核心参数
仪器种类: 傅立叶变换型
仪器类型: 实验室型
产地类别: 进口
波数范围: 900-3600cm-1
分辨率: 空间分辨率10nm, 光谱分辨率<1cm-1
扫描速度: 10s/spectra
信噪比: 200:1
2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s,在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能(s-SNOM)。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm,广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。
纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)
AFM-IR &s-SNOM
l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合,没有吸收峰的任何偏移
l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射,空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定
l 专利技术实现智能的光路优化调整,无需担心光路偏差拖延你的实验进度
l 最准确的定性微区化学表征,得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可
l 简单易用的操作,被三十多位企业用户和近百位学术界所选择
l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学,力学,电学和磁学测量:
l 纳米热分析模块(nanoTA, SThM)
l 洛仑兹接触共振模块(LCR)
l 导电原子力显微镜镜(CAFM)
l 开尔文电势显微镜(KPFM)
l 磁力显微镜(MFM)
l 静电力显微镜(EFM)
10纳米空间分辨率化学成像和光谱
石墨烯等离子体 高分辨率成像
石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像;优于10nm的光学成像
PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图(上图),和相应的近场光谱(下左图)。pNTP分子层的近场光谱(图下右)。
布鲁克红外光谱仪nanoIR3-s的工作原理介绍
红外光谱仪nanoIR3-s的使用方法?
布鲁克nanoIR3-s多少钱一台?
红外光谱仪nanoIR3-s可以检测什么?
红外光谱仪nanoIR3-s使用的注意事项?
布鲁克nanoIR3-s的说明书有吗?
布鲁克红外光谱仪nanoIR3-s的操作规程有吗?
布鲁克红外光谱仪nanoIR3-s报价含票含运吗?
布鲁克nanoIR3-s有现货吗?
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10纳米化学/光学成像解决方案——石墨烯
突破衍射极限,提供超高空间分辨率(10nm)的化学分析和光与物质相互作用成像检测方法,在高分子聚合物,生命科学,石墨烯等领域有广泛应用。
材料
2017/11/14
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s-SNOM 近场光学显微镜应用案例
散射式近场光学显微镜(s-SNOM)是一种先进的近场光学技术,使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射,从而获得更高的空间分辨率。s-SNOM广泛适用于无机物和有机物,用于表面等离子光子学,激子极化子,强电子光联材料,纳米天线,超结构等的研究。
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2017/11/13
AFM-IR纳米红外在半导体行业的应用
基于光热诱导的AFM-IR纳米红外技术,采用AFM探针作为探测器,检测材料在中红外光源触发下产生的热膨胀信号,进而获得纳米区域的红外光谱和红外成像。可检测微电子器件上的有机污染物,进行未知物成分鉴定。
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2017/11/13
AFM-IR纳米红外在高分子聚合物中的应用
基于光热诱导的AFM-IR纳米红外技术,采用AFM探针作为探测器,检测材料在中红外光源触发下产生的热膨胀信号,进而获得纳米区域的红外光谱和红外成像。广泛用于高分子材料,聚合物共混物,复合材料,异质结构,单分子层,纳米纤维等材料领域。
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2017/11/13
AFM-IR纳米红外在生命科学领域的应用
基于光热诱导的AFM-IR纳米红外技术,采用AFM探针作为探测器,检测材料在中红外光源触发下产生的热膨胀信号,进而获得纳米区域的红外光谱和红外成像,可适用于纤维淀粉样变性机理研究,细胞,细菌等生命科学研究领域。
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2017/11/13
企业名称
布鲁克(北京)科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(外国法人独资)
信用代码
91110108597700439M
成立日期
2012-07-16
注册资本
美元400万元
经营范围
技术服务、技术培训;批发仪器设备及零部件(不涉及国营贸易管理商品;涉及配额许可证商品的按国家有关规定办理申请手续),提供上述产品的售后服务,销售计算机、软件及辅助设备;佣金代理(拍卖除外);货物进出口、技术进出口、代理进出口;商务信息咨询;供应链管理;机械设备租赁(不含汽车租赁);企业管理;仓储服务.(市场主体依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事国家和本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
德国布鲁克纳米表面仪器部
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