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痕量分析 TXRF 光谱仪
TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U。
需要样品量少,液体及悬浮物样品1-50微升,粉末样品10微克以内。
便携式全反射荧光仪,设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场进行分析。
1位及25位全自动进样器两款设计,分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。
第四代XFlash®SDD硅漂移探测器,采用帕尔贴冷却技术,不需要液氮,没有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。
由于全反射无背景,荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好,用户不需要标样就可以进行定量分析。
行业应用:
水、废水、土壤中的污染元素;血液、尿液、组织中的有毒元素;食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 一次安装使用培训,不限次数应用培训
免费仪器保养: 基本仪器使用保养指导并现场服务
保内维修承诺: 所有服务及配件(人为损坏及消耗品除外)全部免费
报修承诺: 24小时内电话指导,48小时内现场服务
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