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运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量。应用于：
-有害元素痕量分析
-焊料合金成分分析和镀层厚度测量
-电子产品中金和钯镀层的厚度测量
-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
-贵金属合金分析和牌号鉴定
技术参数：
请见样本
主要特点：
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
-25平方毫米PIN探测器
-100瓦X射线管
-多准直器配置
-扫描分析及元素分布成像功能
-灵活运用多种分析模型
-清晰显示样品合格/不合格
-超大样品舱
-同时分析元素含量和镀层厚度
企业名称
牛津仪器科技（上海）有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
310000400824735
成立日期
2017-03-29
注册资本
50
经营范围
精密仪器和设备的技术开发、技术服务、技术转让和技术咨询,精密仪器和设备的批发、进出口,佣金代理(拍卖除外),并提供维修服务和相关配套服务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
牛津仪器科技（上海）有限公司
公司地址
上海市徐汇区虹漕路461号虹钦园60号楼1楼
客服电话
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