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锂电池解决方案-观察、分析、制造
2020/05/29 08:17
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方案摘要：
产品配置单：
日本电子 JEOL 核磁共振谱仪JNM-ECZR
型号： JNM-ECZR
产地： 日本
品牌： 日本电子
¥260万
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日本电子 JEOL 冷场发射球差校正透射电镜 JEM-ARM200F NEO ARM
型号： JEM-ARM200F(C)-NEO ARM
产地： 日本
品牌： 日本电子
$600万
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日本电子 JEOL 氩离子截面抛光仪 IB-19530CP
型号： IB-19530CP
产地： 日本
品牌： 日本电子
$15万
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日本电子 JEOL 软X射线分光谱仪 SXES
型号： SXES
产地： 日本
品牌： 日本电子
$70万
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日本电子 JSM-IT800场发射扫描电子显微镜
型号： JSM-IT800
产地： 日本
品牌： 日本电子
¥640万
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方案详情：
锂电池材料从生产到检测、分析的整体思路，具有重要参考意义。
包括三方面：
1）微区表面形貌观察及分析
各种仪器的用途及实例解析：XRF/XPS/EPMA/AES/SEM/TEM/CP/FIB
2）化学分析
各种仪器的用途及实例解析：GC-MS/NMR
3）制造
各种仪器的用途及实例解析：电子束沉积/RF导入热等离子系统
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利用JEOL球差电镜的常规ADF/ABF探测器直接拍摄敏感材料
沸石、金属有机骨架（MOF）、共价有机骨架（COF）和有机-无机杂化钙钛矿材料，最近因其复杂的结构和赋予新功能的通用性而受到广泛关注。然而，这些精细结构在电子束（e-beam）辐射下容易损坏，这给它们的表征带来了很大的困难。 针对此类样品，上海科技大学（通讯单位）与日本电子株式会社联合报告了一种方法，使用常规ADF/ABF就可以在极低电子剂量下对电子束敏感晶体进行成像。该文以Improving Data Quality in Traditional Low-dose Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging为题发表在学术期刊?Particle & Particle Systems Characterization上。日本电子应用工程师王灵灵与上海科技大学蒋亦岚老师为共同第一作者，周毅老师与张青老师为共同通讯作者。
其他
2022/11/24
Direct imaging of hydrogen-atom columns by ABF
ABF技术是JEOL应用在球差校正电镜上的最新技术，与传统的STEM HAADF技术观察重原子相比，STEM ABF技术可以清晰看到轻原子位置，本文是一片应用ABF技术看一号元素H的好文章。
2013/04/28
公司名称： 捷欧路（北京）科贸有限公司
公司地址： 北京市海淀区中关村南三街6号中科资源大厦南二层 联系人： 袁先生 邮编： 100190 联系电话： 400-860-5877
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