2024/08/21 14:10
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inTEST 高低温冲击热流仪 ATS-710E
型号: inTEST ATS-710E
产地: 美国
品牌: inTEST- Temptronic
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方案详情:
存储器芯片是半导体存储产品的核心, 是电子系统中负责数据存储的核心硬件单元, 存储芯片在出厂时需要测试芯片在快速变温过程中的稳定性, 上海伯东美国 inTEST Temtronic 热流仪提供 -100°C 至 +300°C 快速温度冲击范围, 满足 Flash 及 DRAM 存储器的研发设计需求, 为存储芯片提供快速可靠的测试环境.
上海伯东存储器芯片高低温冲击测试案例
客户: 某知名存储芯片设计公司, 主要产品 Flash 及 DRAM 存储器
测试设备: inTEST ATS-710-M 搭配爱德万 Advantest 内存 IC 测试系统
测试目的: 研发中存储芯片的运作特性, 同时可用于失效芯片在不同温度下的快速故障诊断.
存储器芯片高低温测试方法: inTEST 热流仪温度区间设置为 125℃ 至 -55℃, 快速实现极端温度下闪存的运作特性, 如电压, 电流等. 闪存多采用 inTEST DUT mode 即 Device under test 模式来进行高低温循环测式, 将闪存与 inTEST ATS-710-M 使用 T type Thermocouple 相互连接, 如此即可精确掌控受测物达到机台所设定之温度. 闪存高低温测试方法同样适合内嵌式记忆体 eMMC 温度测试.
inTEST Temtronic ATS-710 热流仪技术参数
型号 | 温度范围 °C | 输出气流量 | 变温速率 | 温度 | 温度显示 | 温度 | 远程 |
ATS-710E | -75至+225 50Hz | 4 至18 scfm | -55至 +125°C 约 10 s | ±1℃ | ±0.1℃ | T型或 | IEEE 488 |
上海伯东是德国 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国Gel-pak 芯片包装盒, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 日本 NS 离子蚀刻机, 比利时 Stratasys 3D 打印机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机 和美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!
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上海伯东: 罗女士
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上海伯东 Europlasma 等离子设备用于OK镜表面处理
角膜塑形镜俗称OK镜, 角膜塑形镜采用透气性硬质角膜接触镜材料, 即通常所说的RGP材料制作的眼镜片, RGP是英文Rigid Gas Permeable的缩写, 即“透气性硬质材料”. 它是在不透气的硬质材料PMMA基础上发展起来的. 上海伯东Europlasma等离子表面处理设备在真空环境下对OK镜进行表面处理, 可以实现多种效果和改善.
材料
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2024/08/21
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2024/08/21