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利用FT150进行无电解无电解镍镀层膜厚和磷成分分析

2016/05/16 17:00

阅读:87

分享:
应用领域:
电子/电气
发布时间:
2016/05/16
检测样品:
电子/电气
检测项目:
膜厚及磷成分分析
浏览次数:
87
下载次数:
参考标准:
GB/T16921-2005

方案摘要:

此份资料中,介绍了利用FT150同时测量铁上无电解镍和铜上无电解镍膜厚和磷含有量的案例。另外,也一同介绍了与FT9500X系列之间的比较。

产品配置单:

分析仪器

日立 FT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

型号: FT9500系列

产地: 日本

品牌: 日立

¥50万 - 100万

参考报价

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日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪

型号: FT150 FT150h FT150L

产地: 日本

品牌: 日立

¥50万 - 100万

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XRF85_使用FT150进行无电解镍镀层膜厚和磷成分分析.pdf
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