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ICP-MS 纳米颗粒分析的安捷伦全面解决方案
2018/08/05 22:28
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方案摘要：
方案详情：
前言
工程制造的纳米颗粒在提高半导体材料到食品、药品、化妆品以及消费品等各类产品的性能或性质方面的使用正在迅速增加。由于这些材料的理化性质较为新颖，它们的许多环境归宿和毒理学性质仍然不为人知。因此，人们对一种能够快速、准确而灵敏地完成各种类型样品中纳米颗粒表征与定量的技术的需求也日益增长。通过近期实现的一些针对特定应用的硬件和软件增强功能，ICP-MS 已证明能够满足这些要求。
• 高灵敏度 ― 小颗粒的信号强度随直径的立方而降低
• 低背景可改善小粒径的检测
• 时间分辨模式中的快速扫描，扫描间的稳定时间降至最短
• 即使在快速扫描模式下也可有效去除多原子干扰
• 管理复杂计算和超大数据集的专用软件
安捷伦全套解决方案
纳米颗粒的分析要求随纳米颗粒类型、样品基质以及所需信息类型的不同而变化。不存在能够适用于所有纳米颗粒应用的单一方法。为此，安捷伦推出了一系列灵活的解决方案，支持从对含不同尺寸和类型纳米颗粒的样品进行批量表征的 FFF-ICP-MS，到能够测定溶液中单个纳米颗粒尺寸、质量和组成的高速单颗粒模式的全套方案。安捷伦 ICP-MS MassHunter 软件中简单易用的单纳米颗粒应用模块将所有这些功能结合在了一起。
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