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核心参数
仪器种类： 原子力显微镜
产地类别： 进口
定位检测噪声： 635nm
样品尺寸： XY 轴扫描范围: 6, 20 或 24 bit, 5, 10,40, 100 μm
样品台移动范围： XY 轴扫描范围: 6, 20 或 24 bit, 5, 10,40, 100 μm
高性能原子力显微镜 hpAFM
上海伯东代理英国 NanoMagnetics 仪器高性能原子力显微镜 hpAFM, 在最短的时间获得的无可置疑的结果.
高性能原子力显微镜优势 hpAFM
多用户设计
操作简便
快速线性扫描
10 MP 光学镜头提供干净, 没有瑕疵的视角
自动对齐和调整
高性能原子力显微镜 hpAFM 系统功能
扫描
• XY 轴扫描范围: 6, 20 或 24 bit, 5, 10,40, 100 μm
• Z 轴扫描范围 16, 20 或 24 bit 2,4,6,8,12,15 μm
• 精度 0.01 nm
• 使用光学传感器对 Z 轴逐层进行线性扫描
• 真空样品架可以放 1" , 2" 和 3" 个样品
• 脱钩的 Z 向扫描
• 可以容纳最多达 500 克样品
高性能原子力显微镜 Z 轴电动平台
• 范围 50mm, 精度 250nm
XY 轴电动平台
• 范围 76 mm, 精度 50nm
AFM 模块
• RF 调制低噪声 635nm 激光器
• 25 fm√Hz (max.) noise floor
• <14 nm 探针
光学摄像
• 10MP CMOS camera
• Recording and imaging with color CMOS camera
• 光学变焦
• 0.7 μm 光学解析度
声音和振动隔离箱
• 声音, 隔热, 防震箱
• 大气控制隔热柜 (可选)
• 0.3 Hz 振动隔离台
• 可在 -30 °C 至 +350 °C 之间选择
高性能原子力显微镜标准模式
• 接触式 AFM
• 动态 AFM
• Laterol Force Microscope
• 相位成像 AFM
• 磁力显微镜 MFM
• F-d Curves and Spectroscopy 曲线和光谱
• 静电显微镜 EFM
• Non-contact AFM with 5 mHz Resolution Digital PLL
温度与扫描范围
原子力显微镜 (Atomic Force Microscope, AFM), 隶属于扫描探针显微镜 ( Scanning Probe Microscope, SPM ), 是一种具有原子级别高分辨, 高解像能力的科研仪器, 原子力显微镜可在真空, 气体或液体环境中操作, 适用于各种材料的表面检测, 形貌测量, 粗糙度分析及生医样品检测等. 与 STM 对比 AFM 原子力显微镜 可以观测非导电样品, 应用范围更广.
伯东企业（上海）有限公司
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上海市浦东新区新金桥路1888号36号楼7楼702室
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