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镀膜厚度测量
2016/01/08 16:41
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方案摘要：
产品配置单：
日本电子 JEOL 能量色散X射线荧光光谱仪 JSX-1000S
型号： JSX-1000S
产地： 日本
品牌： 日本电子
¥60万
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利用JEOL球差电镜的常规ADF/ABF探测器直接拍摄敏感材料
沸石、金属有机骨架（MOF）、共价有机骨架（COF）和有机-无机杂化钙钛矿材料，最近因其复杂的结构和赋予新功能的通用性而受到广泛关注。然而，这些精细结构在电子束（e-beam）辐射下容易损坏，这给它们的表征带来了很大的困难。 针对此类样品，上海科技大学（通讯单位）与日本电子株式会社联合报告了一种方法，使用常规ADF/ABF就可以在极低电子剂量下对电子束敏感晶体进行成像。该文以Improving Data Quality in Traditional Low-dose Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging为题发表在学术期刊?Particle & Particle Systems Characterization上。日本电子应用工程师王灵灵与上海科技大学蒋亦岚老师为共同第一作者，周毅老师与张青老师为共同通讯作者。
其他
2022/11/24
Direct imaging of hydrogen-atom columns by ABF
ABF技术是JEOL应用在球差校正电镜上的最新技术，与传统的STEM HAADF技术观察重原子相比，STEM ABF技术可以清晰看到轻原子位置，本文是一片应用ABF技术看一号元素H的好文章。
2013/04/28
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