如何实现SEM,纳米尺度下深入解析材料电学和化学特性?
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耦合CLUE 系列光谱仪,轻松升级SEM阴发光、光致发光和拉曼光谱功能
接口保留扫描电镜的原始配置
快速获得阴发光成像及光谱
低检出限用于微量、杂质和缺陷分析
全光CL探测器,直接由亮度/对比度触摸板控制,
可升级至全谱
全新增强型LabSpec 6软件用于光谱和成像
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HORIBA科学仪器事业部
结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术,HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如:光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
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