十月成都，TESCAN将隆重参加2017全国电子显微学学术年会并带来专场报告“拉曼图像一体化在扫描显微分析上的应用”。届时，TESCAN展台将举办幸运大转盘现场抽奖活动。礼品缤纷，精彩不停，期待与您的再一次相聚！由中国电子显微镜学会主办的“全国电子显微学学术年会”将设立材料科学与生命科学分会场，内容涉及显微前沿技术及其在物理、化学、地学、生命科学、信息科学等学科及新能源技术、信息技术、环境科学与技术、先进结构材料等领域中的基础研究和应用基础研究成果。作为专注于微观形貌、结构和成分分析的科学仪器的供应商之一，TESCAN已进入扫描电子显微镜、聚焦离子束系统、多通道全息显微镜等市场，并首创了扫描电镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术等。本次学术年会期间，TESCAN将举办多重活动，更多惊喜等你体验！学术活动—电镜-拉曼一体化技术新应用交流特邀报告：拉曼图像一体化在扫描显微分析上的应用报告时间：2017年10月18日下午14:50-15:10报告地点：第三分会场—能源、环境和信息等功能材料的微结构表征现场活动—TESCAN幸运大转盘抽奖活动活动时间：2017年10月18日-20日活动地点：成都市星辰皇家金煦酒店2楼TESCAN展台奖品设置：一等奖—手机镜头套装                   二等奖—旅行洗漱包套装                   三等奖—定制Mini小风扇                   幸运奖—U盘/扑克牌礼品不断，惊喜不停！TESCAN热忱邀请您莅临参观交流！前几位参与现场抽奖活动的用户将有机会获得特别惊喜奖—“480mL高真空不锈钢保温杯”，数量有限，先到先得喔~更多抽奖活动详情，请在浏览器中访问以下链接 ：https://jinshuju.net/f/eEaK85

十月，TESCAN将携新一代双束(FIB-SEM)新品S8000系列及“All In One”显微综合分析技术亮相两年一届的北京分析测试盛会（BCEIA 2017）。新品闪耀，欢迎各位专家莅临参观！由中国分析测试协会主办的北京分析测试学术报告会暨展览会（简称“BCEIA”），历经30年的培训和发展，已成功举办了十六届。现已成为国内分析测试领域专业化程度和知名度最高的盛会，在促进国际间的科学技术交流，推动我国分析测试科学和仪器制造技术的发展起到了重要作用。作为科学仪器的供应商之一，TESCAN已进入扫描电子显微镜、聚焦离子束系统、多通道全息显微镜等市场，并首创了扫描电镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术等。凭借优异的性能，TESCAN赢得全世界越来越多的用户认可，目前TESCAN的产品和解决方案已经在全球微纳米技术领域取得了领先的地位，生产的各系列电镜在世界范围内受到广泛的好评。本次展会，TESCAN将发布新一代双束(FIB-SEM)系统S8000G，并带来显微分析的综合解决方案，欢迎各位专家老师莅临TESCAN展台互相交流和学习。展览会日期：2017年10月10日（星期二）~13日（星期五）展览会地点：北京国家会议中心（北京市朝阳区天辰东路7号）TESCAN 在 BCEIA 2017TESCAN展台秀展位号：E馆42109/42110（靠近E4出入口）快速到达通道展位号：E馆42109/42110（靠近E4出入口）同期活动-TESCAN新产品S8000G发布讲座新品秀丨TESCAN新一代双束 (FIB-SEM)系统时间：2017年10月12日 11:00（展览区北侧二层展商秀场）新品闪耀、礼品缤纷、咖啡茶歇Mini吧邀您共聚！ 届时莅临展台更有精美礼品赠送。TESCAN热忱欢迎您莅临参观！关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN新微信，更多精彩资讯

TESCAN中国现急聘维修工程师（北京），有使用SEM/FIB经验的即将毕业的研究生或博士生均可！在这里，你将获得极具竞争力的薪资体系丰富的培训机会和完善的晋升机制五险一金、生日/节假日福利、各式补贴不定期的团队建设、工会出游活动幸福有爱的团队文化，贴心的人文关怀招聘岗位：维修工程师（北京）Service Engineer（Beijing）岗位职责  Work Description-routine service of SEM (scanning electron microscopes)-SEM installation, troubleshooting, repair, maintenance and work related to it-solving technical issues with customers over phone, email-discussing problems with service manager, TESCAN Czech Republic headquarters-planning of work time, customer visits任职要求  Mandatory Requirements-Bachelors degree in Electronics, Mechatronics, Physics or engineering-Written and spoken English at intermediate level-Technical skills, ability to read electronic documentation, service manuals inEnglish, good technical diagnostic skills-Excellent hands-on technical skills, ability to analyse complex technicalproblems and make conclusions what can be wrong-Thorough understanding of PC hardware, Windows operating systems (xP thruWindows 7) and an above ability of using Microsoft Office products (e.g. –Outlook, Word, Excel, PowerPoint)-Ability to travel across China, sometimes on short notice-Ability to travel abroad, mainly for attending of service trainingsBelow knowledge is advantage:-experience with scanning electron microscopy, focused ion beam-semiconductor industry and semiconductor manufacturing- basicideas about vacuum and ultrahigh vacuum systems-basic ideas about electronic and high voltage electronic关于TESCANTESCAN是一家专注于微观形貌、结构和成分分析的科学仪器的跨国公司，是全球知名的电子显微仪器制造商，总部位于全球最大的电镜制造基地-捷克布尔诺，且已建立起全球的销售和服务网络，在捷克、法国和美国拥有4家研发中心、2个生产基地以及6家海外子公司，已有超过60年的电子显微镜研发和制造历史。其产品主要有电子显微镜、聚焦离子束系统、多通道全息显微镜及相关分析附件和软件，正被广泛应用于医学、生物、生化、农业、材料科学、冶金、化学、石油、制药、半导体和电子器件等领域中。作为科学仪器的全球供应商之一，TESCAN正为其在设计、研发和制造扫描电子显微镜及扫描电子显微镜在不同领域的应用方面树立良好的声誉和品牌。目前TESCAN的产品和解决方案已经在全球微纳米技术领域取得了领先的地位，首创了扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术，也是行业领域的技术领导者。TESCAN凭借优异的性能赢得全世界越来越多的用户认可，目前生产的各系列电镜在世界范围内受到广泛的好评。从2000年至今已有2500多台电镜积极地服务于全球客户。TESCAN中国TESCAN于2009年正式进入中国市场，成立了TESCAN CHINA中国分公司，总部设在上海，且在北京、上海两地建立了DEMO实验室，在北京、上海、广州、重庆、南京、武汉、西安、无锡、苏州等城市设立9个维修站。TESCAN中国公司拥有经验丰富的售前应用和售后服务的技术团队，在上海的应用中心有包含钨灯丝电镜、场发射电镜、FIB以及电制冷能谱仪、电镜制样设备等全系列产品的演示培训平台，为国内用户提供参观、交流和学习的平台。在进入中国的短短几年内，TESCAN已逐步建立起了自己的品牌，得到了广大客户的认同。TESCAN在中国的高速发展得益于产品优异的性能、快捷的售后服务以及致力于成就客户的信念，未来TESCAN中国将持续提升个性化服务，为国内用户提供更全面、更专业的综合解决方案！关注TESCAN微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯↓  更多信息，请访问：TESCAN官网：www.tescan.comTESCAN中国官网：www.tescan-china.com↓  您可以选择以下任意方式投递简历：一、发送您的简历至：hr@tescanchina.com二、登录“前程无忧”关注泰思肯招聘信息发送您的简历

