自1988年在上海举办以来,SEMICON China已成为中国首要的半导体行业盛事之一,囊括当今世界上半导体制造领域主要的设备及材料厂商。可以说,SEMICON China见证了中国半导体制造业茁壮成长,加速发展的历史。
本届SEMICON China于3月14日在上海开幕,HORIBA也前来参加这一盛会,力求在追求高效率的半导体行业中,为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具,并提供解决方案。
HORIBA作为有着近200年光学、光谱经验的老品牌,非常注重行业间合作,以推动不同领域的科研技术发展以及成果转化,譬如:HORIBA的辉光放电光谱技术就可用于半导体材料中镀层的深度剖析;椭圆偏振光谱技术可用于薄膜厚度、光学常数表征及工艺对镀层的影响分析;拉曼光谱技术可用于半导体芯片缺陷分析诊断等。
本次盛会,HORIBA专设展台,与科研专家及厂商面对面交流。如果您有任何疑惑或需求,欢迎光临我们的展台,HORIBA的销售和技术人员会给您提供专业的建议及解决方案。
附展会详细信息如下:
展出时间:2018年3月14日-16日
展出地点:上海新国际博览中心
HORIBA展位号:N2馆 No.2601
HORIBA科学仪器事业部
结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术,HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如:光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
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