2018/07/10 15:00
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Agilent 8900 ICP-MS/MS
型号: 8900
产地: 美国
品牌: 安捷伦
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前言
在多种用于无机分析的仪器中,四极杆 ICP-MS (ICP-QMS) 是一种灵敏度极高且应用范围极广的分析工具。灵敏度接近每秒 10 亿次计数/ppm (1 G cps/ppm),背景信号通常小于 1 cps。其最新型号对元素周期表中的大多数元素都能达到 ppq (ng/L) 级检测限 (DL)。对于质量高于 80 amu 的元素,易于实现其最低检测限;而由于多原子干扰造成的质谱重叠,一些质量较轻的元素处于痕量水平时难以被测量到。ICP-QMS 可以利用低温等离子体和碰撞/反应池等方法来解决这一背景干扰的问题,已在许多应用中取得了成功。
最近,串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 的问世显著提高了反应池方法的可靠性和性能,采用双质量过滤器 (MS/MS)控制反应池中的化学反应。现在,分析人员能够通过可控的有效方式解决多种元素的干扰问题。
安捷伦推出第二代 ICP-MS/MS 仪器 Agilent 8900 串联四极杆 ICP-MS,进一步改进了 MS/MS 模式下的反应池运行。本简报描述了采用 8900 ICP-MS/MS 对一些 ICP-MS 难以分析的元素:磷 (P)、硫 (S)、硅 (Si) 和氯 (Cl) 的分析性能。这些元素的第一电离势相对较高,这会降低电离度,从而削弱分析物的信号。此外,等离子体、溶剂和基质的多原子离子的干扰会导致背景信号升高,使低含量的分析测定更加困难。随着 ICP-MS 技术的发展,同时测量高纯化学品和材料内的难测元素与常规元素的需求和期望日益增长。本文展示了对四种元素相关干扰进行控制的详细方法,包括 P、S、Si 和 Cl 在超纯水 (UPW) 中的背景等效浓度 (BEC) 和检测限,以及 P、S 和 Si 在最高纯度过氧化氢(H2O2) 中的检测限。
结论
Agilent 8900 ICP-MS/MS 采用 O2 和 H2 池气体 的 MS/MS 模式分析,成功解决了超纯水中非金属杂质 P、S、Si 和 Cl 以及 H2O2 中非金属杂质 P、S 和 Si 的光谱干扰问题。该分析结果体现了第二代 ICP-MS/MS 对挑战性元素的超强分析性能,实现了超纯水中四种元素分析截至目前报道过的最低 BEC。
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