这里是TESCAN电镜学堂第二期，将继续为大家连载《扫描电子显微镜及微区分析技术》(本书简介请至文末查看)，帮助广大电镜工作者深入了解电镜相关技术的原理、结构以及最新发展状况，将电镜在材料研究中发挥出更加优秀的性能！第三节  扫描电镜像衬度形成原理扫描电镜通过电子束在样品表面周而复始的进行扫描运动，同时实时监测各种信号图像的产额，然后根据产额的多少调制成图像。引起各种信号产额扫描电镜像衬度的来源有三个方面：① 试样本身性质（表面凹凸不平、成分差异、取向差异、表面电位差别等）；② 信号本身性质（二次电子、背散射电子）；③对信号的人工处理。 §1. 形貌衬度样品所谓的形貌衬度，其实就是不同位置的倾斜角度的差异。A. 二次电子产额δ 和人射电子束角度α 的关系能量相同的电子束轰击样品形貌不同的区域，产生的二次电子的深度一样。但是二次电子产生后，最终要能逃出样品表面才能被接收到。设α 为入射电子束与试样表面法线的夹角，对光滑试样表面，二次电子的产额 δ∝1/cosα。α越大，入射电子越靠近试样表面层。从图2-15中可以看出，α2＞α1，入射电子束②的路径比入射电子束①更靠近试样的表面，就有更多的二次电子逃逸出试样表面。要得到强的二次电子信号，往往需要倾转试样台，也就是改变入射电子束的角度 （改变α），使之有更多的二次电子激发出来。 图2-15  倾斜角和SE产额的关系B.  入射电子方向对背散射电子产额η 的影响η 是背散射电子的产额，表示一个初始电子能产生能量大于50eV而小于初始能量的电子的几率。当电子束垂直入射时，背散射电子的分布接近余弦定律，发射的方向是随机的（图2-17a）； 当电子束倾斜入射时，背散射电子的角分布成一个向前的棒形 （图2-17b，c）。随着入射角α 的增加，背散射电子也更加的靠近试样表面，背散射电子的发射也相应的增加。当人射角接近掠射角时，背反射系数η接近于1。图 2-17 BSE的角度分布η 随倾角α 增加而增加，但不精确满足正割关系，如图2-16。α 角越大，背散射电子反射系数η越高，这表明背散射电子反射率对样品表面状态也比较敏感。图 2-16 背反射系数η 与倾斜角的关系C.  形貌衬度对扫描电镜而言，入射电子的方向是固定的，但由于试样表面凹凸不平，导致了电子束对试样表面的入射角的不同。如图2-18所示，试样中A, B两个平面的入射角α 是不同的，由二次电子以及背散射电子反射的规律可以知道，入射角α越大，二次电子产额δ越高，背散射电子反射系数η 也越高，故而扫描电镜探测器接收到的二次电子和背散射电子数量也不同，从而图像上的亮度也不同。例如，A区的入射角比B区大，A区接收到的二次电子和背散射电子更多，所以反映在图像上就是A区比B区更亮，从而将试样的形貌衬度表现出来。图 2-18 表面形貌衬度二次电子产额和背散射电子反射系数都可以表现试样的形貌衬度，但由于背散射出射深度深，发射区域相对二次电子很大，空间分辨率相对二次电子低的多，立体感也不及二次电子，背散射电子很大程度上反映的是亚表面的形貌。如图2-19，是锂电池电极材料的SE像和BSE像，明显可以发现SE像对表面形貌的反映比BSE像更灵敏。不过现在很多的桌面台式扫描电镜就是利用背散射电子来观察试样的形貌。而且在特定的情况下，背散射电子观察形貌比二次电子有优势，这将在后文中提到。图 2-19 锂电池电极材料的SE像和BSE像不过二次电子和背散射电子在探测器的接收方式上存在较大的差异，虽然倾斜角越大背散射电子产额越高，但是其发散角分布也改变。此时背散射虽然有较大的产额，但并不意味着所有的背散射电子都能被有效的接收到，所以有时候背散射电子像的明暗衬度和倾斜角之间的关系并不完全一致，如图2-20。图 2-20 金字塔状形貌的SE像和BSE像（异常反差）D.  边缘效应图 2-21 形貌衬度中的边缘效应与尖端效应不过二次电子或背散射电子的形貌衬度有明显的边缘效应和尖端效应，如图2-21所示。在一些突出的尖端，或者是小颗粒、较陡的斜面，以及多个平面的交汇处，二次电子逃逸到表面的途径要比正常情况大的多，所以在这些位置往往二次电子的产额会比正常平面高很多，反映在图像上就是发生尖端效应或者边缘效应的区域亮度非常高，呈一个白点或者白色轮廓，如图2-22。图 2-22 边缘效应与尖端效应§2.  原子序数Z 衬度（成分衬度）A.  二次电子产额δ 和原子序数Z 的关系图 2-23 不同物质的SE产额不同二次电子产额除了形貌外、和入射电子束能量及原子序数Z 也有一定的关系，如图 2-23。二次电子产额与原子序数之间是个复杂的关系。不同原子序数的物质由于核外电子数目不同以及电离能的差别，导致二次电子产额和原子序数也有一定的关系；此外，不同的原子序数对背散射的产额也有差异，而背散射电子也会产生二次电子。二次电子产额在总体上随着原子序数的增大而增加。在Z 小于20时，δ 随着原子序数Z 的增加也有所增加；当原子序数Z 大于20时，二次电子产额基本上不随原子序数变化，只有Z 小的元素的二次电子产额与试样的组分有关。所以二次电子通常情况下用于观察表面形貌，而不用于观察成分分布；不过在原子序数较低或差异较大的时候，二次电子也能看出原子序数衬度。B.  背散射电子系数η 与原子序数Z 的关系背散射电子系数η 与原子序数Z 具有如下关系式，η 随着Z 的增大而增大，如图 2- 24所示。η＝-0.0254+0.016Z-0.000186Z2+8.3×10-7Z3图 2-24 背散射系数和原子序数的关系图 2-25  SE和BSE产额与原子序数的关系C.  原子序数衬度图2-25是二次电子和背散射电子产额与原子序数之间的关系图。由图2-25可以看出，无论是二次电子还是背散射电子，其产额都随着原子序数的增加而增加。 故在进行分析时，试样中原子序数较高的区域可以发射出比原子序数较低区域更多的二次电子和背散射电子，也就是说原子序数较高的区域图像更亮，这就是原子序数衬度的原理。另外，图2-25也说明了一个问题，二次电子反映的原子序数Z 衬度相比背散射电子要弱很多。在原子序数Z 较小，或者Z 相差很大时，二次电子还能够表现出较好的原子序数Z 衬度。如图2-26，左图是碳银混合材料的 SE像，碳的原子序数很小，而银的原子序数较大，两者的二次电子产额依然有较大的差异，所以我们可以很容易的从二次电子图像上来区分出碳和银。而右边背散射电子图像的成分衬度更加明显，不过其表面细节却远不如二次电子图像。图 2-26 碳银混合材料的 SE、BSE图像和碳、银电子产额虽然二次电子和背散射电子都能表现原子序数衬度，不过无论原子序数Z 如何，背散射电子对原子序数的敏感度都始终比二次电子高得多。所以在进行成分分析时候，背散射电子使用的更为广泛。我们可以从背散射电子像的亮度差别，再根据对试样的了解，快速定性判断出物相类型。再如图2-27，试样是铜包铝导线材料截面，外面为铜，内部为铝。由于铝和铜的原子序数差异不大，两者二次电子产额的差异变得较小，故而 SE图像已经不能很好的区分不同 的组分；而背散射电子的产额依然有较大的差异，所以 BSE像的衬度十分明显，可以轻易的区分铜和铝的分布情况。图 2-27 铜包铝导线截面的 SE、BSE像和铝、铜电子产额图 2-28 镀膜表面的 SE像和 BSE像再如图2-28，试样是某种镀膜材料。由于样品表面受到较大的表面形貌衬度的影响，以及边缘效应，二次电子产额已经完全不能呈现出原子序数衬度。而此时背散射电子受到形貌的影响较小，依然可以显示出明显的成分衬度。§3.  形貌衬度、原子序数衬度和二次电子、背散射电子的关系目前，很多地方将二次电子图像称为形貌图，将背散射电子图像称为成分图，其实都不是非常严谨。从前面的介绍我们已经知道，二次电子产额主要对形貌更敏感，背散射电子产额主要对成分更敏感；但二次电子图像也能反映一定的成分衬度，背散射电子图像也包含了一定的形貌衬度。因此无论是二次电子图像还是背散射电子图像，其实都始终是至少这两种衬度的混合，后面还将讨论其它衬度对两种电子产额的影响。将扫描电镜中二次电子和背散射电子的各自特点总结成下表：表 2-3  SE和 BSE的特点对比在很多实验交流中发现，很多人往往对二次电子比较了解而忽略了背散射电子，有的扫描电镜甚至没有配备背散射电子探测器，从而不能采集 BSE图像。仅仅了解形貌衬度而忽略了原子序数衬度，把扫描电镜仅仅当成了分辨率比光学显微镜更好的观察形貌的仪器，这都是对扫描电镜不够了解，没有充分发挥扫描电镜的作用。二次电子和背散射电子是扫描电镜使用最多的两种信号，形貌衬度和原子序数衬度也是样品本身性质中最常见的衬度。从表2-3中可以看出，两种电子信号和两种衬度之 间是相辅相成，缺一不可的。只有充分了解了两种电子和两种衬度之间的关系，才能将扫描电镜充分发挥作用，从电镜图像中获取更多的信息。如图2-29，金属材料断口的 SE（左）和 BSE（右）图像，结合SE 和 BSE图像，综合形貌衬度和成分衬度，可以对断口的失效做出更快更准确的分析。图 2-29 断口的 SE像和 BSE像§4.  磁衬度某些试样，如铁磁性材料中的磁畴、录像磁带的磁场或者集成电路上的薄膜导线会在试样表面形成外延磁场。具有一定规律的二次电子会受到这种磁场的影响而偏转形成某种衬度，这就是第一类磁衬度，表现为条纹型衬度。背散射电子在样品中的自由程较长，外界磁场就可能会影响两次碰撞之间的轨迹，凡是轨迹弯向表面的电子易于逃逸出，相反，轨迹背离表面向内部弯曲的电子不易逃逸出，最终造成η 不同而形成的衬度，这就是第二类磁衬度。§5.  电位衬度试样表面若存在电位分布的差异，如半导体的P-N结、加偏压的集成电路等，这些 局部电位的差异会影响二次电子的轨迹和强度。二次电子在正电位区域好像被拉住不易逸出，故在正电位区域二次电子产额较少, 在图像上显得较暗；相反在负电位区域，二次电子易被推出，产额较高，在图像上显得较亮，这就是电位衬度。我们可以用电位衬度来研究材料和器件的工艺结构。如图2-30，是集成电路板在未加偏压和加上偏压的图像。图 2-30 集成电路板在加偏压前后的图像不过在通常的观察中，具有明显电位衬度的试样并不多。不过随着减速技术的普及，在减速模式中，有的电位衬度会被放大，从而使得样品也能观察到明显的电位衬度。此外，在半导体芯片的失效分析领域，电位衬度具有重要的作用。有的半导体芯片的某些特殊位置产生断路、短路或者其它异常，这些位置往往并不在样品表面，所以此时无论是表面的形貌衬度还是原子序数衬度均发挥不了太大的作用。而此时用电子束扫描样品表面一段时间，如果芯片内部存在缺陷，如图 2-31，缺陷对应的表面位置的电位可能会和周围不同，进而从图像上表现出明显的亮点或暗点。通过此种方法，可以对快速寻找芯片缺陷的位置，然后进一步对缺陷位置做其它处理，并进行进一步的分析。图 2-31 半导体芯片缺陷引起的电位衬度§6.  电子通道衬度（ECC)如果试样是晶体的话，二次电子和背散射电子产额还和初始电子束与晶面的相对取向有关。晶体取向的不同会造成初始电子被试样原子散射的机率产生差异，进而影响二次电子和背散射电子的产额，这就是电子通道衬度，又称为ECC，如图2-32。图 2-32 电子通道衬度示意图不过电子通道衬度相对形貌衬度来说要弱很多，还需要试样表面有良好的晶体结构。所以一般要观察到明显的电子通道衬度必须消除形貌衬度的影响。一般只有非常平整的、没有多余残余应力的金属、晶体等多晶材料试样，才能明显的观察到不同取向晶粒产生的通道衬度。要获得理想的 ECC像，需要几个条件。特别是前两条，基本上要按照 EBSD 的标准进行制样：① 样品要足够平整，减少形貌衬度的引人；② 样品表面要尽可能的减小残余应力，保持表面有较为完成的晶体结构；③ 背散射电子的通道衬度一般强于二次电子，使用背散射电子观察 ECC效果更好；④ 较大的束流下 ECC更加明显。如图2-33是不同束流条件下用 SE和BSE观察到的金属镍材料的通道衬度。图 2-33 金属 Ni在不同束流条件下的ECCSEM-ECC技术适用于观察多晶材料的晶粒尺寸，特别是亚晶结构等。晶体中的缺陷附近会产生晶格畸变，那里的衬度与周围会有所不同，于是在显示屏上显示出它们的衬度像。不过限于SEM的分辨率，SEM ECC还不能观察单个位错。§7.  密度衬度此外还有一种不常见的衬度，这种衬度以前曾被误认为是通道衬度或者原子序数衬度。有的物质虽然可能成分完全一样，形貌也类似，但是可以产生同分异构现象。不同的同分异构体之间因为结构不同，从而可能带来较大的密度差异，进一步造成初始电子束在试样中的散射几率产生差异，从而带来二次电子或者背散射电子产额的差异。密度高的物质具有更高的电子产额呈现更亮的灰度，反之密度低的物质则呈现出更为暗淡的灰度。这种衬度其实是一种密度衬度。所以有时候，存在同分异构体（比如碳材料）的物质产生出这种因密度不同引起的衬度，但是这种衬度首先也要先保证成分基本相同，且基本没有形貌衬度的影响，否则难以用密度进行解释。如图2-34，左边是比重约为3.5的金刚石，右边是比重约为 2.3 的石墨，可以看出密度更大的金刚石具有更高的电子产额。图 2-34 金刚石和石墨表现出的密度衬度   图 2-35 存在各种复杂体系的碳材料图2-35为处理过的碳材料。碳材料本身结构很复杂，处理后可能存在各种碳结构，如无定形、sp2杂化、sp3杂化等，里面可能有无定形碳、石墨化、类金刚石等复杂体系，不同体系成分一样，密度不同，表现出不同的明暗衬度。当然，如果进行进一步的分析需要借助其它仪器，或者 TESCAN的 RISE电镜可以直接进行拉曼光谱的成像，进行更准确的碳结构鉴定。福利时间每期文章末尾小编都会留1个题目，大家可以关注TESCAN官方微信平台“TESCAN公司”在留言区回答问题，小编会在答对的朋友中选出点赞数最高的两位送出本书的印刷版。奖品公布上期获奖的这两位童鞋，请在“TESCAN公司”微信公众号后台私信小编邮寄地址，我们会在收到您的信息并核实后即刻寄出奖品。【本期问题】选用二次电子观察原子序数衬度，试样需要满足怎样的条件？（快关注微信留言区回答问题吧）简介《扫描电子显微镜及微区分析技术》是由业内资深的技术专家李威老师（原上海交通大学扫描电镜专家，现任TESCAN技术专家）、焦汇胜博士（英国伯明翰大学材料科学博士，现任TESCAN技术专家）、李香庭教授（电子探针领域专家，兼任全国微束分析标委会委员、上海电镜学会理事）编著，并于2015年由东北师范大学出版社出版发行。本书编者都是非常资深的电镜工作者，在科研领域工作多年，李香庭教授在电子探针领域有几十年的工作经验，对扫描电子显微镜、能谱和波谱分析都有很深的造诣，本教材从实战的角度出发编写，希望能够帮助到广大电镜工作者，特别是广泛的TESCAN客户。↓  第一期，请关注微信查阅以下文章：电镜学堂丨扫描电子显微镜的基本原理（一）- 电子与试样的相互作用

2017年9月19日，“TESCAN奖学金颁奖仪式暨电镜高级应用培训班”在华南师范大学化学与环境学院举行，TESCAN中国区市场部经理顾群先生与华南师范大学化学与环境学院蔡跃鹏副院长共同为7名获得“TESCAN奖学金”的优秀学生颁奖。蔡院长为颁奖仪式做开幕致辞蔡院长在致辞中提到，自TESCAN公司场发射扫描电镜安装调试使用、特别是今年5月“华南师范大学化学与环境学院—TESCAN联合实验室”挂牌成立以来，华南师范大学化学与环境学院已经有5位硕士和15位本科生毕业，走上工作岗位或者向更高一级的高校和科研院所深造。目前学院在读研究生有近30人，已发表SCI论文20多篇，其中一区论文近10篇，获批省级以上项目5项，并先后获批广东省研究生示范基地以及华南师范大学化学与环境学院第二支部的“双创”示范基地，为本科创新型人才的培养提供了一个很好的平台。显然联合实验室的成功建立与良好地运行为这些成果的取得提供了有力的支撑。 “TESCAN奖学金”颁发      TESCAN中国区市场部经理顾群先生在颁奖仪式致辞中也谈到了联合实验室是TESCAN中国最重要的市场活动，借助联合实验室交流示范平台，我们将更好地服务我们的客户，为客户提供  最优质高效的服务和最前沿的技术应用支持。颁奖仪式结束之后，随即开展了电镜高级应用培训班，TESCAN市场部经理顾群先生简单介绍了TESCAN综合分析技术以及其在扫描电镜、FIB技术领域的最新应用和创新，应用部张芳女士也向联合实验室的电镜管理和操作人员以及华南师范大学各学院的学员们进行了电子显微镜高级应用培训，并带学员上机实练，详细讲解仪器以及软件的使用。电子显微镜高级应用培训关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN新微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯

2017年9月15日至17日，由高校分析测试中心研究会主办，天津大学分析测试中心承办的“2017电子显微学在材料和生命科学中的高端应用及分析方法论坛”在天津市社会山国际会议中心酒店隆重开幕。会议旨在积极推动电子显微学理论及其应用技术的快速发展和交流，使高校分析测试中心更好地为高水平科研提供优质支撑，争取在“双一流”建设中发挥更大作用。本次会议由高校分析测试中心研究会理事长朱永法教授、高校分析测试中心研究会副理事长学术部负责人董林教授分别做了开幕致辞，姚琲秘书长主持大会。会议还特邀国内外多名电子显微学专家做技术讲座和学术报告，展示了在前沿物理化学、材料、生命科学等领域中的基础研究及研究成果，来自全国高校的分析测试中心、相关研究机构及企业的200多名代表参会。  电子显微学高端论坛开幕现场TESCAN作为特邀厂商出席此次会议，并带来了“TESCAN在扫描电镜、FIB技术领域的创新和应用”的精彩报告。TESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的创新者和领导者。在会议报告中，TESCAN公司市场部经理顾群向参会专家们简单介绍了TESCAN的发展历史以及其在显微领域的技术创新，并重点介绍了TESCAN “All In One”综合分析平台的产品设计理念以及其首创的氙等离子源的超高速双束FIB系统、电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）和双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱一体化系统（TOF-SIMS），以及这些创新技术的最新应用进展和市场拓展情况，引起了参会专家们的极大兴趣。TESCAN中国市场部经理顾群作会议报告论坛期间，参会老师们来到TESCAN展台与TESCAN公司工作人员积极互动，深入交流了电镜-拉曼联用技术和电镜-飞行时间二次离子质谱联用技术的应用拓展，探讨新技术对于研究课题可能带来的突破和帮助。参会代表合影关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN新微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯

2017年9月14-16日，由上海市机械工程学会失效分析专业委员会、上海市焊接学会和金属加工杂志社联合组织的全国金属材料失效分析培训研讨会暨全国焊接结构失效分析培训会于在上海诺宝中心大酒店成功举行，来自全国各地机械行业的工程师焊接结构失效分析问题进行了深入的交流和学习，TESCAN公司受邀参加此次会议。会议开幕式由上海市机械工程学会失效分析专业委员会秘书长杨力老师主持，上海市焊接学会监事刘榴代表学会在开幕式上致辞，对参加此次研讨培训会的代表表示欢迎。他说，“材料和焊接结构失效分析研讨培训会的举办非常及时，材料和焊接结构失效分析需要扎实的理论功底和丰富的实践经验，研讨就是交流，切磋和提高；培训就是普及，以满足市场和业界的需求。”研讨会现场及开幕仪式本次大会共邀请了金属材料、焊接、结构设计方面的8位专家，分别从失效分析理论、焊接工艺技术、焊接典型失效案例以及结构设计等方面做了精彩的演讲。来自上海交通大学和上海工程技术大学的陈华斌副教授、余春博士、卢庆华副教授从焊接应力变形、焊接疲劳和智能焊接测量方面进行了讲解。 TESCAN公司应邀出席此次培训研讨会，并向与会专家和代表们展示了TESCAN最新产品及应用解决方案，吸引了参会代表们的兴趣，TESCAN工作人员与来自全国材料结构方面的专家进行了热烈的交流。TESCAN工作人员与参会专家热烈交流关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN新微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯

