2017年7月,TESCAN发布了一款FIB-SEM新品S8000G超高分辨双束FIB扫描电镜系统,S8000G是TESCAN S8000系列扫描电镜的第一个新成员,搭载了TESCAN最新研发的多项创新技术,可以提供无与伦比的图像质量、可完成复杂的纳米操作并保证极佳的精度和操作灵活性,能够满足现今工业研发和学术研究的所有需求。
TESCAN FIB-SEM新品S8000G
近日,TESCAN UK携新产品S8000G参加了在英国曼彻斯特开幕的MMC2017 (The Microscience Microscopy Congress 2017) 展览会,MMC展会由皇家显微学会和物理研究所的电子显微分析中心共同举办,可追溯到20世纪60年代,具有非常悠久的展览历史。此次S8000G在展览会上的首次亮相吸引了众多眼球,TESCAN的品牌和联用创新技术也引起了参会观众的极大兴趣。
TESCAN新品S8000G引起广泛关注
TESCAN的研发和应用团队也出席了此次展览会,与参会观众热烈交流。同期,TESCAN官网的S8000G网页访问量和点击量都非常巨大,受到了全球各国的关注。
TESCAN工程师与参会观众热烈交流
S8000G超高分辨FIB-SEM系统主要特点:
最新的BrightBeam™SEM镜筒,专利的70°静电-电磁物镜,使系统拥有更加出色的低电压分辨率
无漏磁物镜,可以最大化的实现各种分析,包括磁性样品的分析等
最新的探测器系统,可选择不同角度和不同能量收集信号电子,拥有更好的表面形貌灵敏度和对比度
创新的 Orage™ Ga FIB镜筒,可适用于各类具有挑战性的纳米工程任务
拥有绝佳的离子分辨率(可达2.5nm @ 30keV)以及SmartMill级别的高速切割能力,FIB束流最大可达100nA
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