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HORIBA | 半导体领域研究——沾污、膜厚、超晶格结构等信息，老司机这里有4招儿
半导体在电视、智能设备、显示屏等方面有着广泛的应用。那么我们该如何识别半导体沾污、获得应力表征、膜厚分析、超晶格结构、晶体管、介电材料等信息呢？
10月30日，4大讲师深度剖析
如何利用光谱技术
分析半导体材料？
只要准备电脑和网络，即可参与
孙正飞
研究方向：光学光谱、荧光等
负责光学光谱仪的应用支持，光学背景深厚。可根据用户实际需求提供优异灵活的的光谱测试方案，包括光致发光、拉曼、荧光、透射/反射/吸收等。
文豪博士
研究方向：椭圆偏振光谱
毕业于上海硅酸盐研究所，擅长光谱椭偏建模、薄膜分析，长期为用户提供椭偏技术培训等工作。
武艳红
研究方向：辉光、荧光等
辉光放电光谱仪和荧光光谱仪的技术支持，长期从事样品测试及用户培训工作，经验丰富。可根据客户需求提供合适的仪器配置及解决方案。
鲁逸林博士
研究方向：SPRi、拉曼等
从事拉曼光谱、AFM和表面等离子共振成像的技术支持，负责样品分析、数据解析、应用方案设计、用户培训等，在材料、生物、锂电池等领域积累了丰富的经验。
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结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术，HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如：光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
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公司名称： HORIBA （中国）
公司地址： 上海市天山西路1068号联强国际广场A栋1层D单元 联系人： 陆小姐 邮编： 200335 联系电话： 400-860-3611
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