《RISE大招》有机材料分析篇来了！上期小编带大家了解了TESCAN RISE拉曼-电镜一体化系统在碳材料中的新应用，收获了很多老师们的关注。今天，继续带大家走进RISE有机材料分析，阅读完记得右上角点击分享喔?在扫描电镜分析中，有机物的分析一直是一个难题。现在随着电镜低电压的能力越来越强，已经能解决有机物的荷电以及电子束辐照损伤问题，对形貌的表征不再是难事。但是对有机物除形貌之外的分析依然是个难题，因为能谱的元素分析功能对有机物的表征起不了太大作用。而拉曼光谱是除了红外光谱以外，另一个可以很好地进行有机结构解析的表征手段。因此RISE拉曼-电镜一体化系统相比一般的SEM系统，对有机物的分析能力就有了极大的拓展。有机物的结构分析主要是碳骨架结构和特殊官能团的解析。碳结构的表征在上期已经详述，是拉曼最为优势的领域之一；而特殊官能团也可通过其对应的拉曼指纹峰来进行指示。不同特殊官能团对应不同拉曼指纹峰有机材料的分析如下图，试样为聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)和聚苯乙烯(PS)的共混膜。如果是用传统电镜观察，可以凭借经验，根据形貌来大致区分两者，但是这仅仅是依靠经验判断，并无有效的证据。除此之外，EDS等附件并不能确切的给出区分两相的有力数据。而用RISE分析却有了明显的进步，在观察到的区域可以进行拉曼光谱面扫描。PMMA和PS虽然都是有机材料，不过碳骨架结构和部分官能团的结构却有着较大的差异。PMMA化学式是-[CH2C(CH3)(COOCH3)]n-，PS为(C8H8) n。聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)和聚苯乙烯(PS)的化学结构式PMMA有特征的C=O结构、CH3伸缩振动，而PS有特征的苯环的环呼吸振动、苯环内碳原子的非对称振动、苯环C-H的伸缩振动。这些振动对应的拉曼峰分别位于1727cm-1、2951cm-1、1000cm-1、1600cm-1、3052cm-1，这些峰即可作为两项的特征峰轻易的将两项进行区分。通过拉曼特征峰轻易区分PMMA和PS此外，很多有机物都有特征性的骨架结构和官能团，这些均可作为拉曼光谱的特征峰用RISE进行分析。有机物中特征骨架结构和官能团对应特征拉曼峰再比如，RISE也可轻易区分下图有机物中的聚羟基丁酸酯(红色)和聚乳酸(蓝色)。通过拉曼特征峰区分聚羟基丁酸酯(红色)和聚乳酸(蓝色)生命科学的分析在生命科学研究领域中也经常需要用到扫描电镜，尤其是染色的细胞切片组织通过扫描电镜观察，可以通过形貌衬度判断细胞内部结构。然而除了形貌照片之外，没有更多的分析数据也困扰着这一类方向的研究。然而RISE技术仍可以在此基础上进行进一步的拓展，很多生命试样的特征结构也都有特征的物质组成，比如特征的蛋白、脂类等等，还是可以由特征的有机物及其对应的特征拉曼光谱作为指纹标记。如下图，可以将细胞切片组织在形貌的基础上进行RISE表征，进一步区分出细胞核、细胞间隙和高浓度磷脂。通过RISE技术表征细胞切片组织中不同物质再比如下图，试样为眼虫细胞。在获得SEM图像之后再通过拉曼光谱获得RISE图像，可以进一步分析出其中的叶绿体、蛋白质、细胞核、副淀粉等物质。眼虫细胞中不同物质的RISE表征分析医工交叉目前学科交叉是科学研究的发展趋势，其中医工交叉也是备受关注的方向。医工交叉的科学研究中有大量的新材料和仿生材料，这也是仅靠传统SEM系统无法完全表征清楚的。而RISE系统在这方面就大有了用武之地。如下图，某仿生材料，用户除了关心其形貌特征外，也关心其中的胶原和矿化胶原的分布。其特征峰主要在627cm-1、1601cm-1，其特征峰强度分布如图，除此之外还有420-460cm-1、2938-2941cm-1等其他特征峰，可以进行更加细微结构的判断。最终得到了胶原和矿化胶原，以及细微结构不同的(矿化)胶原的分布图和电镜形貌混合的RISE图像。仿生材料中胶原及不同细微结构的矿化胶原分布分析 食品安全食品安全及其相关领域已经成为大众非常关心的问题以及检测领域遇到的新问题，比如三聚氰胺奶粉、苏丹红等问题。然后可惜的是在食品安全及相关领域，用户更关系的是化学结构分析而非形貌和元素成分，因此扫描电镜很难在此领域的检测上发挥作用。如下图，某品牌婴儿奶粉，对其中部分区域进行RISE成像，发现其中的空气液泡、脂类、磷酸、胡萝卜素、蛋白质、胆固醇、甘油三酯等物质的分别。婴儿奶粉中不同物质的RISE表征分析RISE拉曼-电镜一体化系统相比一般的扫描电镜系统，对有机物的分析能力有了极大的拓展，通过有机物的碳骨架结构和特殊官能团对应的拉曼指纹峰来进行指示，结合形貌表征，从而实现对于有机材料的结构解析。更多应用案例，请继续关注我们的专题分享。《RISE大招》系列下期将带大家开启RISE二维材料分析 关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN新微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯↓  观看RISE分析全系列，请戳：“拉曼-电镜-能谱 +”，SEM Plus带你玩转无机材料分析“高碳材料带来低碳生活，TESCAN带你了解 “神器”的神奇

近日，由黑龙江省电镜学会主办的东北三省第十八届电子显微学术会议在黑龙江省哈尔滨市哈尔滨工业大学举行。会议期间进行了电子显微学学术交流、电镜相关技术发展和电镜及其他显微学仪器的使用技能与技巧的交流，TESCAN作为此次会议赞助商应邀出席，并带来了“TESCAN在扫描电镜、FIB技术领域的创新和应用”的精彩报告。2017年东北三省电子显微学术会议TESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，有超过60年的电子显微镜制造历史，是电子显微镜和聚焦离子束领域的技术领导者。此次学术交流会，TESCAN公司市场部马耀娇向参会专家们简单介绍了TESCAN的发展历史以及其在显微领域的技术创新，并重点介绍了TESCAN “All In One”综合分析平台的产品设计理念以及其首创的氙等离子源的超高速双束FIB系统、电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）和双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱一体化系统（TOF-SIMS），以及TESCAN最新发布的FIB新品S8000系列产品的特点和应用优势。TESCAN中国市场部马耀娇作会议报告TESCAN 首创的氙等离子源超高速双束FIB系统，离子束流高达2μA，其溅射速率相比传统的Ga离子源高达50倍以上，非常适合于大尺寸材料去除的应用，特别是应用于TSV的半导体封装技术。在材料科学领域，利用氙等离子双束FIB技术，可以轻松提高加工速度。例如钢铁样品的EBSD三维重构，TESCAN FERA3 氙等离子源双束FIB系统首次实现了FIB加工速度快于EBSD分析速度。此外，在生命科学领域中，氙等离子源FIB技术也扩展了生物组织三维重构的应用。TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统TESCAN首创的双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用技术（TOF-SIMS）是电镜厂家中第一个将飞行时间二次离子质谱和自己的SEM/FIB成功集成在一起，创新成为一体化系统。联用系统的创新打破了EDS及WDS的分析局限性，拥有更灵敏的检出限和更好的空间分辨率，在对轻元素的探测、同位素检测、深度剖析和化学结构解析应用中具有很大的优势。另外，TESCAN首创的电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）在微观观测和分析领域带来了重大应用革新。传统的扫描电镜分析性能薄弱，SEM与拉曼光谱仪虽然都是强大的分析工具，但各自都具有一定的应用局限。而电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）很好地解决了传统的应用难题，例如拉曼光谱对样品平整度的苛刻要求以及光镜观察形貌结构分辨率的不足和信息单一等难题，并在联用导航、探测器适配以及软件分析应用上都有革命性的提高和拓展，目前已在地质、碳材料、纳米科技、矿物晶体、聚合物、半导体以及生命医药、医学、检测鉴定等领域有了丰富的应用。TESCAN RISE系统还分别获得了“2014年分析科学家创新奖”和光谱仪器的最高奖项“2015年棱镜奖”。TESCAN拉曼-电镜一体化系统RISE Microscopy会议期间，来自东北三省的专家和老师与TESCAN中国公司的工作人员积极互动，展开了热烈的交流。感谢这个平台和交流机会，TESCAN将持续提升个性化服务，为广大用户提供更全面、更专业的综合解决方案！关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯

Hello,《RISE大招》系列又回归了，8月我们讲述了TESCAN RISE拉曼-电镜一体化系统在无机材料中相鉴定、金属夹杂分析、结构和结晶度分析、微量元素分析以及应力和取向分析等应用案例。今天，小编带你了解RISE在碳材料中的新应用，阅读完记得分享喔?碳材料种类多样，从无定形碳到石墨和金刚石，再到碳管和富勒烯，以及现在最热门的石墨烯。碳材料结构功能广泛，是目前关注和研究最多的新材料。但是对于碳材料的分析，在传统扫描电镜系统中也只能给出一些形貌信息，EDS的分析作用又相对较弱。除此之外，很难获得更多有价值的信息。而RISE拉曼-电镜一体化系统的出现对扫描电镜在碳材料领域的分析可谓迈出了一大步。不同碳结构 碳材料基于碳这个特殊元素的不同结构，会有不同的拉曼峰。碳材料的是拉曼光谱分析能力最强，以及拉曼光谱解析的最为透彻的领域之一。不同碳结构的碳材料具有不同拉曼峰下面小编就给大家列举几个RISE拉曼-电镜一体化系统在碳材料中的特殊应用。纳米金刚石试样为纳米金刚石，其大小不到一微米。如果进行EDS分析的话则都是C元素，没有很有价值的信息。但在RISE系统下，在电镜观察的同时进行拉曼单点分析，发现代表金刚石结构的碳sp3轨道杂化对应的拉曼峰(1332cm-1)半高宽较宽，峰没有较纯的金刚石的峰尖锐，说明纳米金刚石洁净度并不是非常好，其中存在一定的缺陷。纳米金刚石的RISE表征这个信号用传统的电镜无法分析出其结晶情况，而用单独的拉曼其分辨率也不够，如果用XRD等表征手段也能发现结晶情况不是很完美，但和电镜图片却无法一一对应。现在类金刚石薄膜(DLC)是个热门方向，RISE对其可以一次性的进行客户关注信息的全面表征。富勒烯富勒烯是由碳原子用稳定的sp2杂化成键，形成笼状碳结构，最常见的是C60，当然还会有高阶富勒烯(如C70、C80及C84)。由于传统SEM系统无法确定结构，所以对富勒烯的研究一般不使用扫描电镜，而更多的借助于TEM等其它能确定结构的表征手段。而在RISE系统中，我们可直接使用TEM样品，利用光镜或者电镜找到感兴区域，然后进行拉曼光谱的面分布扫描。通过光镜或电镜找到富勒烯样品的感兴区域具有C60结构的巴基球具有多种分子振动模式，不同的振动模式对应不同的拉曼谱峰。而其中位于1462cm-1代表碳原子成五边形收缩模型的谱峰，成为表征巴基球的拉曼特征峰。  C60的拉曼光谱对1462cm-1谱峰的积分强度进行拉曼光谱成像，达到了高分辨的拉曼图像。由此知道试样中富勒烯的结构，及巴基球的分布状况。通过高分辨拉曼图像判断富勒烯的结构和巴基球的分布RISE不但弥补了传统SEM不能表征富勒烯材料的重大缺憾，而且相比TEM，它的测试范围更加宽广，可以得到具备统计和整体信息的数据，这是用TEM等手段所达不到的。纳米碳管1991年发现了多壁碳纳米管，1993年发现了单壁碳纳米管，纳米碳管凭借其特殊的性能成为红极一时的新材料。扫描电镜也是表征纳米碳管的重要手段。不过遗憾的是扫描电镜除了能给出碳管的形貌，测量出管长管径外，很难为科研工作者提供出更多有意义的数据。而拉曼光谱也是另一个表征碳管性质的绝佳的手段。一般常利用拉曼光谱的几种模式结构，如呼吸模、伸缩G模、组合模和缺陷诱导等确定纳米碳管除了形貌外的其它重要性质。如下图，仅凭电镜形貌很难分析该碳纳米管是单壁还是多壁，以及质量究竟如何。但是对该区域同时进行拉曼光谱分析，我们发现该区域的拉曼光谱(蓝色)有很强的缺陷D峰，G峰也反应了纳米碳管的不是单壁，因为单壁碳管的G峰会有分裂(红色)。纳米碳管的质量和结构分析再比如下图，仅凭扫描电镜的图像，我们很难发现更多有用的信息，但是通过对观察区域进行拉曼光谱的面扫描，得到RISE图像，我们首先可以通过对拉曼谱的分类非常容易的从结构上区分出单壁纳米碳管(SWCNT)和聚乙烯(PE)，而从图像形貌来判断纳米碳管是单壁还是多壁则是不严谨的。而通过RISE图像，则可以把电镜的形貌信息和原位的拉曼结构信息进行综合分析。单壁纳米碳管(SWCNT)和聚乙烯(PE)的综合分析 此外，每一个测试点的拉曼光谱也同时记录了下来，用户可以对得到的拉曼光谱进行解析，对单壁纳米碳管进行更为深入的研究。比如，通过对呼吸模148cm-1、164cm-1和237cm-1三个拉曼峰进行研究，就可以指认单壁纳米碳管的(n,m)指数，进而确定碳管的管直径以及电子共振跃迁能量等其它特性。 再比如下图，是添加了碳纳米管的电池材料，电镜虽然能清楚的看清碳纳米管的形貌，但是对其质量以及对电池性能提升的帮助却一无所知。然后在进行RISE面分布的成像之后，我们可以清楚判断不同形貌的碳纳米管的质量和性质，进而对我们电池性能的研究提供更多的数据支持。 通过RISE判断不同形貌的碳纳米管的质量和性质碳材料家族兴旺发达，其性能也随着结构表现出极其神奇的一面。有最硬的金刚石，有最软的石墨；有非常绝缘的金刚石，也有导电性极佳的石墨；有导热性很好的金刚石、石墨，也有绝热性很好的炭黑；有全透光的金刚石，也有全吸光的石墨。还有今年来最受关注的石墨烯。目前以碳材料为主的新材料得到了全世界的广泛关注，有关碳材料的研究也将进入全面的竞争。而RISE，原位的整合了SEM和拉曼分析技术，将会成为碳材料研究领域的“神器”。 敬请关注《RISE大招》系列，下次将带大家进入RISE有机材料分析之旅。 关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯↓  观看RISE无机材料分析全系列，请戳：“拉曼-电镜-能谱 +”，SEM Plus带你玩转无机材料分析

