途径；同时揭示了应用现代图谱拟合技术改进和完善现有分析方法的方法。

提出了X射线衍射法测定钛白粉中的金红石型和锐钛型的物相含量的新方法，此方法与美国国家标准方法相比较，提高了金红石型和锐钛型的物相含量测量的精度、准确度及分析速度，用丹东通达仪器有限公司生产的新型TD-3000 X射线衍射仪及此新方法测试了我国某钛白粉厂的样品，测试结果非常准确。 前 言 钛白是化学工业，轻工业的重要原料，由于钛白具有折光指数高、着色力强、光泽好、分散性强、稳定性好等性能，所以广泛用于油漆、造纸、塑料、橡胶、化学纤维等工业中，TiO2也是电焊条涂层、瓷器玻璃工业的优良原料。

　随着计算机技术的发展和应用，以及X-射线源和中子源强度、衍射仪分辨率的提高，利用多晶衍射数据进行复杂晶体的结构分析成为可能。目前这方面的工作已有很多报导，其中主要有最大熵法 、能量最小法 、Monte Carlo法 以及利用单晶结构分析方法，从粉末衍射数据测定晶体结构，测定了在不对称晶胞中含60个原子，178个原子参数的 的复杂晶体结构 。本文仅综述这一种测定方法。

　　　　单晶体在不同的晶体学方向上，其力学、电磁、光学、耐腐蚀、磁学甚至核物理等方面的性能会表现出显著差异，这种现象称为各向异性。多晶体是许多单晶体的集合，如果晶粒数目大且各晶粒的排列是完全无规则的统计均匀分布，即在不同方向上取向几率相同，则这多晶集合体在不同方向上就会宏观地表现出各种性能相同的现象，这叫各向同性。

　　物质的各种宏观性质源出于本身的微观结构。探索物质结构与性质之间的关系，是凝聚态物理、结构化学、材料科学、分子生物等许多学科的一个重要研究内容。晶体结构分析，是在原子的层次上测定固态物质微观结构的主要手段，它与上述众多学科有着密切的联系。就其本身而言，晶体结构分析是物理学中的一个小分支。这主要研究如何利用晶态物质对X-射线、电子、以及中子的衍射效应来测定物质的微观结构。晶体结构分析服务于许多不同的学科，因而许多学科的发展都对晶体结构分析产生深刻的影响。另一方面，晶体结构分析有自己独立的体系，它本身的发展又对所服务的学科起着促进作用。