手持式X荧光光谱仪(RoHS有害元素筛选)

牛津仪器推出了新款手持式 X 射线荧光光谱仪，可满足有害元素筛选的要求。
（RoHS/WEEE/ELV/无铅/高可靠性系统/包装材料）

牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式 X 射线荧光光谱仪 (XRF) — X-MET7000，该仪器能够对在电子电气设备中限制使用的有害物质进行高精度、高可靠性的鉴定。牛津仪器的手持式 X 射线荧光光谱仪誉满全球，X-MET7000 是其第五代产品。

这款拥有牛津仪器 PentaFET® 专利探测器技术的仪器，保证了用户对所有感兴趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素检测下限。

X-MET7000可以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器件提供快速、无损、“对准即测”的筛选分析。

RoHS等指令限制电子和电气产品中铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴联苯醚（溴的化合物）的含量。这些指令要求对所有电子设备中使用的材料和零部件进行检测，这对电子产品制造厂商和全球供应链产生了很大的影响。X-MET7000采用IEC 62321标准中所规定的测试方法，能够非常便捷有效地筛选样品中的相关受限物质的含量是否能够满足RoHS指令的相关要求。

航空、医学、军事等属于这些指令的豁免行业，用X-MET7000可以确保其产品部件中含有足够量的铅，特别是在镀层和焊接件中足够的铅含量能够保证产品的安全性和可靠性。X-MET7000还可以在数秒内分拣出塑料制品中的聚氯乙烯、溴或锑的含量，以符合废旧电子和电气设备回收（WEEE）指令的要求。

其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果，从而提高了“合格/不合格”决定的可靠性。X-MET7000 能够识别材料类型，并自动选择最佳分析方法。

借助于其可选配的台式支架，可免除执行多分析任务时的手工操作，同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响。

能够对在电子电气设备中限制使用的有害物质进行高精度、高可靠性的鉴定。拥有牛津仪器 PentaFET® 专利探测器技术的仪器，保证了用户对所有感兴趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素检测下限。可以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器件提供快速、无损、“对准即测”的筛选分析。