2017年9月1日，“TESCAN新产品技术交流会”在黑龙江省哈尔滨市索菲特大酒店隆重举行，来自全国高校、科研院所以及著名企业的70多名领导专家参加了交流会，会议还特别邀请了黑龙江省电镜学会理事长孟庆昌、学会秘书长来忠红出席。在技术交流会上，TESCAN公司的技术专家们带来了关于TESCAN在扫描电镜（SEM）和聚焦离子束（FIB）等相关领域的创新技术和应用分享，以及TESCAN “All In One”综合分析平台拓展的新应用，尤其是电镜-拉曼联用技术以及电镜-飞行时间二次离子质谱联用技术所带来的应用革新。TESCAN新产品及技术交流会现场本次技术交流会由TESCAN与合作伙伴沈阳元杰光学技术有限公司联合举办，元杰光学总经理马晓冰在会议伊始做了一个简单分享，表示元杰光学与TESCAN将精诚合作，提高服务质量和服务水平，形成行业利他式的经营，致力于为电镜用户带来更好的应用解决方案和技术助力，推动行业科研进展。 元杰光学总经理马晓冰分享TESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，有超过60年的电子显微镜制造历史，是电子显微镜和聚焦离子束等领域的开拓者和技术领导者。在技术交流会上，TESCAN市场部经理顾群首先向大家介绍了TESCAN的发展历史以及其在显微领域的技术创新，并重点介绍了TESCAN “All In One”综合分析平台的产品设计理念以及它能给客户带来的应用价值。TESCAN市场部经理顾群介绍公司历史及产品线随后，TESCAN应用部专家李景为参会的专家学者详细介绍了TESCAN独创的氙等离子源双束FIB技术以及电镜-飞行时间二次离子质谱联用技术（TOF-SIMS）在微观观测和分析领域带来的创新应用。TESCAN是第一个将TOF-SIMS和自己的SEM/FIB成功集成在一起，创新成为一体化系统的厂家。联用系统的创新打破了EDS及WDS的分析局限性，拥有更灵敏的检出限和更好的空间分辨率，在对轻元素的探测、同位素检测、深度剖析和化学结构解析应用中具有很大的优势。TESCAN应用部专家李景介绍Xe等离子源FIB及TOF-SIMS新技术之后，TESCAN应用部经理李威为大家带来了TESCAN电镜-拉曼一体化系统的最新应用开发案例。TESCAN电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）能够很好地解决传统的应用难题，例如拉曼光谱对样品平整度的苛刻要求以及光镜观察形貌结构分辨率的不足和信息单一等难题，并在联用导航、探测器适配以及软件分析应用上都有革命性的提高和拓展，目前TESCAN应用技术团队已在地质、碳材料、纳米科技、矿物晶体、聚合物、半导体以及生命医药、医学、检测鉴定等领域开发和积累了丰富的应用案例，能更好地帮助用户分析并解决应用难题。RISE系统是TESCAN承接欧盟设立的电镜-拉曼联用技术仪器开发专项，并和德国著名的拉曼厂商Witec合作，对传统的电镜-拉曼联用系统进行全新的开发，并与2014年研发成功。RISE系统在问世之后，分别获得了“2014年分析科学家创新奖”和光谱仪器的最高奖项“2015年棱镜奖”，并被很多科学家点评为“材料研究的高科技工具”！目前TESCAN RISE电镜-拉曼一体化系统已经在国内多家用户单位安装使用。TESCAN应用部专家李威介绍电镜-拉曼一体化系统拓展应用最后，TESCAN中国区总经理冯骏向参会的专家老师们表示了诚挚的欢迎和感谢，冯骏谈到TESCAN在2014年重组中国区团队后的短短三年内，在大家的支持下已经取得了很大的进步，全国的市场占有率有了质的飞跃，在东北地区高端产品的销售增长量已经超过一倍。而这源自于TESCAN团队真正对于公司核心价值观的贯彻执行，TESCAN把成就客户放在核心价值观的首位，从全面解决方案的提供、售后服务的响应时间和维修价格的合理化、透明化，再到全方面的应用培训、开发和合作，我们致力于真正为客户解决问题，帮助客户的科研和工作。相信TESCAN的创新技术和应用解决方案将会更好地帮助电镜分析研究工作者开展科研探索，更好地推动行业科研水平的发展。 TESCAN中国区总经理冯骏倾情分享TESCAN新产品及技术交流会参会人员合影关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯

2017年8月29-8月31日, 由中国兵工学会材料科学与技术专业委员会和中国兵器工业标准化研究所联合主办的 “2017年兵器工业失效分析与无损检测技术交流会”在黑龙江省哈尔滨市成功召开，来自兵器行业内外材料检测界的专家和代表们共聚一堂，共同分享和交流近年来兵器工业失效分析领域的新方法、新技术。TESCAN作为此次技术交流会的独家赞助商也出席了会议。技术交流会现场会议由中国兵器工业标准化研究所材料检测与失效分析分委会副秘书长李玉海主持，中国兵工学会党委书记王忠平、中国兵工学会材料科学与技术专业委员会主任委员倪培军分别做了大会开幕致辞。倪培军老师在发言中谈到了在兵器工业中失效分析和无损检测的重要作用和技术难度。近年来，兵器产品质量事故时有发生，给产品交付和部队使用带来了影响，甚至影响兵器的形象。随着军品科技竞争环境日益激烈，未来军事变革武器装备趋于智能化，大量保留的兵器产品质量问题，这些都对失效分析及无损检测不断提出新的要求，因此加强学习和交流，不断提出新技术和检测方法，提升行业失效分析及无损检测能力非常重要。TESCAN公司在本次技术交流会上带来了《TESCAN电镜、FIB技术在失效分析领域的创新应用》分享，并展示了TESCAN微观观测技术在车轴断口表面样品膜层以及膜层下的结构观测案例，在不同的能量下，均能非常清楚地看到样品表面。另外，还介绍了在元素分析、结构分析以及样品加工制备方面的新应用，吸引了参会专家的兴趣。TESCAN公司失效分析案例及技术分享此外，会议还特邀中国兵器北方材料科学与工程研究院烟台分院副所长、研究员许宏飞和北京理工大学教授、先进加工技术国防重点学科实验室主任徐春广分别分享《兵器装备构件分析程序与要求》和《残余应力超声无损检测与原位调控技术》的报告，并征集军工行业相关失效案例和金相图片在大会的第二天组织案例交流，并为获奖作品颁发了优秀作品证书。通过技术研讨和典型案例的分享交流，不但提高了一线专业人员的学术水平，也为推动技术创新，促进理化检测、无损检测与失效分析新理论、新方法、新技术、新经验起到了积极的作用。关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯

七夕，与VEGA有约这里有来自织女星的五道题，答题有奖喔！图中码上有来自织女星的五道题，答对的前30位将获得TESCAN"mini小风扇"一枚，答对的前10位将获得"定制U盘"一枚，快试试吧，这个七夕专属你的惊喜~关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。

2017年8月24日，“欧铂—泰思肯联合实验室”揭牌仪式暨技术交流会在山东欧铂新材料有限公司总部隆重举行，欧铂公司总经理助理刘海波、研发总监赵永彬，泰思肯中国区技术总监焦汇胜、华北区销售总经理王凯等人出席了本次联合实验室的揭牌仪式和技术交流会。  联合实验室揭幕仪式暨技术交流会现场 山东欧铂新材料有限公司是山东海科化工集团旗下的高新技术企业，成立于2014年9月，总投资5.8亿元，其隶属的山东海科化工集团始建于1998年，现已发展成集石油炼化、新材料、医药、特种化学品、金融为一体的综合性企业集团，下属10余家公司，拥有员工3400余人，总资产达110亿元。 欧铂新材料有限公司专注于新型炭材料的开发研究，规划产能为5吨/年高品质石墨烯及5000吨/年石墨烯改性超级活性炭，是中国石墨烯产业技术创新战略联盟理事单位，参与石墨烯行业技术标准的制定，目前已拥有石墨烯规模化生产技术，并实现了石墨烯的自动化工业生产，其研发和检测中心配备专业的分析检测人员，拥有全系列分析设备设备，可提供石墨烯材料及活性炭材料的全面分析测试，已开放对外检测。 山东欧铂新材料有限公司基地此次联合实验室的揭牌仪式由欧铂公司研发总监赵永彬主持，欧铂公司总经理助理刘海波、泰思肯中国区技术总监焦汇胜分别做了开幕致辞。 双方对于此次联合实验室的成立都非常重视，欧铂公司总经理助理刘海波先生在致辞中提到，石墨烯业务是海科集团新材料板块的重中之重，承载着海科战略转型的希望，通过共建实验室，利用泰思肯先进的微观形貌、结构和成分分析检测仪器及全球领先的微纳米检测领域解决方案，将推动石墨烯检测标准的制定进程，加速海科石墨烯业务的快速发展，共同打造世界级的石墨烯检测基地。 “欧铂—泰思肯联合实验室”是泰思肯公司首次与企业合作建立的联合实验室，也是泰思肯中国联合实验室战略的重要一步。泰思肯中国区技术总监焦汇胜博士在发言中提到，联合实验室是泰思肯中国最重要的市场活动，为了更好地服务我们的客户，为客户提供最优质高效的服务和最前沿的技术应用支持，我们在今年已经和多个重点院校共同成立了联合实验室，而“欧铂-泰思肯联合实验室“是我们与企业共同合作的第一家联合实验室，欧铂公司在石墨烯和炭基新材料产业有非常大的影响力，我们希望能和欧铂公司强强联手，共同推动石墨烯和炭基新材料产业的发展。 开幕致辞后，欧铂公司研发总监赵永彬和泰思肯中国华北区销售总经理王凯共同为联合实验室揭牌，届此，“欧铂-泰思肯联合实验室”正式成立。我们期待未来双方将共同努力，强强联合，创新更多的先进技术和应用，打造出世界级的石墨烯检测基地，为推动石墨烯行业发展做出积极贡献。 “欧铂-泰思肯联合实验室”揭牌仪式关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注微信公众号“TESCAN显微平台”，更多精彩资讯。 

质谱主要发展方向—小型化和质谱成像技术人类很早以前就对物质产生兴趣，我们很想知道物质的结构、成分、特点是怎样的，只要仔细观察一下周围的世界，我们就会发现自然界存在着复杂繁多的物质，而物质都在发生着变化，那物质是否是由少数元素构成的？构成物质的微粒是什么？这些构成物质的微粒是如何组成物质的？物质的结构与物质的性质之间存在什么样的关系？物质发生变化的本质是什么? 我们一直在不断努力，发明创造能够检测、观察和分析物质结构的方法和技术。质谱分析技术是一种很重要的分析技术，它可以对样品中的有机和无机化合物进行定性定量分析，同时它也是唯一能直接获得分子量及分子式的谱学方法。其中，无机、同位素质谱技术的发展历史最为悠久，广泛应用于元素含量及其形态、同位素分析，质谱成像分析等领域。 而随着科学技术的发展和研究领域的不断拓展，目前的质谱分析技术日趋成熟，在高通量、高灵敏度、高分辨率、低检出限等性能上均已达到很高的水平。比如表面分析技术飞行时间-二次离子质谱（TOF-SIMS），已拥有非常好的灵敏度和极高的分辨率，可以提供表面、薄膜、界面以至于三维样品的元素、分子等结构信息而被广泛应用。2017年8月19日在成都召开的2017年中国质谱学会无机及同位素质谱学术会议上，核工业北京地质院郭冬发研究员分享了题为《铀矿物质谱成像分析》的大会报告，向与会的的质谱专家们介绍了质谱成像技术的重要性和铀矿物分析的最新应用进展。郭冬发研究员谈到，随着质谱分析技术的发展和成熟，未来质谱的发展方向主要是小型化和质谱成像技术。利用现代质谱成像技术，可以实现单点成像（1D）、二维成像（2D）和 三维成像（3D），并用于铀矿勘查和铀基材料的加工研究。2017无机及同位素质谱学术会议核工业北京地质研究院郭冬发研究员分享报告质谱会议首亮相，联用技术的一场革命随着质谱成像技术的快速发展，现在的质谱成像技术已经不局限于一种或者几种分子，可以同时反应多种分子在空间上的分布信息。但从综合分析的角度，目前的质谱成像技术，无论是哪一种分析手段都无法在分析速度、灵敏率、分辨率、空间三维信息、消除背景干扰上得以兼顾。常规的SIMS分析手段对于样品表面成分分析可以达到非常高的灵敏度，但在样品的整个面和空间深度分析方向，虽然辅以现在的质谱成像技术，已经能够获得一些信息，但在成像速度和三维结构分析上仍然捉襟见肘。而对样品的大面积分析和空间三维信息的获取，正是FIB-SEM（聚焦离子束-扫描电镜）技术的优势所在。借助FIB-SEM极高的分析速度和更优异的空间成像能力，SIMS也能在三维分析上具有更好更快速的分析性能，这也是FIB—SEM—TOF-SIMS联用技术带来的应用价值，使质谱成像技术从单点一维、二维成像走向真正意义上的三维成像分析，快速全面的获取样品的分子和结构信息。核工业北京地质研究院是TESCAN FIB—SEM—TOF-SIMS联用系统的重要用户，在铀矿物质谱成像分析等方面做了大量实验和研究，在此次无机和同位素质谱会议上，核工业北京地质院郭冬发研究员也提到，目前质谱成像（MSI）仪器主要有LA-ICP-MS、FIB-SEM，LG–SIMS，其中LG–SIMS MSI更适用于点成像，LA-ICP-MS MSI更适用于元素成像，FIB-SEM-TOF-SIMS MSI更适用于界面成像。利于这项联用技术，更加有利于实现三维快速成像，获得样品的综合全面信息。TESCAN在此次质谱学术会议上，也携带其FIB—SEM—TOF-SIMS技术产品首次亮相质谱学术界，向参会的专家学者们介绍了这款FIB-SEM和TOF-SIMS新型联用技术碰撞出的新产品以及在质谱和材料分析领域所带来的应用拓展，解读了TESCAN公司在综合分析和联用拓展上的创新理念，而在TESCAN展台，不少专家在了解了这项技术后表示出了浓厚的兴趣。2017无机及同位素质谱会议TESCAN展台三维质谱成像，FIB—SEM—TOF-SIMS技术得天独厚TESCAN是第一个将TOF-SIMS和自己的SEM/FIB成功集成在一起，拥有这项技术的公司，这项技术是用聚焦离子束 (FIB)将试样剥离，产生带电离子或者中性粒子，采集带电离子作为TOF-SIMS的分析信号，实现对于轻元素、同位素、三维数据重构或者对薄膜深度方向的剖析和化学高分子试样的官能团等化学结构的解析。更加有利于实现三维快速成像，获得样品的综合全面信息。集成在FIB-SEM上的TOF-SIMSFIB—SEM—TOF-SIMS技术独特的优势同位素快速检测三维重构更好的空间分辨率水平方向分析示例：垂直方面分析示例：正离子和负离子模式而正是因为TESCAN“All In One” 的创新产品设计理念，使得TESCAN的任何系统在接入EDS、WDS、RAMAN、TOF-SIMS等更多分析附件和设备时表现出更好的兼容性和更优异的性能，对于样品的进一步组合分析提供了很大的便利。尤其是随着分析技术的发展，对分析的要求也越来越高，FIB与TOF-SIMS的联用开始受到越来越多的关注。TESCAN将TOF-SIMS和自己的SEM/FIB成功集成在一起，创新成为一体化系统，为更深入、更全面的分析应用提供解决方案，其双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统（TOF-SIMS）将越来越多地在分析行业发挥巨大价值。TESCAN FIB—SEM—TOF-SIMS一体化系统（核工业北京地质研究院分析测试研究所） 关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注微信公众号“TESCAN显微平台”，更多精彩资讯。

