您好，欢迎访问仪器信息网
注册
搜全站
搜展位
北京英格海德分析技术有限公司

关注

已关注

金牌20年 金牌

已认证

粉丝量 0

400-860-5168转0702

仪器信息网认证电话，请放心拨打

全部分类
首页
产品中心
解决方案
资料中心
访客留言
联系方式
关于我们

公司简介

资质荣誉
当前位置： 北京英格海德 > 解决方案
解决方案
所属领域：
全部 医疗/卫生（1） 环保（1） 石油/化工（8） 建材/家具（1） 电子/电气（1） 烟草（1） 其他（4） 材料（1）
更多

利用XPS和二次离子质谱仪（SIMS）进行材料表面表征

应用领域

电子/电气

检测样品

其他

检测项目

表面表征
文章介绍了利用XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy）和SIMS（Secondary Ion Mass Spectrometry）进行多层材料的结构和组成分析。实验方法有很多值得广大材料研究者借鉴之处。

共1台

二次离子质谱探针

EQS

面议

查看更多配置单>>

北京英格海德分析技术有限公司

查看电话

沟通底价

提交后，商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价，选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式：

公司名称： 北京英格海德分析技术有限公司

公司地址： 北京海淀区四季青路八号，郦城工作区235室 联系人： 孙先生，郑先生 邮编： 100195 联系电话： 400-860-5168转0702

主营产品：

其它光谱仪 过程质谱/在线质谱 化学吸附仪、高压化学吸附仪 有机质谱仪(Organic-MASS)

友情链接：

英格海德分析技术有限公司

仪器信息网APP

展位手机站