您好,欢迎访问仪器信息网
注册
珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

关注

已关注

品牌合作伙伴
钻石22年 钻石

已认证

粉丝量 0

科学仪器行业领军企业科学仪器行业售后服务十佳企业

400-860-0650

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: PerkinElmer > 解决方案 > Avio 200 ICP-OES 微波制样方案满足危害性物质限制(RoHS)指令要求

Avio 200 ICP-OES 微波制样方案满足危害性物质限制(RoHS)指令要求

2019/02/14 11:34

阅读:396

分享:
应用领域:
电子/电气
发布时间:
2019/02/14
检测样品:
电子元器件产品
检测项目:
镉,铬,铅,汞
浏览次数:
396
下载次数:
参考标准:

方案摘要:

为了解决废弃电子产品中的有毒金属污染问题,危害性物质限(RoHS)指令规定了镉、六价铬、汞和铅在每种电子设备中允许存在的最高含量。为了达到RoHS 指令要求,最简单也最高效的方法是使用微波消解制样,并使用全谱直读等离子体发射光谱仪(ICP-OES)进行分析。尽管ICP-OES 不连接液相色谱仪无法区别元素的不同形态,但是它能够测量铬的总含量,以确定其是否超过规定水平。如果超过限值,则可以进一步制样,并采用其他技术手段分析样品。 本文将重点关注如何使用ICP-OES 分析电子产品中的多种样品类型,以确保符合RoHS 指令要求,以及制样注意事项。

产品配置单:

前处理设备

微波消解系统PerkinElmer Titan MPS

型号: Titan MPS

产地: 美国

品牌: 珀金埃尔默

面议

参考报价

联系电话

分析仪器

电感耦合等离子体发射光谱仪Avio 200

型号: Avio 200

产地: 新加坡

品牌: 珀金埃尔默

面议

参考报价

联系电话

方案详情:

鉴于RoHS 指令涵盖的样品类型繁多,一一评估是不可能完成的。因此,我们选取具有代表性的若干种样品类型进行分析:塑料、导线绝缘层、焊料、电线和一块电路板,除焊料是全新的以外,所有样品均取自废弃的电子产品。所有样品均置于PerkinElmer Titan MPS™ 微波制样系统中消解。所有分析工作都是使用PerkinElmer Avio™ 200 ICP发射光谱仪(轴向模式)完成的。

由于RoHS 指令规定的浓度值对于Avio 200 的检测能力来讲可以轻松实现,因此可以使用更短的自动积分时间,在不影响准确度的情况下提高分析速度和样品处理量。Avio 独特FlatPlate™ 平板等离子体技术确保所有分析都是在仅需消耗8 L/min 氩气的条件下进行的。再加上

样品分析效率的提高,能够最大限度降低氩用量。

为了证明校准曲线的准确度,在读取完校准曲线后,直接对含量为RoHS 水平十分之一(溶液中)的标样进行分析。表1 显示了回收率,说明在低含量和高含量下,都能够获得准确结果。

微信图片_20190214113408.png

表1. 低含量和高含量标样回收率

本文证明Titan MPS 微波制样系统和Avio 200 ICP-OES搭配能够快速、准确测量RoHS 指令涵盖的多种类型样品中的元素含量。只要正确选择酸液,使用单一TitanMPS 程序,即可消解多种不同类型样品,最大限度简化RoHS 指令涵盖的多种类型样品的制样工艺。预消解加标

回收率证明在制样程序中,待测元素并未出现明显的流失和污染。

下载本篇解决方案:

资料文件名:
资料大小
下载
Avio200ICP-OES满足危害性物质限制(RoHS)指令要求AppNote012880_CHN_01.pdf
5320KB
相关仪器

更多

相关方案

HS-GCMS对聚醚多元醇中的氯氟烃和氢氯氟烃的测定分析

本文采用配有 PerkinElmer的TurboMatrix HS-40顶空自动进样器和Clarus 680-SQ8气相色谱-质谱联用仪对聚醚多元醇基体中的三氯氟甲烷(CFC-11)、二氟一氯甲烷(HCFC-22)和二氯一氟乙烷(HCFC-141b)进行了研究。文中给出了研究中所用的仪器方法参数,详细结果证明,该方法具有较好的精密度、线性度、灵敏度和回收率。

