核心参数
仪器种类: 场发射
分辨率: 53pm
加速电压: 最高300KV
放大倍率: 100X-2,000,000X
2020年02月14日,日本电子(JEOL Ltd.)总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRAND ARM™2),该电子显微镜将于2020年2月发布。
■ 主要特点
1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。
新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:
1)提高了能谱分析效率到两倍以上。
2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析能够在一定范围的加速电压下执行。
(保证的STEM分辨率:300kV时53pm,80kV时96pm)*
*在配置STEM扩展轨迹像差(ETA)校正器时
2 用于物镜的超宽极靴(WGP)能谱分析灵敏度超高,原位扩展极强。
1)WGP极靴的能谱固体角为2.2 sr。
2)WGP极靴宽度可达6mm,更方便进行各种类型的原位实验。
3 JEOL开发的12极子球差(Cs)校正器和自动校正软件。
1)FHP2极靴,GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到53 pm。
2)WGP极靴,GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到59 pm。
3)JEOL COSMO™(自动校正软件)使快速,轻松执行像差校正成为可能。
4 新式冷场发射枪(Cold-FEG)。
GRAND ARM™2配备了新式Cold-FEG,可从电子源提供较小的能量散布。稳定性更好。
5 减轻外部干扰的外壳
这种新外壳是减少外部干扰(例如气流,室内温度变化和噪音)的标准。
■ 主要规格
保证分辨率 | HAADF-STEM图像:53pm(带ETA校正器和FHP2) 电子枪:冷场发射枪(Cold-FEG) |
加速电压 | 标准:300kV和80kV |
能量色散X射线光谱仪 | 大面积SDD(158mm 2):可以使用双探测器 |
日本电子透射电镜JEM-ARM300F2的工作原理介绍
透射电镜JEM-ARM300F2的使用方法?
日本电子JEM-ARM300F2多少钱一台?
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利用JEOL球差电镜的常规ADF/ABF探测器直接拍摄敏感材料
沸石、金属有机骨架(MOF)、共价有机骨架(COF)和有机-无机杂化钙钛矿材料,最近因其复杂的结构和赋予新功能的通用性而受到广泛关注。然而,这些精细结构在电子束(e-beam)辐射下容易损坏,这给它们的表征带来了很大的困难。 针对此类样品,上海科技大学(通讯单位)与日本电子株式会社联合报告了一种方法,使用常规ADF/ABF就可以在极低电子剂量下对电子束敏感晶体进行成像。该文以Improving Data Quality in Traditional Low-dose Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging为题发表在学术期刊?Particle & Particle Systems Characterization上。日本电子应用工程师王灵灵与上海科技大学蒋亦岚老师为共同第一作者,周毅老师与张青老师为共同通讯作者。
其他
2022/11/24
企业名称
捷欧路(北京)科贸有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
11000450123098
成立日期
2010-01-05
注册资本
500
经营范围
捷欧路(北京)科贸有限公司
公司地址
北京市海淀区中关村南三街6号中科资源大厦南二层
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