《RISE大招》无机材料分析总结篇本系列前几集展开讲述了TESCAN RISE拉曼-电镜一体化系统在无机材料分析方面的应用案例，包括：无机相鉴定、金属夹杂分析、结构和结晶度分析、微量元素分析以及应力和取向分析等等。今天，小编补充下联用技术应用的背景以及完整版无机材料分析的应用解决方案，各位记得右上角分享收藏喔^_^在扫描电镜微区分析中，无机盐类和矿物常常用能谱仪EDS进行定性分析。不过能谱仪想要得到非常准确的结果，对试样有非常严格的要求。必须要导电性好、试样成分均匀、表面非常平整、甚至需要合适的标样定量等等，不过我们常规的试样根本达不到这些要求。我们通常得到的能谱仪的结果（原子百分比）很难和化学式的计量比例严格匹配。大部分情况的做法是只要能谱仪的结果和实际的相相差不是很大，这个误差就被模棱两可地忽略了过去。然而从严格表征的角度来说，这其中还是有很多问题的。再比如，如果EDS分析得到A和B两元素的原子比为45%和55%，那A和B组成的相究竟是3:4还是2:3，或者两个都有。诸如此类的问题，在EDS分析中司空见惯。虽然很多能谱仪软件有相分析功能，然而其本质只是将元素面分布的各点数据进行自动匹配和归类整理而已。更何况能谱通常得到的都是半定量或定性结果，所以相分析软件得到的结果也不尽如人意。在SEM-EDS中依然存在相无法准确分析的严重问题。然而除了WDS外，电镜还有EDS、XRF等其他附件，他们的共同特点都是利用X射线进行元素含量和分布的测试，只是准确度、灵敏度、检出限有所差别而已，所以对相分析也并无太多帮助。而且大部分电镜附件的探测器都是以一定的角度位于极靴的一侧，对X射线来说只要试样稍有不平，就会产生X射线的阴影区域，所以某些时候会导致没有信号或者结果异常。此外，虽然EBSD也可配合EDS结果进行相鉴别，但是需要对样品进行特定的处理，适用性相对较差。而RISE不同，在诸多元素分析型仪器无法进行准确相鉴别的时候，RISE可以通过拉曼光谱对分子结构进行解析，配合其他附件得到的元素进行，综合起来对相和其他特性，如结晶度等进行准确的判断。以下，就是电镜-拉曼联用技术在无机材料分析中的特殊应用解决方案，完整版可查看每小段后的链接：无机材料分析之无机相鉴定一种岩浆岩矿物，如果仅依靠EDS，只知道各个元素的分布位置，由于得不到严格的化学剂量比数据，因此给相鉴定带来一定的困扰。而在同一个区域再进行RISE的拉曼面分布分析，通过拉曼谱峰和数据中的谱峰进行比对和识别，再结合EDS的分布数据，则可以非常轻易的将岩石中的各个相准确的区分开，并得到各个相的分布。完整版请点击：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100883/news_224980.htm无机材料之金属夹杂分析不锈钢的裂纹区，在低倍下进行EDS面扫描分析，发现了有Si元素的富集区域。对Si富集区进行放大后进行EDS的元素分布和点扫分析，发现Si富集区域的EDS含量结果除了显示Si占主要外，还有少量的C、O、Fe等。我们无法知道Si在其中究竟是以何种方式存在，是单质还是化合物，其他元素如C、O、Fe也不知道究竟以何种化合方式存在。而在RISE系统上可以在Si富集区进行过SEM-EDS分析后，再转移到拉曼光谱下，我们可以轻易的根据SEM图像或者SEM与EDSMapping的混合图像找到各个感兴区域，进行拉曼光谱的点分析，通过拉曼特征峰推断元素的化合形态和试样的表面状态。完整版请点击：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100883/news_225304.htm无机材料之结构分析试样为TiO2粉末，TiO2有锐钛矿和金红石两种结构，并且两者表现出完全不同的拉曼光谱特征。因此在RISE系统中通过拉曼光谱的面扫描分析，可以轻易的区分出蓝色区域为锐钛矿结构，红色区域为金红石结构。完整版请点击：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100883/news_226214.htm无机材料之结晶度分析用SEM-FIB双束电镜在硅表面进行图形加工。由于Ga+离子的注入效应、热效应等会使加工区域的硅产生一定程度上的非晶化。仅凭形貌是无法知道非晶化程度的。而在此区域用RISE进行拉曼面扫描，并用每一个测试点的Si的特征拉曼峰的半高宽为依据进行RISE成像，红色区域为半高宽较窄，蓝色区域为半高宽较宽。由此形成的RISE图像，对于研究FIB加工产生的非晶化一目了然。完整版请点击：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100883/news_226214.htm无机材料之微量元素分析某矿物试样。Nd元素含量较低，EDS无法通过Mapping将其分布准确的显示。而在RISE下则可以先进行拉曼面扫描，发现Nd元素对应的特征峰的积分强度随元素含量而有变化。元素Nd含量偏高的区域的拉曼光谱和红色接近，含量偏低的和蓝色谱图接近，所以根据谱图拟合后得到了根据Nd元素含量而得到的RISE图像。很快的可以找到Nd元素含量偏高或偏低的区域。完整版请点击：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100883/news_226809.htm无机材料之取向分析试样为白铁矿晶体，主要成分为FeS2，结构属斜方双锥晶类，对称性较低。在RISE系统下，SEM图像获得了明显的ECC衬度，然后再进行拉曼光谱面扫描，发现不同晶粒的拉曼特征谱线有一定的变化，其峰的积分强度和峰的位置都随取向有一定的关系。进行谱线拟合后，得到了随取向变化的RISE图像。完整版请点击：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100883/news_226809.htm无机材料之取向应力分析对做过纳米压痕的单晶硅表面进行RISE成像。发现压痕中心区，特征峰往高波数方向移动，周边往低波数方向移动。根据此规律成像后，得到了纳米压痕区域，硅表面的压缩和拉伸应力分布图。完整版请点击：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100883/news_226809.htm《RISE大招》下季看点：电镜-拉曼联用技术在有机材料分析中的特殊应用！关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。       关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯

《RISE大招》前情回顾：与RISE之相遇、相知、相恋和相爱。本系列前几集讲述了RISE拉曼-电镜一体化系统在传统扫描电镜“心有余而力不足”的分析困境下一跃而出到它对于无机材料分析的武功路数：无机相鉴定、金属夹杂分析、结构和结晶度分析等等。（前三集链接：点击下列文字即可快速查看）。01  “我的前半生”结束了，后面的科研之路就靠它了！02  无机材料分析，RISE还有这些大招！03 《RISE大招》无机材料之结构分析和结晶度分析今天呢，主要给大家讲讲RISE对于无机材料中微量元素分析、取向分析和取向应力分析的解决方案。无机材料之微量元素分析在传统的电镜中，由于EDS的检出限为0.1%，所以对于一些微量元素的分析来说较为困难。尤其是要做微量元素或者差异很小的面分布来说，EDS往往不能满足我们的需要。虽然拉曼光谱并不能直接得到元素含量和分布分析，但是有时候微量元素的变化足以引起对应的特征拉曼峰的变化。此时便可利用拉曼光谱去进行微量元素的分析。 如下图，为某矿物试样。Nd元素含量较低，EDS无法通过Mapping将其分布准确的显示。 如果要点扫描，虽然单点数据可以比mapping更准确的测出Nd的含量，但是无法得到分布。如果要仔细分析，需要用户选择很多个测试点进行分析。但是这样得到的数据工作效率很低，数据整理困难，且准确性也难以评价。 而在RISE下则可以先进行拉曼面扫描，发现Nd元素对应的特征峰的积分强度随元素含量而有变化。元素Nd含量偏高的区域的拉曼光谱和红色接近，含量偏低的和蓝色谱图接近，所以根据谱图拟合后得到了根据Nd元素含量而得到的RISE图像。很快的可以找到Nd元素含量偏高或偏低的区域。根据RISE图像，我们还可以再去进行EDS分析，对含量偏高或偏低的区域做更精确的EDS定量分析。这比没有RISE图像仅根据SEM图像随机选点采集很多个数据点，再进行后期分析，无论是准确度还是效率上均要提高很多！无机材料之取向分析取向是晶体材料的重要基本参数，拉曼光谱虽然不能像EBSD一样直接进行晶面指数的分析，但是对于很多无机材料来说，取向不同其拉曼特征峰也会产生积分强度不同或者峰位有所偏移的情况。 如下图，试样为白铁矿晶体，主要成分为FeS2，结构属斜方双锥晶类，对称性较低。在RISE系统下，SEM图像获得了明显的ECC衬度，然后再进行拉曼光谱面扫描，发现不同晶粒的拉曼特征谱线有一定的变化，其峰的积分强度和峰的位置都随取向有一定的关系。进行谱线拟合后，得到了随取向变化的RISE图像。虽然我们不能得到每个晶粒的精确的取向，但是晶粒的分布及大小却可用非常清楚的从RISE图像获得。RISE不同于EBSD识别衍射花样，它另一个角度为分析晶粒提供了一定新的方法。 无机材料之取向应力分析应力测试也是无机材料分析的重要方面，目前微区应力分布测试主要手段是EBSD，通过测试取向差的分布来间接的反应的情况下。但是EBSD分析手段又有一定的局限性。 拉曼光谱也可以间接的反应应力的情况。如果存在压缩应力，特征峰会往高波数方向移动；反之，若存在拉伸应力，特征峰会向低波数方向移动。且应力越大，特征峰的位移越大。 RISE系统的拉曼成像能力非常强大，可以用特征谱线的位移来进行成像。如下图，对做过纳米压痕的单晶硅表面进行RISE成像。发现压痕中心区，特征峰往高波数方向移动，周边往低波数方向移动。根据此规律成像后，得到了纳米压痕区域，硅表面的压缩和拉伸应力分布图。 RISE七十二般武艺，招招新奇，但一招一式，每一个路数都为更好地帮助您的科研分析而生。除了应对传统扫描电镜分析能力薄弱的问题，RISE系统还切实突破并解决了传统意义上的电镜-拉曼联用系统的种种分析弊端，采用了扫描电镜-拉曼光谱一体化的硬件和软件设计，使得综合分析更加行之有效。《RISE大招》下集看点：说了这么多，是时候总结一下啦~Hahaha...关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。↓ ↓ ↓ 观看RISE大招全系列，请戳：01  “我的前半生”结束了，后面的科研之路就靠它了！02  无机材料分析，RISE还有这些大招！03 《RISE大招》无机材料之结构分析和结晶度分析