环保

2020/07/16

使用NexION 2000 ICP-MS 按照ICH Q3D 和USP <232>/<233>的规定检测和验证药用抗酸剂中的1 级和2A 级元素杂质

美国药典(USP) 宣布药品中元素杂质的新标准将于2018 年1月1日实施。通则<232> 和<2232> 基于给药途径规定了关注元素的列表及其允许的日接触(PDE)限值。此次标准更新使USP在关注元素杂质列表和PDE 方面与人用药品注册技术要求国际协调会(ICH)Q3D 第4 阶段文件相匹配。2016 年6月FDA发布了药品中涵盖ICH Q3D 的元素杂质的指导原则。随着元素杂质评估和监控期限的临近,制药厂商及其服务实验室必须立即开始执行新的法规,否则将承担违规风险。合规性要求分析方法应能准确地检测药品或(如有必要)其成分中较低的元素杂质含量,以确保患者的安全。USP 通则<232>概述了测定制成药品中元素杂质的两种分析方法:电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)或电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES),以及相关的样品制备步骤。ICP-MS 的高性能最适合在低浓度水平下对1级元素进行常规性测定,尤其是日摄入剂量较大(>10g/ 天)的药品。在此类药品和营养品中,抗酸剂由于具有极高的钙含量,给分析造成了极大的挑战。本文旨在展示如何正确地制备样品、适当地考量各种仪器设计因素,就能轻松地克服这项挑战。在本文中, 我们展示了利用珀金埃尔默公司最新NexION® 2000 ICP-MS,依照USP 通则<233> 的规定,对抗酸剂中1级和2A级元素杂质进行验证的数据

制药/生物制药

2017/06/29

使用NexION 2000 ICP-MS 按照ICH Q3D 和USP <232>/<233>的规定检测和验证药用抗酸剂中的1 级和2A 级元素杂质Co

美国药典(USP) 宣布药品中元素杂质的新标准将于2018 年1月1日实施。通则<232> 和<2232> 基于给药途径规定了关注元素的列表及其允许的日接触(PDE)限值。此次标准更新使USP在关注元素杂质列表和PDE 方面与人用药品注册技术要求国际协调会(ICH)Q3D 第4 阶段文件相匹配。2016 年6月FDA发布了药品中涵盖ICH Q3D 的元素杂质的指导原则。随着元素杂质评估和监控期限的临近,制药厂商及其服务实验室必须立即开始执行新的法规,否则将承担违规风险。合规性要求分析方法应能准确地检测药品或(如有必要)其成分中较低的元素杂质含量,以确保患者的安全。USP 通则<232>概述了测定制成药品中元素杂质的两种分析方法:电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)或电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES),以及相关的样品制备步骤。ICP-MS 的高性能最适合在低浓度水平下对1级元素进行常规性测定,尤其是日摄入剂量较大(>10g/ 天)的药品。在此类药品和营养品中,抗酸剂由于具有极高的钙含量,给分析造成了极大的挑战。本文旨在展示如何正确地制备样品、适当地考量各种仪器设计因素,就能轻松地克服这项挑战。在本文中, 我们展示了利用珀金埃尔默公司最新NexION® 2000 ICP-MS,依照USP 通则<233> 的规定,对抗酸剂中1级和2A级元素杂质进行验证的数据

制药/生物制药

2017/12/03

使用NexION 2000 ICP-MS 按照ICH Q3D 和USP <232>/<233>的规定检测和验证药用抗酸剂中的1 级和2A 级元素杂质Hg

美国药典(USP) 宣布药品中元素杂质的新标准将于2018 年1月1日实施。通则<232> 和<2232> 基于给药途径规定了关注元素的列表及其允许的日接触(PDE)限值。此次标准更新使USP在关注元素杂质列表和PDE 方面与人用药品注册技术要求国际协调会(ICH)Q3D 第4 阶段文件相匹配。2016 年6月FDA发布了药品中涵盖ICH Q3D 的元素杂质的指导原则。随着元素杂质评估和监控期限的临近,制药厂商及其服务实验室必须立即开始执行新的法规,否则将承担违规风险。合规性要求分析方法应能准确地检测药品或(如有必要)其成分中较低的元素杂质含量,以确保患者的安全。USP 通则<232>概述了测定制成药品中元素杂质的两种分析方法:电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)或电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES),以及相关的样品制备步骤。ICP-MS 的高性能最适合在低浓度水平下对1级元素进行常规性测定,尤其是日摄入剂量较大(>10g/ 天)的药品。在此类药品和营养品中,抗酸剂由于具有极高的钙含量,给分析造成了极大的挑战。本文旨在展示如何正确地制备样品、适当地考量各种仪器设计因素,就能轻松地克服这项挑战。在本文中, 我们展示了利用珀金埃尔默公司最新NexION® 2000 ICP-MS,依照USP 通则<233> 的规定,对抗酸剂中1级和2A级元素杂质进行验证的数据

制药/生物制药

2017/12/03

推荐产品
供应产品

珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式:

公司名称: 珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

公司地址: 上海张江高科技园区张衡路1670号 联系人: NA 邮编: 201203 联系电话: 400-860-0650

仪器信息网APP

展位手机站