布鲁克于analytica上发布FT-IR、XRF两款新品

Bruker

2018/04/10 23:39

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　　仪器信息网讯 2018年4月10日，两年一度的德国analytica展会在慕尼黑开幕。借此盛会，布鲁克宣布推出INVENIO™傅立叶变换红外(FT-IR)研究光谱仪、CTX™X射线荧光(XRF)元素分析仪两款新品。

INVENIO傅立叶变换红外(FT-IR)研究光谱仪

　　INVENIO 是布鲁克VERTEX 70全波长高端红外光谱仪的后继产品，许多创新技术可与成熟的Vertex 70技术相结合。如独特的Rocksolid™干涉仪和FM技术，可同时进行中远红外光谱分析;新的MultiTect™技术允许控制多达五个内部检测器，覆盖从远红外到紫外可见光谱的范围;DigiTect™探测器插槽则可为多种探测器提供更丰富的灵活性;智能INVENIO光束路径进一步提高了光通量和光谱灵敏度等。

　　除了性能和灵活性之外，INVENIO的一个主要目标是简化研究用户的工作流程。集成式触摸面板可为研发应用程序提供直观的配置设置和工作流程，系统也可切换至笔记本电脑操作。 Transit™通道可以轻松进行透射测量，无需从样品室中取出实验。

　　与其他研究FT-IR相比，INVENIO还设计了带电磁安装的电子编码光束窗口、自动内部衰减器轮和用于标准和客户特定滤波器的8位验证轮。

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CTX™X射线荧光(XRF)元素分析仪

　　新型CTX采用4W X射线源，采用布鲁克专利的SharpBeam™优化X射线几何结构，高性能硅漂移探测器(SDD)以及DetectorShield™防扎检测功能，可实现Wi-Fi，蓝牙与USB连接，其触摸屏用户界面还可提供测量控制和结果显示。此外，布鲁克的Toolbox PC软件可实现CTX的全面远程操作，可选PC软件包括Bruker的Artax™，用于高级定性、半定量成分分析，以及用于用户定义的经验关联的EasyCal™。

　　CTX有多种配置，可针对不同行业和应用进行优化，如矿物和采矿、食品安全和农业、制药原料、贵金属、聚合物和船用燃油分析。它专门设计用于需要在杯子或袋子中进行样品制备和/或样品制备的应用，以及需要测量时间仅需几秒钟的小样品。

　　便携式台式XRF(CTX)重量不足7公斤，宽度仅为14厘米。虽然CTX主要设计用于移动和现场实验室，但它也非常适合中央实验室和工厂车间进行快速预筛选或常规分析，以及作为大型XRF或ICP / AA系统的备份。