本文由知社学术圈 (zhishexueshuquan) 授权转载，原文题目：贝茵体先生今晨辞世, 金属物理光芒永存 | 纪念柯俊先生又一位大师离开了我们。今晨，著名材料科学家、贝茵体先生柯俊与世长辞，享年100岁。金属物理学是研究金属和合金结构与性能关系的科学，既是金属学在微观领域的进一步深入，也是以金属和合金为对象的固体物理学的一个分支。20世纪50年代以后，电子显微镜的使用、多种能谱技术、电子的非弹性散射等实验方法为金属物理的发展做出了重要贡献。柯俊是中国金属物理专业的奠基人，其学术成长及后期的学术贡献与他早期的留学经历密切相关。一、留英十年英国，是近代工业革命的发源地，在当时有着雄厚的国力和科研实力。1944年英国化学工业公司提供给经济部6个去英国学习的名额，柯俊如愿以偿，到英国伯明翰大学理论金属学系学习。柯俊的导师是当时著名的金属学家汉森（Daniel Hanson）教授，他是英国第一代研究金属物理的科学家，是英国国家物理实验室的创始人，与夫人一起进行的铁镍合金的研究成果在英国的钢铁研究史上功勋卓著。而柯俊是汉森教授招收的最后一名亲自指导的研究生。汉森教授对科学求真求实的精神和踏实勤奋的态度深深地影响了柯俊日后的科研之路。1945年柯俊在英国伯明翰大学校徽前1948年柯俊在英国伯明翰大学理论金属学系与同事们一起研讨系务（右起Robert Cahn，时任讲师，后为剑桥大学教授、英国皇家学会会员、法国巴黎大学教授、中国科学院外籍院士；Tsun Ko；柯俊，时任讲师；Alan Cottrell, 时任讲师，后任剑桥大学材料及冶金系系主任、副校长、英国皇家学会会员、英国政府材料总顾问、授爵士勋；Tommy Wright，时任高级讲师）2001年柯俊再访英国专程去导师汉森教授墓前缅怀 柯俊在研究生的第一年，选择“铜的再结晶”作为研究课题，随后研究“低碳钢在焊接时的变化”课题。1946年到1947年，他先后担任了英国焊接研究所研究员、英国钢铁研究协会助理等职务。同时还参加并负责相变动力学研究组，从事合金相变机理的研究工作。柯俊接受了英国钢铁协会下达给汉森教授的科研课题，阐明钢中产生过热和过烧的理论机制。他通过简单的金相方法，证明了硫化锰在高温加热时可以在钢中溶解，冷却时在晶界或某个晶面上析出，导致脆化。柯俊在攻读博士学位期间，仔细研读历届论文，了解了当时学术界的研究现状。他在研究具有工业实践性的“低碳钢在焊接时的变化”课题时发现，钢材在锻造过程中，随着温度的提高会出现过热过烧现象，冷却后易脆裂，极大影响了钢件性能，若能解决这一问题，将提高钢材重大战略作用。科研是一个厚积薄发的过程，科学研究者首先要阅读大量的文献，了解这个问题的研究成果或进展。对于留学生而言，首要的是克服语言难关。柯俊基于高中和大学练就的过硬英文功底，阅读了大量文献，为进一步研究打下良好基础。但进入实验阶段后，一切就变得不再那么容易。实验之初，柯俊经验不足，虽然每天在实验台旁干到深夜，整日和实验仪器、材料及数据打交道，但总也取不到预期的成果。其导师汉森教授引导他对实验数据反复求证，柯俊不由得开始思考：做实验是不是也有规律呢？经过反复的实践和思索，柯俊逐渐掌握了实验的诀窍，形成了一套自己的办法：首先，做好前期知识、材料等准备，考虑周全，避免实验过程中手忙脚乱。其次，交流和记录是科学研究最好的方法，对实验过程做好全程监控。再次，做好后期处理工作，以减少实验室里的环境污染程度。最后，科学研究要戒骄戒躁，细致耐心是必不可少的科学素养。天道酬勤，经过不断失败、总结、从头再来的循环往复，柯俊最终创造性地通过金相方法，首次阐明了钢材锻造过程中随温度升高而出现的过热过烧现象的根本原因，即硫化锰在高温加热时可以在钢中溶解，但在冷却时会在晶界或某个晶面上析出导致脆化。据此，他发表了《钢在过热过烧后的晶粒间界现象》，解决了长期困扰冶金界的一大难题。并在研究钢中固溶体分解转变过程中，首次发现贝茵体形成时伴有表面浮凸现象，建立了贝茵体相变扩散控制的切变理论。柯俊的博士论文题目是“贝茵体的切变机制”，1948年12月获得英国伯明翰大学自然哲学博士学位，后留校任教。1951年，柯俊获得终身讲师任命。1948年摄于英国伯明翰大学博士毕业典礼后自1950年起，他发表了与博士论文相关的文章多篇，主要包括：1950年与导师D．Hanson在 Journal of Iron and Steel Institute上发表文章“Grain boundary phenomenain severely heated steel”，1951与J．A．Wheeler，V．Kondic，在同一期刊上发表文章“Effect of Initial Heating Temperature on the Mechanical Properties of Ni-Cr-Mo Steels ”，1952与A. Cottrell在同一期刊上发表文章“The Formation of Bainite”，此文被师昌绪先生称为“不朽之作”。1951-1952年英国伯明翰大学冶金学会全体会员合影，前排右起第6人是柯俊二、创建金属物理专业1953年，柯俊婉言拒绝了国外优厚待遇，携家人回到阔别已久的祖国。他铭记汉森教授的临别赠言，“回国后搞科研就去研究所，办教育要到高等学校。前者轻车熟路，深入一点就容易出成果；后者辛勤耕耘，但是桃李满天下，影响更大。” 柯俊知道钢铁工业对新中国建设的重要性、高等教育对培养专业人才的重要意义，结合自身经历，他毅然选择到北京钢铁工业学院（现北京科技大学）。1954年4月夫妻二人到北京钢铁工业学院报到，开始了执鞭教学、辛勤耕耘的教师生涯。他在金相及热处理教研组担任教授，为金相热处理专业讲金属物理课，教会老师和学生使用金相实验室中进口的蔡斯光学显微镜，指导相55、相56级学生作毕业设计等。1955年，柯俊被任命为新成立的物理化学系主任。北京钢铁工业学院的领导们审时度势，同意了柯俊建立金属物理专业的建议，并授权他负责筹备事宜。金相教研组内成立了由柯俊、张兴钤、方正知、谢逸凡、蔡美良等参加的金属物理小组，开始着手筹建金属物理专业。当时，金属物理教研组面临的首要任务就是为首届（61届）学生开设专业课。但初创的金属物理专业既无教学大纲可循，也无教材可用。在这种情形下，柯俊、张兴钤、肖纪美、方正知四位教授迎难而上，分别负责金属物理各主要领域的教学工作，参考国际上的研究方向，总结国际上的最新成果，结合我国的实际国情，开始授课。为了弥补金属物理专业教材与实验指导书的匮乏，柯俊花费了大量的心血来翻译1951年由苏联莫斯科钢铁学院编撰的《钢铁及非铁金属合金金相图片集》，该金相图片集于1956年5月由科学出版社出版。由于名师荟萃，北京钢铁学院的金属物理专业走在全国前列，于1981年成为首批博士点，1988年成为国家教委颁布的首批国家重点学科。柯俊翻译的《钢铁及非铁金属合金金相图片集》上世纪50年代末摄于理化楼前: 李恒德（左一），肖纪美（左二）、柯俊（左三）、方正知（右三）、高诒善（右四）1960年长春全国第一次固体物理会议: 柯俊（右二）、钱临照（右四）改革开放后，柯俊等把国内外材料领域最著名的科学家邀请到北京钢铁学院交流并讲学，并聘请一些科学家为北京钢铁学院名誉教授，如英国牛津大学Hirsch教授和Christian教授、美国Cohen教授和Thomas教授、德国Hassen教授和Dahl教授，瑞典Hiller教授，加拿大Purdy 和 Piercy教授，日本桥本初次郎教授等。1983年在柯俊的大力邀请下，加拿大McMaster大学Piercy教授以客座教授身份，为金属物理专业研究生用英语讲授《晶体缺陷》一个学期。柯俊希望他按照在加拿大讲课的内容和方法进行教学。柯俊还邀请了国内许多相关院所的著名学者担任兼职教授，指导、培养硕士和博士研究生，如郭可信、钱临照、李方华等，他们都是相关领域的先驱或领军人物，在国际上很有威望。在学校的支持下，着眼于学科的长足发展，柯俊先后推荐并派出陈难先（美国）、周政谦（英国）、吴杏芳（美国、英国）、平云（英国）、柳得橹（加拿大、日本）、王蓉（瑞典、澳大利亚）、朱逢吾（德国）、王佩璇（加拿大）、魏鎏英（瑞典）、陈清（英国）、孙永谦（英国）、宋志毅（日本）、宋明辉（日本）、陆致龙（日本）等青年教师和研究生到英国牛津大学、英国剑桥大学、美国加州大学伯克利分校、加拿大麦克马斯特大学、瑞典查尔斯默斯工业大学、澳大利亚悉尼大学和日本冈山理科大学等著名学府，以访问学者或博士生联合培养的方式，进行电镜科研和材料学方面的科研和学习，使得我国电子显微镜科研与教学水平迅速与世界接轨。1980年新当选中国科学院学部委员的三位北京钢铁学院教授:魏寿昆（左）、柯俊（右）、肖纪美（中）三、提出贝氏体相变切变理论上世纪50年代以前，国际金属学界都认为贝茵体（现在一般称之为贝氏体）转变是由钢中的原子扩散控制的，扩散学派成为当时解释这一现象的主流学派。1951年，柯俊在研究的过程中首次发现并提出钢在固溶体分解发生相变时贝茵体转变的切变位移机制，证明其是与珠光体、马氏体不同的相变，建立了贝氏体相变切变理论。这一突破性成果在国际上引起了极大的反响，并逐渐形成了全世界对这一现象研究的主流学派——切变学派，已得到英国剑桥大学、牛津大学、美国伊利诺伊大学、麻省理工学院、加州大学，以及欧洲、日本等金属材料科学学者们的认可。柯俊在贝氏体研究上所做出杰出贡献得到充分肯定，欧共体1966年出版（英、德、法文）的由A. Schrader和A. Ros主编的De Ferri Metallographia一书第二卷“Fundementals of Metallogaphia”中，把钢中切变机制生成的无碳贝茵体称成“柯氏贝茵体”，其本人也被以Cohen教授为首的许多国外同行称为Mr. Bain（贝茵体先生）。回国后，柯俊从未间断对合金中贝茵体相变机理的深入研究，1954年至1956年间，多次发表论文。1957年柯俊“关于奥氏体共格性的转变机构”项目获中国科学院颁发1956年度科学奖金（自然科学部分）三等奖，由中国科学院授予中国科学院科学奖章、奖状、奖金。这是北京钢铁工业学院建校以来的第一个国家级科研奖。1984年5月24日，鉴于在相变理论及促进中国和加拿大科技文化交流上做出的重要贡献，加拿大麦克麻斯特大学授予他荣誉理学博士称号1988年柯俊（前排左三）在清华大学参加基金重点项目“贝氏体相变机理”研讨会: 师昌绪（前排左四）、李恒德（前排右三）院士等同时参加四、发展马氏体相变动力学20世纪50年代，柯俊首次观察到钢中马氏体形成时基体的形变及其对马氏体长大的阻碍作用，提出了“奥氏体中不均匀性和原子簇的形成和存在，将会影响马氏体的生核和长大”的假说。随后，柯俊与陈梦谪合作研究了“高速钢奥氏体化淬火过程缓冷时的稳定化和高温加热促化之间的相互关系”，研究结果证明了他所提出假说的正确性。1959年这一论述在苏联《金属学及金属物理》杂志发表，并且得到著名物理学家萨道夫斯基的认可和高度评价。80年代，柯俊在这一假说的基础上，指导吴杏芳、陈奇志等进一步研究了“含微量钒碳的铁镍合金中蝶状马氏体的相变”，证明在适当条件下形成的具有特殊形状和一定分布规律的蝶状的马氏体是原子簇及其自促发效应的结果。他指导柳得橹及研究生，利用薄膜观察证明消除约束后相变的不同形态。这一系列的研究成果极大地丰富了马氏体相变理论，特别是给长期探索的马氏体形核机制增添了新的论点和证据。五、探索微量元素在钢中的作用机理1976年起，柯俊与褚幼义、贺信莱、余宗森等人开始进一步开展硼钢的研制，系统研究微量硼在钢中作用的机理，用径迹显微照相技术进行“硼在晶界非平衡偏聚的研究”。1989年“硼在钢中的作用及硼在晶界偏聚行为的研究”项目获国家教委科技进步二等奖。1983~1986年，柯俊、陈梦谪等人根据四川攀枝花矿产资源的特点，负责“六五”、“七五”钢中钒、钛研究攻关项目的课题。主要研究了微量的钒、钛对重轨钢、硅钢组织及性能的影响，阐明了微量钛在钢中的分布，氧化钛形成机制以及在钢中的作用等。同时，柯俊等人还完成了对纳米级析出相的萃取及鉴定方法。1992年“钒、钛、铌等微合金元素的低合金钢中应用基础的研究”获冶金部科学技术进步一等奖。北京京丰宾馆第一届中国材料研讨会: 柯俊（中）与李依依（左）、颜鸣皋（右）院士合影六、开创超级钢研究1996年5月，柯俊亲自写了一篇《驳钢铁工业是夕阳工业》的报告，送给冶金部部长。1996年10月由冶金工业部申报“国家攀登计划B类项目建议书”，课题名称：“新一代微合金高强高韧钢的基础研究”。建议人为：师昌绪、邵象华、柯俊、肖纪美、刘嘉禾、王崇愚和殷瑞钰。北京科技大学由柯俊和孙祖庆负责“相变和缺陷结构控制为重点的物理金属学基础研究”。2000年10月至2003年9月，柯俊指导北京科技大学的973项目组抽出人员成立了一个专题组：新一代钢的薄板坯连铸连轧工艺基础研究及材料性能特征研究。主要成员有：柯俊、柳得橹、傅杰、康永林等以及研究生若干人，与广州珠江钢厂进行合作研究，实行了老中青结合、跨专业结合以及产学研结合的研究路线。2003年，“钢的组织性能综合控制理论及应用—薄板坯连铸连轧工艺基础及材料性能特征研究”获中国高等学校十大科技进展奖。2004年2月10日，柯俊作为第4 完成人，项目获教育部一等奖。2000年柯俊参加先进钢铁材料技术国家工程研究中心组建大会暨中联先进钢铁材料技术有限责任公司成立大会时与徐匡迪交谈七、培养电子显微镜人才1958年，我国历史上第一批国产透射电镜---南京江南光学仪器厂研制的DX-3型电镜问世，北京钢铁学院购置了一台。与原有的真空喷镀仪一起，成为金属物理研究教研组电镜室的基本设备，为金属物理专业取得丰厚的科研成果做出了很大贡献。1964年，北京钢铁学院得到当时冶金部科技司的大力支持，购置了一台透射电镜（捷克产的Tesla413型）与一台扫描电镜（英国剑桥产的S—250型），两台电镜分别于1968年和1972年从国外运抵北京并顺利安装运行，为广大师生的科研教学创造了条件。1980年，为了更广泛地开展学术交流，促进我国电子显微学及其应用水平的提高，在钱临照、郭可信等人的倡议下，中国电子显微镜学会成立，柯俊担任副理事长。他和郭可信一起主持过多次国内国际电子显微学学术会议。1980年中国电镜学会在四川成都召开成立大会，柯俊、郭可信与时任日本电镜学会第27届会长的桥本初次郎商讨了中日双边电镜研讨会的交流方式。次年他们和日本电镜学会第28届会长小川和郎等人共同举办了“第一届中日电子显微学讨论会”。1984年，柯俊在日本金属学会会长、东京大学名誉教授桥口隆吉、田冈忠美的建议下，组织了中日金属物理及物理冶金研讨会，为我国中青年学者提供了更多参与国际学术交流、学习和了解国外学术发展动态的机会，同时也促进了中日两国电子显微学和材料科学工作者的合作。1985年，柯俊、郭可信接受了时任国际电子显微镜学联合会主席桥本初次郎的建议，成立了电子显微镜培训中心。培训中心的负责人、授课老师和实验室辅导教师全部由北京钢铁学院金属物理电镜组的老师和实验室工作人员担任。鉴于柯俊的重要贡献，1989年日本金属学会授予他荣誉会员，中国电子显微镜学会授予他荣誉会员的特殊荣誉，1990年中国电子显微镜学会授予他第二届“桥本初次郎奖”。1998年9月在大连召开的第十次全国电子显微学会议上，郭可信分别向柯俊、朱静颁发了“钱临照奖”。 1992年亚太地区电子显微镜年会柯俊主持，右为英国牛津大学材料系主任Pitter Hirsch教授“春风化雨，桃李芬芳”。柯俊先生拥有渊博的学识和独有的人格魅力，为年轻一代治学态度等方面做出了重要的表率。北京科技大学材料学院柳得橹教授在当年一本笔记中记载了一件让他倍感触动的故事。1976年，北京钢铁学院金属物理系在北京钢厂开门办学，师生要深入车间取样、制样，进行学习研究。一次，柯俊与教师一同骑车去钢研院访问关于102锅炉钢问题。到达时，钢研院还没到上班时间，各室都无人接待，柯俊就在楼内走廊尽头的台阶上席地而坐，拿出一本大而厚的英文书，给青年教师讲授科研与英语问题。他这种言传身教的精神，为学生后来的学习和工作树立了榜样。潜伟，于1997年进入北京科技大学技术史专业攻读博士研究生，入学之初，柯俊就指导他读英文原著，每月提交一篇心得体会，每学期至少参加一次英文研讨会。进入实验室后，他又用近乎苛刻的要求让学生整理实验数据。对于某一个样品不清楚的，他会耐心地反复讲解，直到反复实验达到满意效果。“2001年初，我以为自己的论文差不多能够完成了，但是柯老改论文极其认真，从初稿到成稿，七易其稿，最终从预备春季答辩改到了夏季。每次修改，柯老都能够从章节结构改到具体错字甚至标点符号。就在答辩前一晚，柯老还查出几处小错，打电话叮嘱我在明天报告中注意。”潜伟说：“带有先生笔迹的论文草稿我都收藏至今，既是留作纪念，也是给自己一个警示”。其严谨治学的崇高精神，值得永世相传。 半个多世纪过去了，金属物理始终走在改革和解放思想的前沿。今天，金属物理已发展成材料物理与化学专业，开辟了交叉学科发展的新方向，适应了材料科学的发展趋势，为材料学的发展注入了一股新的活力。桃李不言，下自成蹊。柯俊对此所花费的精力和心血，所奉献的激情和岁月，无怨无悔。本文转载自知社学术圈——海归学者发起的公益学术交流平台，旨在分享学术信息，整合学术资源，加强学术交流，促进学术进步。  小编寄语我们很荣幸柯俊先生在北京钢铁学院任职时曾经使用TESCAN的前身TESLA生产的Tesla413型透射电镜，该台电镜于1968年从捷克运抵北京并安装使用，为当时的科研教学创造条件。柯俊先生是科研的先驱者，为广大科研工作者做出了光辉榜样，向柯俊先生致敬！

