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布鲁克推出新尺寸XR系列扫描探针显微镜
描述了原子力显微镜技术在纳米尺度量化方面的重大进展
美国加利福尼亚州圣巴巴拉，布鲁克于当地时间2018年11月28日宣布推出Dimension XR™系列扫描探针显微镜(SPMs)。这些新系统包含主要的AFM创新，包括布鲁克专利独有的DataCube纳米电子模式，用于能源研究的AFM-SECM，以及新的AFM-nDMA模式，该模式首次将聚合物纳米力学与体动态力学机械分析(DMA)相关联。基于科学出版物中两种世界上最常用的AFM平台，Icon®和FastScan®，Dimension XR SPMs有三种配置，针对纳米力学，纳米电子和纳米电化学应用进行了优化。这些系统显着扩展了研究人员在空气，流体，电气和化学反应环境中量化纳米级材料特性的能力。
“新的Dimension XR系统是多年创新的结晶，提供定量和易用的纳米机械，纳米电子和纳米电化学表征，”布鲁克AFM业务执行副总裁兼总经理David V. Rossi阐述道。“我们的目标是让研究界广泛使用这些首要和唯一的功能，使其突破性AFM发现可以实现新的纳米级信息。”
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