X射线衍射仪(XRD)相关术语解释

CdTe是称为碲化镉的半导体化合物的一种。其具有对放射线有良好的吸收效率，由于能直接把光信号转换成电信号。被利用在作为放射线探出器的一种新型好材料。 至今为止，在探测放射线的元器件里有各种各样的探测材料，代表的有Lithium drift silicone和锗。但是由于它们对放射线的感度不高，而且需要是使用液化氮气进行低之－196C的冷却。而且需要借助光敏管来转换光电信号。所以它们不易做到小型化。CdTe具有高感度，可以在常温的状态下发挥比以往产品更加具有优越的特性。对能量100keV放射线的只需要2mm厚的CdTe来制作探测器，感度是silicone的10倍

样品卡与标准卡对比原则？ 提供几条原则供大家参考： 1.　.对比d值比对比强度要重要； 2.　低角度的线要比高角度的线要重要； 3.　强线比弱线重要； 4.　要重视特征线；

只有晶体才会使射线衍射，因而X射线多晶体衍射主要应用于多晶物体。世界上的任何物体均是由某些材料构成的，而固体材料中的多数是属多晶体，非晶体和液体的某些问题，也可用X射线多晶栓衍射设备作研究，所以，X射线多晶体衍射应用的领域是很广泛的。 X射线多晶体衍射主要可用于下列几个方面。

所谓的标准半峰宽应该是指仪器本身的宽化因子，和实验时使用的狭缝条件关系最大，想得到它并不难： 　　比如在相同的测量条件下，把Si标样放到仪器上测量Si的各个衍射峰的Kα1峰的半高宽，就是所谓的标准了。当你需要测量一系列非标样Si粉时，就把标样Si的Kα1峰的半宽作为标准半峰宽使用就可以了。