《RISE大招》前情回顾：这是一个荡气回肠的相遇、相知、相恋、相爱的故事。本系列前两集讲述了RISE从传统扫描电镜“心有余而力不足”的分析困境下一跃而出到它对于无机相鉴定和金属夹杂分析的武功路数，相信大家对RISE电镜-拉曼一体化系统已经有了基本了解。（然而小编还是无比体贴的放上了前两集链接：点击下列文字即可快速阅读）。01 “我的前半生”结束了，后面的科研之路就靠它了！02 无机材料分析，RISE还有这些大招！科研无涯，却无需苦作舟。路即在此，英雄闻声而至。话不多说，今天呢，接着上次的招式，给大家讲讲RISE在无机材料结构分析和结晶度分析上的套路。无机材料之结构分析对于无机材料来说，经常会碰到同分异构的情况。但是仅仅通过扫描电镜和能谱，我们只能得到形貌和成分数据，而没有办法对样品进行准确的结构分析。而结构作为物质的基本特性，极大的影响着热、力、光、电、磁等性能，因此也是微区表征不容忽视的方面。而目前在SEM系统中，能够进行结构表征的也只有EBSD，但是前提依然是要有严格的样品制备，局限性很大。而成分相同结构不同的同分异构材料的拉曼光谱，往往表现出较大的差异，因此拉曼光谱分析手段是很好的表征结构的手段。因此，通过SEM+EDS+Raman (RISE) 的综合分析手段，我们就可以对同分异构材料进行全面准确的形貌、成分和结构分析。 如下图，试样为TiO2粉末，TiO2有锐钛矿和金红石两种结构，并且两者表现出完全不同的拉曼光谱特征。因此在RISE系统中通过拉曼光谱的面扫描分析，可以轻易的区分出蓝色区域为锐钛矿结构，红色区域为金红石结构。再例如下图，通过EDS数据知道电镜分析区域为Sm2O3 ，然后在此基础上进行拉曼面分布分析。虽然试样并不平整，完全不够EBSD的测试要求，但是RISE系统依然可以发现其中红色区域为立方结构的Sm2O3 ，蓝色区域为单斜结构的Sm2O3 。无机材料之结晶度分析对于无机材料来说，结晶度也是重要的参数。目前能够很好的表征结晶情况的主要是XRD，并且是基于宏观分析，能在微区尺度对结晶度进行表征的手段则很少。而无机晶体材料的结晶度却会对特征拉曼峰产生较大的影响。结晶度程度高，特征拉曼峰高而尖锐；反之，若结晶度低，则特征峰会变宽。因此，可以通过特征拉曼峰的宽度来对结晶度进行评判。由此可见，原位一体化的RISE对微区领域的结晶度分析提供了新的途径。如下图，用SEM-FIB双束电镜在硅表面进行图形加工。由于Ga+离子的注入效应、热效应等会使加工区域的硅产生一定程度上的非晶化。仅凭形貌是无法知道非晶化程度的。而在此区域用RISE进行拉曼面扫描，并用每一个测试点的Si的特征拉曼峰的半高宽为依据进行RISE成像，红色区域为半高宽较窄，蓝色区域为半高宽较宽。由此形成的RISE图像，对于研究FIB加工产生的非晶化一目了然。RISE七十二般武艺，招招新奇，但一招一式，每一个路数都为更好的帮助您的科研分析而生。除了切实突破并解决了传统扫描电镜分析能力薄弱的问题，针对传统意义上的电镜-拉曼联用系统的种种分析弊端，RISE系统采用了扫描电镜-拉曼光谱一体化的硬件和软件设计，使得综合分析更加行之有效。  故事刚开始，我们已相遇，还有相知、相恋、相爱̷̷跑远了，下面请收看“下集预告”：《RISE大招》下集看点：无机材料之微量元素分析、取向分析、取向应力分析。关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯。↓ ↓ ↓ 观看RISE大招全系列，请戳：01 “我的前半生”结束了，后面的科研之路就靠它了！02 无机材料分析，RISE还有这些大招！

       2017年7月21日至22日，第二十一届中南六省电子显微镜学术交流会暨湖北省电镜学会2017年学术年会在武汉大学顺利召开，会议吸引了来自湖北、湖南、广东、广西、河南、海南六省的业内专家代表共100余人参会，TESCAN作为显微分析领域新技术的创新者和应用综合解决方案提供商，应邀参加了此次学术交流会。中南六省电镜会参会人员合影中南六省电镜会两年举办一届，为区域内的技术交流提供了很好的平台，在促进显微分析工作者之间的学术交流，推动中南六省显微分析技术的发展以及加强中南六省各实验室资源的共享与协作等方面发挥了重要作用。本次学术交流会由湖北省电镜学会理事长王建波教授致开幕词，并邀请了来自各高校、研究院和业内电镜厂家的多位著名专家和学者做了专题报告，交流电子显微领域的最新技术和应用进展。参会人员认真聆听报告TESCAN中国技术专家焦汇胜博士在交流会上分享了题为“TESCAN在电镜、FIB技术领域的创新及应用”报告，向参会的业内学者介绍了TESCAN 独创的综合分析技术以及其在显微分析领域带来的开拓性应用革新。 随后，焦博士向大家简单介绍了TESCAN新发布的FIB-SEM新品S8000G的创新优势和技术特点，引起了参会专家的广泛关注。TESCAN技术专家焦汇胜博士精彩分享TESCAN 新品S8000G FIB-SEM系统S8000G是TESCAN最新发布的一款FIB-SEM新品，是TESCAN S8000系列扫描电镜的第一个新成员，这是一款超高分辨场双束FIB扫描电镜系统。搭载TESCAN最新研发的多项创新技术，S8000G可以提供无与伦比的图像质量，可完成复杂的纳米操作并保证极佳的精度和操作灵活性，满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。更多详情，请关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。

为推动电子显微技术的进步和发展，提高广大电子显微技术工作者的学术及技术水平，促进电镜分析技术在生命科学、材料科学、地球科学等领域中的应用和发展，2017年7月22-23日，2017年北京电子显微学研讨会暨全国实验室科学管理交流会在无锡市隆重开幕，TESCAN中国出席了此次技术交流会。2017年北京电子显微学研讨会参会人员合影本次会议为期2天，由北京电镜学会主办，北京理化分析测试技术学会承办，有来自业内高校、科研院所、行业检测机构和企业的100余名电镜工作者参会。大会由北京电镜学会张德添秘书长主持，会议围绕电镜技术的最新进展和应用、实验方法发展与改进、实验室的安全科学管理等内容展开了热烈的研讨和交流。北京电镜学会张德添秘书长开幕致辞TESCAN中国市场部经理顾群在本次大会上做了报告，向参会人员介绍了TESCAN近年来在显微领域的技术突破和创新，并重点强调了TESCAN “All In One”显微综合分析平台的产品设计理念以及TESCAN公司首创的电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）和双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统（TOF-SIMS）和TESCAN最新发布的FIB新品S8000系列产品的特点和应用优势。 TESCAN中国市场部经理顾群作大会报告TESCAN 新品S8000G FIB-SEM系统S8000G是TESCAN最新发布的一款FIB-SEM新品，是TESCAN S8000系列扫描电镜的第一个新成员，这是一款超高分辨场双束FIB扫描电镜系统。搭载TESCAN最新研发的多项创新技术，S8000G可以提供无与伦比的图像质量，可完成复杂的纳米操作并保证极佳的精度和操作灵活性，满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。更多详情，请关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司” 关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。

2017年7月，TESCAN发布了一款FIB-SEM新品S8000G超高分辨双束FIB扫描电镜系统，S8000G是TESCAN S8000系列扫描电镜的第一个新成员，搭载了TESCAN最新研发的多项创新技术，可以提供无与伦比的图像质量、可完成复杂的纳米操作并保证极佳的精度和操作灵活性，能够满足现今工业研发和学术研究的所有需求。TESCAN FIB-SEM新品S8000G近日，TESCAN UK携新产品S8000G参加了在英国曼彻斯特开幕的MMC2017 (The Microscience Microscopy Congress 2017) 展览会，MMC展会由皇家显微学会和物理研究所的电子显微分析中心共同举办，可追溯到20世纪60年代，具有非常悠久的展览历史。此次S8000G在展览会上的首次亮相吸引了众多眼球，TESCAN的品牌和联用创新技术也引起了参会观众的极大兴趣。 TESCAN新品S8000G引起广泛关注TESCAN的研发和应用团队也出席了此次展览会，与参会观众热烈交流。同期，TESCAN官网的S8000G网页访问量和点击量都非常巨大，受到了全球各国的关注。TESCAN工程师与参会观众热烈交流S8000G超高分辨FIB-SEM系统主要特点：最新的BrightBeam™SEM镜筒，专利的70°静电-电磁物镜，使系统拥有更加出色的低电压分辨率无漏磁物镜，可以最大化的实现各种分析，包括磁性样品的分析等最新的探测器系统，可选择不同角度和不同能量收集信号电子，拥有更好的表面形貌灵敏度和对比度创新的 Orage™ Ga FIB镜筒，可适用于各类具有挑战性的纳米工程任务拥有绝佳的离子分辨率（可达2.5nm @ 30keV）以及SmartMill级别的高速切割能力，FIB束流最大可达100nA更多详情，请关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。

很久很久以前，其实就是上周五啦...，小编秀出了一把科研分析的利器——RISE拉曼-电镜一体化系统，还小举了一枚RISE在无机相鉴定中的应用（不知道的朋友阅读找出上一篇文章一看便知）。//“我的前半生”结束了，后面的科研之路就靠它了！//然在无机材料分析中，RISE还有一堆大招要放，请各位大侠接招。RISE大招之小小的金属夹杂分析虽然绝大部分金属试样并没有特征拉曼谱峰，但这并不意味着拉曼对金属的分析就毫无用处。相反，金属中的一些夹杂、污染物或者金属氧化物往往具备特征的拉曼信号。所以拉曼光谱在这个领域的分析也会起着特殊的作用。如下图，试样为不锈钢的裂纹区，在低倍下进行EDS面扫描分析，发现了有Si元素的富集区域。对Si富集区进行放大后进行EDS的元素分布和点扫分析，发现Si富集区域的EDS含量结果除了显示Si占主要外，还有少量的C、O、Fe等。此外，分析区域处在裂纹中，位置比周围略低，所以存在X射线的阴影区域，对元素含量分析的准确度也是大打折扣。所以仅仅根据EDS的分析结果，我们很难分析出有价值的信息。而且对EDS本身结果的不准确性，我们还要给出诸多解释说明。我们无法知道Si在其中究竟是以何种方式存在，是单质还是化合物，其他元素如C、O、Fe也不知道究竟以何种化合方式存在。而在RISE系统上可以在Si富集区进行过SEM-EDS分析后，再转移到拉曼光谱下，我们可以轻易的根据SEM图像或者SEM与EDSMapping的混合图像找到各个感兴区域，进行拉曼光谱的点分析。由于拉曼光谱光路垂直与试样表面，因此不存在阴影区，就是处于凹坑或者裂缝内部，依然可以进行光谱的检测。在Si富集区域的拉曼光谱显示出在784cm-1处有特征峰，该峰对应的是O-Si-O键的伸缩振动，而单晶硅的特征峰520.7cm-1却未出现，可见EDS分析到的只有Si的富集区域，其实是以氧化硅的形式存在。另外其他富含Fe、O元素的区域，在拉曼光谱中发现存在680cm-1和591cm-1的特征峰，其中680cm-1对应的是三聚氰胺和Fe3O4，显然这个样品不会存在三聚氰胺，而另一种形态的Fe2O3对应的特征为255cm-1却没有出现，因此Fe、O以Fe3O4的形式存在。此外，对于C富集区域，发现了非常宽的1352cm-1和1568cm-1的峰，由此确定其中的碳的石墨化衬度较低，大部分以非晶碳的形式存在。另外，还检测到784 cm-1和1449cm-1的峰，分别对应了-CH3的摇摆振动和-CH3的弯曲振动，由此可以推断样品表面存在一定有机污染。由此可见，即使在金属基材料中，以往被EDS所忽视或者难以解释的问题，在RISE系统下都可以通过原位的拉曼光谱数据，将试样分析的更加透彻！ 在无机材料分析中，除了小编上周枚举的RISE之无机相鉴定和本周RISE大大搞定的小小的金属夹杂分析，对于结构分析、结晶度分析、微量元素分析、取向分析、取向应用分析等，RISE大大还藏着很多本领呢。欲解更多，敬请关注TESCAN“RISE大招”系列！关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯。

七月热剧《我的前半生》结束了，除了跌宕起伏的剧情、热议的评论和弹幕，还留给了我们更多的思考和一碗随时可以干了的鸡汤：路要自己一步一步走，苦要自己一口一口吃，抽筋扒皮才能脱胎换骨。除此之外，没有捷径。而我的前半生一直在做科研或者在走向科研的路上，回顾那些日夜秉烛、独居实验室的科研岁月，你是否曾面临过这样的问题：好不容易用SEM、EDS设备拿到了样品的形貌和成分数据，想用EBSD做样品结构分析时，却有了测试限制和严苛的制样要求？有时候也需要做一些碳材料和有机试样研究，除了形貌观测，那台耗费了我无数科研经费采购的电镜却根本帮不到我？为了分析一个盲样，我用了多种仪器尝试了各种测试手段，但不同分析手段却没有办法精确定位到样品的同一位置，最后得到的电镜数据和其他仪器的测试数据总是脱节？其实，你的前半生那么辛苦，只是因为缺少了它——拉曼-电镜一体化系统RISE！拉曼光谱分析有别于通常的电镜分析，如EDS、EBSD等。我们发现，拉曼光谱可以非常好的进行碳材料、有机材料的化学结构解析，可以对物相进行鉴定，对同分异构的无机材料也可进行结构分析，还能进行结晶度、纯度、应力等性质进行解析。而这些正是传统电镜及附件的薄弱环境。鉴于传统扫描电镜分析能力较弱，且在很多领域的分析确实无能无力，又鉴于传统的拉曼联用实用性实在不高，而拉曼分析的重要性又不可或缺，所以科学研究需要一种全新的电镜-拉曼联用设备来决绝目前传统方案的不足，为此欧盟还设立了仪器专项来解决这个问题。而TESCAN则承接了这个项目，并和德国著名的拉曼厂商Witec积极合作，对电镜-拉曼联用进行全新的开发，于是RISE系统在2014年问世。RISE荣获2014年度分析科学家创新奖在问世的当年，RISE就获得了该年度的分析科学家创新奖，并被很多科学家点评为“材料研究的高科技工具”！紧接着在2015年，RISE又获得由国际光学工程学会(SPIE)举办的棱镜奖，这是光子学领域最著名的奖项。每一项新技术、新发明、新创新都需要历经商业市场严酷的考验，目前，TESCAN RISE系统已经获得了市场的极大认可，在国内多家重点科研单位投入使用，切实成为了科研分析的一把利器。       RISE荣获2015年棱镜奖(Prism Award)RISE是一款具有革命性的产品，它突破并解决了传统电镜-拉曼联用的种种问题，采用了电镜-拉曼光谱一体化的硬件和软件设计，使得联用成为非常简单的事情，将传统扫描电镜的功能进行了极大的拓展。下面，小编就小举一枚RISE在无机材料分析中的应用：RISE应用之无机相鉴定如下图，一种岩浆岩矿物，如果仅依靠EDS，只知道各个元素的分布位置，由于得不到严格的化学剂量比数据，因此给相鉴定带来一定的困扰。而在同一个区域再进行RISE的拉曼面分布分析，通过拉曼谱峰和数据中的谱峰进行比对和识别，再结合EDS的分布数据，则可以非常轻易的将岩石中的各个相准确的区分开，并得到各个相的分布。由此，RISE系统对常规的SEM-EDS进行了很好的补充分析。关于RISE的更多应用，后续小编会给大家做更多的分享，记得关注我们喔。前半生结束了，而余生呢，我们准备好了不断创新、拥抱变化，只为更出色的性能！你，准备好了吗？关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯

