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十月北京，TESCAN邀您相聚BCEIA
十月，TESCAN将携新一代双束(FIB-SEM)新品S8000系列及“All In One”显微综合分析技术亮相两年一届的北京分析测试盛会（BCEIA 2017）。新品闪耀，欢迎各位专家莅临参观！
由中国分析测试协会主办的北京分析测试学术报告会暨展览会（简称“BCEIA”），历经30年的培训和发展，已成功举办了十六届。现已成为国内分析测试领域专业化程度和知名度最高的盛会，在促进国际间的科学技术交流，推动我国分析测试科学和仪器制造技术的发展起到了重要作用。
作为科学仪器的供应商之一，TESCAN已进入扫描电子显微镜、聚焦离子束系统、多通道全息显微镜等市场，并首创了扫描电镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术等。凭借优异的性能，TESCAN赢得全世界越来越多的用户认可，目前TESCAN的产品和解决方案已经在全球微纳米技术领域取得了领先的地位，生产的各系列电镜在世界范围内受到广泛的好评。
本次展会，TESCAN将发布新一代双束(FIB-SEM)系统S8000G，并带来显微分析的综合解决方案，欢迎各位专家老师莅临TESCAN展台互相交流和学习。
展览会日期：2017年10月10日（星期二）~13日（星期五）
展览会地点：北京国家会议中心（北京市朝阳区天辰东路7号）
TESCAN 在 BCEIA 2017
展位号：E馆42109/42110（靠近E4出入口）
展位号：E馆42109/42110（靠近E4出入口）
新品秀丨TESCAN新一代双束 (FIB-SEM)系统
时间：2017年10月12日 11:00（展览区北侧二层展商秀场）
新品闪耀、礼品缤纷、咖啡茶歇Mini吧邀您共聚！ 届时莅临展台更有精美礼品赠送。
TESCAN热忱欢迎您莅临参观！
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