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UVISEL ER性能优异，为先进的薄膜和器件测量提供广泛的技术支持，同时高度集成的DeltaPsi2软件平台为一系列的科学研究和工业生产应用提供完整的数据获取和分析软件包。
UVISEL光谱型椭偏仪的模块化设计使得可采用几种不同的配置，以测量Muller矩阵中的元素和偏振率。
详细指标参数可访问
技术参数：
*190nm到2100nm范围内分析测量薄膜厚度和光学常数
*单层膜和多层膜结构
*各种材料：半导体、绝缘体、聚合物、金属、玻璃、塑料
*更多的材料属性
- 组分
- 多孔性
- 渐变光学常数
- 各向异性结构、单轴和双轴薄膜
- 二维和三维的薄膜
主要特点：
UVISEL ER的高度灵活性使之适用于一系列的应用：
*材料研究
*显示器件
*半导体
*光学镀膜
*化学和生物工程设计
*动态过程研究
更多
charactrization of chalcogenide glass
采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪对chalcogenide glass样品进行分析，研究其相应光学性质。
石油/化工
2004/08/02
企业名称
HORIBA （中国）
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(外国法人独资)
信用代码
91310115765992179P
成立日期
2004-08-26
注册资本
美元1180.0000万
经营范围
副量仪器、临家检验分析仪器及相美零备件、设新试制的批发销售、朝金代理(推卖除外),以及上述产品的维售。技术咨询等其他相关配套业务;上述货物及技术的进出口业务;(专及配转许可证管理,专项规定管营的商品技理国家有关规定办理);国际贸品、转口贸易、区内企业间的贸昌及区内置易代理区内京学中品工及餐品咨询服务区内商品展承;区内以各种副企仪器以及园疗器械为主的产品的仓储、办教业务及相美产品的维修,技术咨询,售品服务;制设仪器设备的经营性租赁;企业管理咨询,商务信息咨询;财务管理咨询;计算机系统集成、开发。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
HORIBA （中国）
公司地址
上海市天山西路1068号联强国际广场A栋1层D单元
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