2017年7月14日~7月16日，2017年福建省(电子)显微学学术与技术讨论会在华侨大学（集美校区）举行，TESCAN中国应邀参加了此次学术与技术讨论会。2017年福建省（电子）显微学学术与技术讨论会此次会议旨在为福建省范围内从事电子显微学和激光共聚焦显微术等相关工作者等提供很好地交流平台，有来自全省包括企业在内的全大专院校、科研院所、医院和企业的教师、研究人员、医师、工程技术人员参加了此次会议。会议围绕着透射电镜、扫描电镜、微束分析、激光共聚焦显微镜等在材料、生物、医学、农林、化学化工、环境等科学领域中的应用研究方法和技术，材料样品、生物样品等制备的实验方法发展与改进等相关内容进行了研讨和交流。研讨会现场TESCAN中国市场部经理顾群在会议上介绍了TESCAN扫描电镜的技术创新和最新应用进展，特别是TESCAN “AllIn One”综合分析平台以及首创的电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）和双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统（TOF-SIMS）以及TESCAN最新发布的FIB新品S8000系列产品的特点和应用优势。TESCAN中国市场部经理顾群作大会报告会议期间，与会的专家和学者与TESCAN中国公司的工作人员积极互动，展开了热烈的交流。感谢这个平台和交流机会，TESCAN将持续提升个性化服务，为广大用户提供更全面、更专业的综合解决方案！会议掠影关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯。

近日，捷报连连，TESCAN拉曼光谱-扫描电镜一体化系统中标中国地质大学！这是在今年6月TESCAN拉曼-电镜一体化系统RISE中标中美核安保示范中心后，又一台TESCAN 一体化RISE系统落户中国。 TESCAN拉曼光谱-扫描电镜一体化系统RISE是世界上第一台集成共聚焦拉曼成像的扫描电子显微镜，它突破并解决了传统电镜-拉曼联用的种种问题，采用了电镜-拉曼光谱一体化的硬件和软件设计，使得联用变得更为简单，将传统扫描电镜的功能进行了极大的拓展。中国地质大学（China University of Geosciences），是一所以地球系统科学为主体，应用科学、前沿科学，以及新兴交叉学科协调发展的全国重点大学，系国家“211工程”、“985工程优势学科创新平台”重点建设院校，总部设在武汉。中国地质大学 中国地质大学是世界地球科学和资源环境领域重要的科研中心，在地质学、矿产资源能源、地质工程、地球物理、水文地质与环境地质等研究领域具有特色和优势，在相关领域进行最前沿的科学研究。最前沿的科学研究也就需要最前沿的科研分析利器，而此次中标中国地质大学的RISE一体化系统区别于常规分析系统，解决了传统分析方案的不足。能谱作为传统的电子显微分析手段，分析功能单一，只能进行元素成分分析，具有很大的分析局限性。而拉曼光谱可以非常好的进行碳材料、有机材料的化学结构解析，可以对物相进行鉴定，对同分异构的无机材料也可进行结构分析，还能进行结晶度、纯度、应力等性质进行解析，而这些正是传统电镜及附件的薄弱环节。但也并不是所有试样都适合拉曼光谱，绝大部分金属、碱金属卤素盐之类的物质就无拉曼信号，而这却又是能谱仪分析的长处。此次中标中国地质大学的TESCAN一体化定制系统结合了扫描电镜、能谱仪和拉曼光谱仪的所有分析优势，在其分析领域形成互补，组成了相对完备的测试系统。TESCAN拉曼光谱-扫描电镜一体化系统RISE MicroscopyTESCAN的拉曼光谱-扫描电镜一体化系统RISE能够中标中国地质大学，这正是TESCAN创新技术带来的应用革新的实用化证明，我们也将继续保持对于技术、应用和服务的不断创新和提升，为我们的用户提供更多、更专业的综合解决方案。关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。关注TESCAN中国官方微信“TESCAN公司”，更多精彩资讯。

TESCAN学院2017年度培训班计划更新啦，第四期上海应用中心线下培训班和第一期网络培训班正在火热报名中！为了更好地帮助TESCAN的电镜用户提高操作水平，TESCAN学院特开设了一系列的培训班，在这里我们有： 灵活的授课形式：您可以根据您的时间和实际需求，选择网络或线下培训课程；专业的培训老师：TESCAN学院的培训老师拥有非常专业的背景知识和丰富的电镜操作经验，可以根据您的具体需求为您调整相应授课课程。详细的培训教材：TESCAN学院的高级应用专家撰写出版的教材和详尽的演示PPT帮助您更好地掌握和巩固学习的知识。全面的实战演练：掌握了电镜相关的理论基础后，全面的上机实践课程迅速帮助您掌握操作技巧。完善的培训考核：参加培训班的学员需参加培训考核，考核通过的学员将取得TESCAN高级应用培训的证书。高阶化的应用课程如何针对不同的样品选择最佳的观测条件？ 如何充分利用操作软件的各种功能？ 如何让您的电镜保持最佳工作状态等？ 快来TESCAN学院找寻答案吧，2017年度培训班计划更新版如下： 线下培训计划 TESCAN中国上海应用中心培训安排 第一期（上海）4月24-26日 钨灯丝扫描电镜培训班（已结束） 第二期（上海）5月22-24日 钨灯丝扫描电镜培训班（已结束） 第三期（兰州）6月20-23日 场发射扫描电镜培训班（已结束） 第四期（上海）7月24-26日 钨灯丝扫描电镜培训班（报名中） 第五期（上海）9月21-23日 钨灯丝扫描电镜培训班（报名中） 第六期（待定）10月28-30日 场发射扫描电镜培训班（报名中） 第七期（待定）11月28-30日 钨灯丝扫描电镜培训班（报名中） 线上培训计划 TESCAN学院网络培训安排 第一期（网络）7月27-28日 钨灯丝扫描电镜培训班（报名中） 第二期（网络）8月31-9月1日 钨灯丝扫描电镜培训班（报名中） 温馨提示 1. 由TESCAN学院开办的培训班系列为高级应用培训班，报名学员要求是具备至少三个月以上实际操作经验的TESCAN电镜用户。 2. 为了保证培训质量，每期的培训名额有限，每位参加培训的学员都必须填写一份报名表，我们会根据您的报名表安排培训，针对具体情况培训安排可能会有所调整。 3. 如果您参加的是TESCAN上海应用中心的线下培训，在收到您的报名表后，我们会将培训邀请函和培训日程安排发送到您填写的邮箱中；如您报名参加的是网络培训，您会收到我们网络会议邀请和链接。 4. 2017年TESCAN高级应用培训班系列是为TESCAN用户提供的免费培训课程，无需缴纳任何培训费用，交通和食宿需学员自理。 关注TESCAN微信公众号点击公众号右下角培训报名即可快速报名，期待您的参加~ 关于TESCAN TESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。 更多精彩资讯，请关注TESCAN公众号： TESCAN显微平台：培训通知、服务支持、TESCAN学院 TESCAN公司：新闻资讯、产品一览、应用案例、维护保养

2017年7月4-7日，第24届国际集成电路物理与失效分析会议(IPFA2017)在四川成都富力丽思卡尔顿酒店隆重召开，TESCAN CHINA出席了此次盛会，并向与会专家和学者介绍了TESCAN在失效分析领域的最新技术成果和分析解决方案。IPFA2017国际会议是半导体集成电路、电子元器件、太阳能光伏产品失效分析物理机制及器件可靠性领域全球最高级别国际会议。本届大会邀请了来自中国、美国、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国的著名专家和学者作了大会报告和分会报告，并吸引了来自全球300多名业界代表参会。第24届国际集成电路物理与失效分析研讨会半导体行业的目标是更高集成度、更高密度和更微型逻辑器件的制造，然而，更复杂的集成电路需要更为复杂的研究和分析工具，而扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束(FIB)技术的结合解决了半导体行业在芯片设计及加工过程、加工效率等方面的疑难问题，在芯片电路修改、截面分析、透射样品制备、材料鉴定等方面被广泛应用，是半导体行业研究和分析的理想工具。TESCAN在FIB领域一直保持技术领先和创新，其首创的Xe等离子超高速双束FIB系统，离子束流高达2uA，溅射速率是传统Ga等离子源的50倍以上，在大尺寸材料去除，特别是TSV的半导体封装技术以及MEMS和TSVs的三维测量，缺陷和故障分析等方面是非常好的应用解决方案。TESCAN FIB-SEM系统在半导体行业中的应用此外，TESCAN “All In One” 的产品设计理念，使得TESCAN的任何系统在接入EDS、WDS、RAMAN、TOF-SIMS等更多分析附件和设备上有更好的兼容性和更优异的性能表现，为样品的进一步组合分析提供了很大的便利。尤其是随着半导体产业越来越小的加工尺寸，对失效分析的要求也越来越高，FIB与TOF-SIMS的联用开始受到半导体行业越多越多的关注。TESCAN是第一个将TOF-SIMS和自己的SEM/FIB成功集成在一起，创新成为一体化系统的电镜制造商，其双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统（TOF-SIMS）已经在地矿、核工业和生物等领域有成熟应用，在此次IPFA盛会上也受到了参会观众的广泛关注。IPFA2017会议TESCAN掠影关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。

听说你们都放假了，真的吗？隔壁的上交大、上海财经都是76天暑假；还有上海外国语、复旦、同济都是70多天（哭泣脸）...不过还好，依然有很多人跟我一样没有假期，哈哈...虽然没有假期，但诗还是要读的，这篇“假期电镜洗白白”攻略送给“我们”：万一，有高温假了呢~所以，长假期间要怎么安置扫描电镜才合适呢？对于普通的TESCAN钨灯丝扫描电镜（VEGA系列），我们可以正常关闭电镜，需要提醒您，一定要养成抽真空后再关闭电镜的好习惯，这样可以帮助您的电镜更好更长久的使用下去！TESCAN VEGA3钨灯丝扫描电镜那么场发射和FIB该怎么办呢？因为场发射和FIB在关机后，重新启动需要重新抽真空，做baking，启动灯丝和进行对中等过程，完成这些过程需要几天的时间，所以工程师一般建议用户保持场发射和FIB处于常开启的状态。长假期间一般都没有人管理设备，一直开着电镜，一旦断电，又没有人在现场的话，就会有故障的隐患，怎么办？您是不是也会有这样的担心呢？ 如果长假期间您都不使用电镜，建议您可以关闭场发射和FIB的电子枪，让设备处于“待机(standby)”状态，此时既不耗费灯丝，整台设备也将处于最小耗电状态。而且因为每台TESCAN的场发射和FIB都配置了IPCU单元，它可以保证即使在断电的状态下，也能保持整个电镜系统内部21天的真空状态，所以您只要让设备处于待机状态，就不需要担心断电！TESCAN 场发射扫描电镜和Ga离子FIB系列等回来上班后，您只要花费最多一个小时重启电子枪，就能够继续使用电镜了。不过，在这里要提醒您，如果您的假期比较长，而实验室又确实存在断电隐患的话，建议如果超过21天，最好彻底关闭仪器。现在我们说一下如何让TESCAN电镜进入待机状态，以及假期后如何从待机状态恢复到正常使用的步骤吧！ 一、如何进入待机状态：1、选择supervisor用户，密码由工程师在装机时提供给用户，以下步骤通用TESCAN所有场发射扫描电镜系列。 2、打开菜单项SEM → FEG高压控制 3、在“FEG高压电源控制”面板中点击“断电”按钮并确认！之后需要等待分离器，干扰抑制器，灯丝和电子束逐步关闭，这整个过程都是自动的，大约会持续10分钟左右，在关闭过程中请耐心等待，不要对电镜做任何其它操作。(P.S 因每台设备的软件版本以及场发射灯丝都有区别，显示的参数无需和3-1图中一致) 4、当“FEG高压电源控制”面板上所有数值都不再变化，“电子束”面板上发射电流和高压都显示已经关闭，此时电子枪已关闭。 5、关闭“FEG高压电源控制”面板，然后在右下角的“真空”面板上点击“待机”按钮并确认。 6、此时可以关闭显示器，提醒您可以在设备桌面上放上合适的提示牌，以避免他人误操作！ 二、假期后，如何将电镜恢复到正常使用状态： 7、点击“待机”按钮，取消“待机”状态。此时镜筒和样品室真空度不会如图7-1上显示的这么好，取消待机模式后，需要点击“抽真空“按钮，需要几分钟的时间让镜筒和样品室真空都抽到工作真空，三个进度条的颜色都为绿色时代表达到可操作真空，此时才能进行下一步操作。 8、再次打开“FEG高压电源控制”面板（如何打开该面板请见2-1图），点击“接通电源”并确认，等待约20~30分钟！当数值不再变化，且发射电流和高压数值都出现并稳定了（如图8-2），此时电子枪已开启。 9、将高压设置到常用的电压，开始正常使用。 如您有任何疑问，欢迎关注TESCAN显微平台或TESCAN公司微信公众号留言咨询 ? ? ?“假期电镜洗白白”攻略已奉上，还有一件高兴的事情要说...其实放假了，不过是换个地方吹风扇而已，而且是在家里遭嫌，出门没钱，每天特闲~我决定还是一心工作：上班开机制样用电镜画画片刻刻片刻刻调节下焦距寻找思索把她觅得大一点小小镜头下的美丽纤毫毕现关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。更多精彩资讯，请关注TESCAN公众号：TESCAN显微平台：培训通知、服务支持、TESCAN学院TESCAN公司：新闻资讯、产品一览、应用案例、维护保养

为了推动陕甘青宁新五省电镜技术更好、更快地发展，加强电子显微学的学术与技术交流， 2017年6月28日~6月30日，西北五省第九届电镜学术交流及技术研讨会在青海省青海大学隆重召开，TESCAN作为特约赞助商之一，应邀参加了此次学术交流及技术研讨会。本次会议由西北四省(甘青宁新)电子显微镜学会、陕西省电子显微镜学会主办，来自陕西、甘肃、青海、宁夏、新疆等五省的专家代表150余人参加了本次会议。大会由青海大学金培鹏教授主持，青海大学副校长李丽荣教授致欢迎辞，陕西省电镜学会理事长杨延清教授，西北四省（甘青宁新）电子显微镜学会理事长彭勇教授分别致辞。会议还邀请了来自各高校、研究院和业内电镜厂家的40多位著名专家和学者做了精彩报告。西北五省第九届电镜学术交流及技术研讨会此次会议对于西北五省电子显微学事业的发展具有重要意义，会议围绕电子显微领域新技术、新方法及相关仪器设备在材料科学、纳米科技、物理学、生命科学、化学化工、环境科学、地质学等领域的应用和研究成果展开了热烈的交流。TESCAN市场部经理顾群在本次大会上做了报告，向与会专家简单介绍了TESCAN的发展历史以及其在显微领域的技术创新，并重点介绍了TESCAN “All In One”综合分析平台以及国内首创的电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）和双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统（TOF-SIMS）。目前，TESCAN联用系统已在国内多家重点研究单位投入使用。参会人员合影关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。